X선_회절_분석

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XRD의 기본원리 및 설명.

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XRD
< V. X-선 회절 분석 >
1. 실험목적 X線回折 (B.D. CULLITY 著) Page 3, 재료측정 기본원리 Page 15
X-선은 독일의 물리학자인 Rntgen에 의하여 1895년에 발견되었으며 그 당시 성질을 몰랐기 때문에 X-선이라고 이름을 지었다. X-선의 회절 현상을 이해하기 전부터 의사들이 이용하기 시작하였으며, 또한 그 후 불투명한 물체의 내부구조를 연구하기 위하여 기술자들이 투과사진법으로 이용하였다. X-선 회절은 물질의 미세구조를 연구하는 연장이다. 1912년 Von Laue 가 결정은 X-선을 회절하며 그 회절 하는 양상에 따라서 결정의 구조를 알아낼 수 있다는 것을 발견하였다. 그 후 다른 용법도 발견되어 현재는 구조 결정분야 뿐만 아니라 화학분석, 응력측정문제, 상태의 연구, 결정립도의 측정, 결정방위의 결정, 다결정집합체의 방향등 전체적인 관찰에도 이용하게 되었다. X-선은 빛과 성질이 똑같은 전자기 방사선으로 파장은 대략 0.01~100범위이지만 X-선 회절에 이용되고 있는 X-선의 파장은 0.5~2.5정도이며 파동성과 입자성의 이중성을 나타낸다. 본 실험에서는 이러한 X-선의 특성을 이용하여 미지 결정질 고체 시료의 상분석, 고상반응에 따른 화합물의 형성 반응 등에 관해 연구 한다
Wilhlem Conrad Roentgen
X선(X-Rays)으로 처음 촬영한 뢴트겐 부인의 손 사진
2. 원 리
(1) X-선 발생 원리
X-선은 충분한 에너지를 가진 荷電(charged)된 입자가 갑자기 정지될 때 생성된다. 이러한 목적에 보통 荷電된 전자를 사용한다. X-선은 전자의 공급원과 2개의 금속전극을 가지는 X-선관(X-ray tube) 속에서 만들어진다.
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참고 자료

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