[마이크로프로세서실험] ADC 예비보고서

소개글

1. 예비조사 및 실험 내용의 이해

1.1 ADC(Analog to Digital Converter) or ATD
➀ ADC의 정의 및 원리
➁ ADC의 종류
➂ Sampling & Resolution
➃ HCS 12 ATD module의 특성 (Data Sheet 번역)
& ATDCTL 레지스터


1.2 IR Sensor
➀ IR Sensor
➁ IR Sensor의 원리와 종류

목차

1. 예비조사 및 실험 내용의 이해

1.1 ADC(Analog to Digital Converter) or ATD
➀ ADC의 정의 및 원리
➁ ADC의 종류
➂ Sampling & Resolution
➃ HCS 12 ATD module의 특성 (Data Sheet 번역)
& ATDCTL 레지스터


1.2 IR Sensor
➀ IR Sensor
➁ IR Sensor의 원리와 종류

본문내용

1) 계수비교형 ADC
내부에서 D/A Converter로 발생시킨 전압이 아날로그 입력보다 커질 때까지 비교하는 방식이다. D/A Converter의 출력을 만들기 위한 계수기를 사용한다. 이 계수기는 변환을 시작할 때 Reset되고 각 Clock이 사이클마다 1씩 증가하는 구조를 갖는다. 비교기는 D/A Converter의 출력이 아날로그 입력 전압을 초과하는 순간 계수기의 동작을 정지시키며, 이 마지막의 계수값이 디지털로 변환된 출력값이 된다. 회로가 비교적 단순하지만 변환시간이 길고 입력 신호의 크기에 따라 달라지는 단점을 가진다. 입력 신호가 full scale이면 변환시간이 길어져서 Clock 주기가 필요하게 된다.


2) 축차비교형 ADC(Successive approximation ADC)
축차비교형 ADC는 SAR(Successive Approximation Register)을 사용하여 최상위 비트로부터 순서대로 하위 비트 쪽으로 수정하여 가는 방법으로 DAC의 출력을 훨씬 빨리 아날로그 입력 전압에 근사시킨다. 비교적 변환시간이 빠르고 회로도 간단하여 현재 저가형이면서 분해능이 비교적 높은 범용 A/D Converter에 가장 널리 사용되고 있다. 변환 중에 아날로그 입력 전압이 일정하게 유지되어야 하므로 샘플/홀드가 반드시 필요하다.

참고 자료

없음