AFM으로 표면거칠기 측정 레포트

목차

1. introduction
2. the process
3. procedure
4. result and discussion
5. conclusion
6. references

본문내용

1. introduction : AFM과, surface profilometer를 이용하여 시료의 표면 평균거칠기를 구해보고 이해를 한다.

2. the process
material : 표준물질, 반사시트, 표면처리된 sample(ZnO(zincoxide)가 표면처리된)
machinery :AFM(Atomic Force Microscope. XE-100), surface profilometer(ET-3000i)
- operating conditions
AFM은 저번 실험의 SEM고 KEKFFL 대기중에서도 측정이 가능하여 진공을 만들 필요가 없다. 그리고 SEM과 달리 시료에 도전성 코팅과 같은 처리가 불필요하여, 도체뿐만 아니라 절연성 물질도 측정이 가능하다. 그래서 별다른 조건 없이 AFM을 작동시키고 측정을 하면 된다.

3. procedure
1. AFM과 연결된 컴퓨터를 킨다.(프로그램 작동)
2. AFM장치에 시료를 놓는다.
3. AFM을 작동시켜 표면을 관찰한다.
4. 프로그램에 나타난 DATA를 보고 평균거칠기를 알아낸다.

참고 자료

http://nanotechnology.unlv.edu/tbe346.htm-surface profilometer 사진
http://blog.daum.net/chomu-AFM 사진
http://blog.naver.com/nurian/50016528765-AFM 자료
실험실의 surface profilometer기기 위에 있는 surface profilometer자료
http://bmkim49.egloos.com/m/10386233-Ra 설명