X선 회절법의 정의, X선 회절법의 방법, X선 회절 실험의 특징, X선 회절계의 일반적 구조

목차

Ⅰ. 처 음

Ⅱ. 중 간
1. X-선 회절법의 정의
① 라우에법
② 회전결정법
④ 디바이-셰러법
2. X-선 회절의 방법
3. X-선 회절실험의 특징
4. X-선 회절계의 일반적 구조
1) X-선 발생장치(GENERATOR)
2) 고니오미터(GONIOMETER) : 광학계와 기계부품 및 구동부품으로 구성
3) 검출기와 계수기록회로(Electronic circuit panel)

Ⅲ. 끝

Ⅳ. 참고자료

본문내용

1. X-선 회절법의 정의
단색 엑스선의 회절 각을 바꾸면서 회절선의 강도를 측정하여 물질의 원자 구조를 검사하는 방법.

2. X-선 회절의 방법
① 라우에법 : 결정 박판에 연속 파장 분포인 X선(연속 X선)을 통과시켜서 배후에 놓인 사진 필름 위에 많은 라우에 점무늬로 된 라우에
② 회전결정법 : 어떤 결정축 주위에 작은결정을 회전시키면서 여기에 단색 X선을 비추어 사진필름 위에 한꺼번에 많은 브래그 반사를 기록하는

3. X-선 회절실험의 특징
① 시료에 대한 제한이 적고, 시료를 파괴함이 없이 측정가능하고 측정시간은 수십분 정도이다. 시료는 금속, 합금, 무기화합물, 암석광물, 유기화합물, 폴리머, 생체재료 등 무엇이든 가능하고, 결정질 및 비정질재료 모두 측정

참고 자료

http://www.hani.co.kr/arti/society/schooling
http://kin.naver.com/qna/detail.nhn?d1id=13&dirId
http://www.scienceall.com/dictionary/dictionary.sca