XRD장비를 이용한 시료의 집합조직 분석

소개글

XRD의 원리 및 이를 이용한 집합조직 분석법에 대해 조사.

목차

❏ 실험 예비 문제
XRD의 원리 및 이를 이용한 집합조직 분석법에 대해 조사.
- X선 회절 (X-Ray Diffraction)
- X선 회절 분석기 (X-Ray Diffractometer, XRD)를 이용한 집합조직 분석법 (Texture Analysis)
<X선 회절 분석기 (X-Ray Diffractometer, XRD)>
① X선 발생장치
② 고니오메터 (Goniometer)

본문내용

실험 예비 문제
XRD의 원리 및 이를 이용한 집합조직 분석법에 대해 조사.
- X선 회절 (X-Ray Diffraction)
일반적으로 파가 장애물에 충돌했을 때 입자의 충돌과는 달리 장애물의 그늘 부근에도 파가 생긴다. 이것이 파의 회절이다. X선은 전파나 빛과 마찬가지로 전자기적인 파이며 물질에 충돌할 때 역시 회절이 생긴다.
회절은 모든 방향으로 일어나지만 간섭에 의하여 일정한 패턴을 갖게 되며 이것을 분석할 때 물질의 특성과 성질 등을 알아낼 수 있다. 간섭은 보강과 상쇄가 있는데 만일 파장의 위상이 동일한 경우, 보강간섭을 일으켜 더욱 큰 파장이 되며, 위상이 반대일 경우 상쇄간섭을 일으켜 파장이 사라지게 된다. 이러한 간섭 현상은 물질의 입자의 배열과 결정 등에 의하여 변화되므로 물질의 특성을 알아낼 수 있는 좋은 도구가 된다.
X선이 발견되기 전에 이미 빛의 회절은 잘 알려져 있었으며, 만일 결정이 일정한 간격으로 규칙적인 배열을 한 원자로 되어 있고, 또 X선이


집합조직 분석(Texture analysis)은 시편을 구성하는 결정의 생성 분포를 파악하는 회절 기술이다. 다양한 종류의 금속 및 세라믹 등 고분자 결정체의 고체 재료에서 결정 생성은 가령, 이상적인 분말 시편과 같이 일반적으로 임의로 분포되어 있지 않다. 대부분의 경우 시편의 참고 프레임과 관련한 결정체에서 우선방위가 있다. 재료 과학에서는 이를 texture라 지칭한다. 조직에 대한 정보는 분석할 재료의 기계적, 물리적 또는 화학적 특성을 이해하는 데 중요한 요소이다.

참고 자료

없음