X선결정학 보고서-질량흡수계수 측정 신소재공학과

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목차

1. 이론
2. 실험방법
3. 실험조건
4. 실험결과
5. 고찰

본문내용

1. 이론
XRD 장비를 이용하여 알루미늄의 질량흡수계수를 측정하는 실험을 진행한다. X－선이 어떤 형태의 물질과 만나면 일부는 투과하고 일부는 흡수한다. X-선이 균일한 물질을 통과할 때 강도의 감소 부분은 물질을 가로지른 거리 x 에 비례하게 되는데,  미분식으로 -dI/I = μdx이고, 비례상수 μ는 선형흡수계수이다. 위의 식을 적분하게 되면, Ix=I0e-μx이고, 여기서 I0는 입사 X-선의 강도이고, Ix는 두께 x를 통과한 뒤 X선의 강도이다. 여기서 선형흡수계수 μ를 밀도 ρ로 나눈값을 질량흡수계수라고 하고, 이를 이용하여 식을 정리하면 Ix=I0e-(μ/ρ)ρx 의 형태로 다시 정리할 수 있다.

2. 실험방법
- Si 시편을 XRD 장치에 장착한다.
- 2θ범위, Increment, Scan speed 등 조건을 설정한다. Al의 질량흡수계수의 측정이 목표이므로 2θ범위는 실리콘의 (111)면의 Peak만 확인 할 수 있도록 Peak 근처 범위로 설정한다.
- Si 시편을 측정한다.

참고 자료

없음