유리

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목차

Ⅰ.실험 목표
Ⅱ.실험 방법
Ⅲ.이론적 배경
Ⅳ.결과 & 고찰

본문내용

1.정의
X-선을 시편에 투과시켜 성형체나 소결체의 내부결함이나 원자들간의 배열과 상호 거리를 알아내는 방법인데, 일반적인 방법은 시편의 약 1 cm2 넓이와 약 5 mm 두께까지의 조사가 가능하다. 모양이 복잡한 재료의 어떤 부분을 조사할 때는 초점이 0.05 mm 정도로 미세하게 맞추어진 X-선을 사용하는 것이 효과적인데, 결함과 매트릭스의 밀도차이가 큰 경우, 50 ㎛ 정도의 작은 결함도 찾아낼 수 있다. 예로서, Si3N4에 포함된 WC 입자, Fe 입자, 100 ㎛ 정도의 기공 등은 찾아내기 쉬우나 Si 입자는 좀 어려운 편이다.

2 X-선의 선택
X-선 회절계에서는 X-선 관에서 나온 X-선이 결정 위에 쪼여지는데, 이 결정은 회전할 수 있는 장치 위에 놓여 있어서 그 회전각을 이 장치의 눈금으로 읽어낼 수 있게 되어 있다. 결정을 회전시키면 각 세트의 원자면으로부터 산란되어 나오는 보강 빛살을 검출기로 들어가게 할 수 있다. 이 검출기는 기체 이온화 함, 섬광 계수기나 Geiger 계수기로 되어 있으며 여러 회전 각도에서의 응답을 기록하여 여러 theta 값에서의 피크 무늬를 기록할 수 있다. 이와 같이 측정한 theta 값으로부터 Bragg 식을 이용하여 원자면 사이의 간격을 계산할 수 있다.

참고 자료

없음