[고급물리학 실험] SPM과 MODE

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목차

SPM(Scanning Probe Microscope 주사프로브 현미경)
1. STM(scanning tunneling microscopy 주사터널현미경)
2. AFM(Atomic Force Microscope 원자간 력 현미경, 원자 힘 현미경)

※ MODE
① tapping mode(태핑모드)
② contact mode(접촉모드)
③ noncontact mode(비접촉모드)

본문내용

SPM(Scanning Probe Microscope 주사프로브 현미경)
프로브를 사용하여 표면상의 아주 작은 범위의 물리적, 전기적, 자기적 특성 등을 이해할 수 있는 즉, 고체 표면의 원자와 분자를 관찰하는 현미경이다. SPM은 전자현미경에 비해서 수직 방향의 분해능이 높아 고체 표면의 개개의 원자나 분자를 관찰 할 수 있는 것이다.
대표적으로는 주사터널현미경(STM)과 원자 힘 현미경(AFM)등이 있다. 관측 장치로서의 SPM은 유조 인터페이스를 포함하여 성숙 단계에 이르고 있으며, 실험실에서 누구나가 사용할 수 있는 광학 현미경처럼 사용되고 있다. 가공장치로서의 SPM은 나노 크기 재료와 디바이스의 플로트 타입 작제의 매우 유효한 도구라는 것이 널리 인정되고 있다.

참고 자료

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