광학 현미경의 종류

목차

-원자 힘 현미경 (AFM: Atomic Force Microscope)의 원리와 장단점
-AFM 응용 사례
-CSLM의 원리
-CSLM의 장점
-CSLM의 응용 사례
-DIC의 장점

본문내용

-원자 힘 현미경 (AFM: Atomic Force Microscope)의 원리와 장단점
지렛대(cantilever) 끝에 달려 있는 뾰족한 시침(tip)과 표본의 상호 작용으로 인해 지렛대가 후게 되고 그 휘는 정도를 레이저 빛의 굴절을 통해 재는 워리를 이용해서 만든 현미경이다. 작동 원리를 크게 세가지로 나눌 수 있는데 contact, non-contact 그리고 tapping 모드가 있다. contact 모드에서는 시침이 항상 표면을 긁기 때문에 안정된 고해상도 이미지를 얻을 수 있는 반면 시침과 시료사이의 상호 작용이 크기 때문에 생 분자들을 상하게 하거나 표면에서 떼어내기도 한다. tapping 모드에서는 지렛대가 방아를 찧듯이 크게 위 아래로 진동을 하고 표면과의 작용을 통해 그 진동 폭이나 위상이 변하는 것을 기록한다. 이 모드 역시 시료와의 접촉이 가능하므로 여전히 contact 모드에 가까운 해상도를 얻을 수 있으나 contact 모드와는 달리 시료의 표면에 평평한 방향으로의 상호작용을 최대한 줄임으로써 생 분자의 훼손을 막을 수 있다.

참고 자료

없음