전자전기컴퓨터설계실험1 3주차 Prelab Function Generator & Ocsilloscope

목차

1. Introduction
2. Materials & Methods
3. Supposed Data and Results of this Lab

본문내용

1) Purpose of this Lab
회로, 부품, 장치 등의 특성을 검사하기 위한 신호원으로써의 Function Generator와 함수발생기로부터 발생하는 파형을 시각적으로 나타내어 분석하는 Oscilloscope의 사용방법을 숙지하고 Device Under Test(DUT) 즉, 피시험 장치에 사용되는 RLC 및 Diode에 대하여 알아본다.

2) Essential background for this Lab
? Function Generator와 Oscilloscope의 구조와 역할 및 DUT

Function generator는 회로, 부품, 장치 등의 특성을 검사하기 위해 낮은 레벨의 다양한 교류(정현파, 삼각파, 구형파) 파형을 Signal Source로 만들어 주는 역할을 한다. 함수발생기와 연결되어 있는 Oscilloscope는 함수발생기로부터 발생되는 파형을 시각적으로 나타내어 관측을 용이하게 하는 역할을 한다. DUT는 회로 상에서 피관측되는 Device로써 RLC 및 Diode가 여기에 이용된다.

함수발생기, 오실로스코프 그리고 DUT로 이루어진 회로를 살펴보면 함수발생기와 오실로스코프의 내부저항이 있음을 알 수 있다. 함수발생기의 내부저항은 0Ω이 이상적이지만 0Ω으로 설정된다면 함수를 발생할 때 Control 능력이 저하되기 때문에 가장 적합한 저항값은 50Ω이다. 반대로 오실로스코프의 내부저항을 살펴보면 Probe의 이상적인 저항값은 Infinite값을 가져야 한다. 하지만 실제로 무한대의 값을 갖는 저항이 없으므로 DUT보다 상대적으로 큰 저항을 쓰게 되어 있다. DUT란 함수발생기와 오실로스코프를 통해 특성을 검사하려는 대상 즉, 피시험 장치이다. DUT의 저항값은 함수발생기의 내부저항보다 크고 오실로스코프의 내부저항보다 작아야 한다.

참고 자료

http://cheucheu.tistory.com/33 함수발생기와 오실로스코프의 용도와 기능
http://kin.naver.com/qna/detail.nhn?d1id=11&dirId=1118&docId=56800364&qb=7ZWo7IiY67Cc7IOd6riwIOyCrOyaqeyLnCDso7zsnZjsgqztla0=&enc=utf8&section=kin&rank=1&search_sort=0&spq=0&pid=RR7HD35Y7u8ssbENLDZsssssstV-005114&sid=UUL5l3JvLC8AAGmcNnk 함수발생기 사용 시 주의사항(High-Z ↔ Low-Z)
http://tvpot.daum.net/v/oZi55L8ydHc$ 오실로스코프 Probe 사용 시 주의사항 영상
http://www.hrd.go.kr/EL/contents/084/05/ch05_05.htm 정현파 교류의 의미와 특징
http://blog.naver.com/duswhd612?Redirect=Log&logNo=80150123044 파형의 종류에 따른 평균값과 실효값