SEM TEM XRD

소개글

SEM TEM XRD

목차

T.E.M. (Transmission electron microscope) .
S.E.M. (Scanning electron microscope) .
T.E.M.과 S.E.M. 비교 .
X선 회절 분석기(X-Ray Diffractometer, XRD)

본문내용

T.E.M. (Transmission electron microscope) .

투과전자현미경 (transmission electron microscope)은 1930년 독일에서 처음 발명되었으며 주로 시료의 내부구조나 단면을 관찰하는데 쓰이고 있습니다.

TEM의 원리는 광학현미경과 비슷합니다.
전자현미경에서의 광원은 높은 진공 상태(1x10-4 이상)에서 고속으로 가속되는 전자선으로 이 전자선이 표본을 투과하여 형광판이나 사진필름에 초점을 맞추어 투사됩니다. 이 전자의 파장은 가속전압에 따라 다르며 흔히 사용되는 전압(100 KV)에서의 전자파장은 0.004nm 로 전자현미경의 이론적 분해능(해상력)은 약 0.001nm이나 생물학적 표본에서 사용되는 분해능은 약 0.2nm(side entry), 0.14nm(top entry)입니다. (참고로 1nm는 10억 분의 1m입니다)
전자현미경은 확대율과 해상력이 뛰어나 광학현미경으로 관찰할 수 없는 세포 및 조직의 미세한 구조를 관찰할 수 있으며, 단백질과 같은 거대분자보다 더 작은 구조도 볼 수 있다.

참고 자료

없음