[고분자블렌드] 시료의 Morphology를 관찰할 수 있는 방법들

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목차

1. 간단 요약

2. 서론 ; 방법 제시

3. 본론 ; 방법 설명
① 광학 현미경 (OM, Optical Microscopy)
② 투과 전자 현미경 (TEM, Transmission Electron Microscopy)
③ 주사 전자 현미경 (SEM, Scanning Electron Microscopy)
④ 원자력 현미경 (AFM, Atomic Force Microscopy)

4, 결론

5. 참고 문헌

본문내용

1. 간단 요약

두 시료가 상분리 되었을 때 Morphology를 관측할 수 있는 방법으로는 직접적 방법인 광학 현미경(OM, Optical Microscopy), 투과 전자 현미경(TEM, Transmission Electron Microscopy), 주사 전자 현미경(SEM, Scanning Electron Microscopy), 원자력 현미경(AFM, Atomic Force Microscopy)이 있다.

2. 서론 ; 방법 제시

Miscibility를 확인하는 방법으로는 크게 간접적 방법과 직접적 방법으로 나누어진다. 간접적 방법은 유리전이온도를 측정하여 고분자가 상분리가 되었는지 상이 혼합되었는지를 확인하는 방법으로, 유변학적 방법, 열분석법, 유전율 측정법 등이 있다. 직접적인 방법은 현미경을 통하여 직접 Morphology(형태학)를 시각적으로 확인하는 방법으로, 광학 현미경, 투과 전자 현미경 등이 있다. 간접적인 방법은 유리전이온도를 측정하여 대표적인 값을 측정할 수 있다. 하지만, 직접적인 방법은 즉각적으로 Morphology를 볼 수 있어 정확도가 높지만 간접적인 방법보다는 resolution이 좋지 않기 때문에 관찰 면적이 좁아서 특정 위치의 값을 관찰할 수 있다. 즉, 측정한 면적에 대해서는 정확하지만 전체 시료의 면적을 대표할 수는 없다는 것이다. 그래서 보통 간접적 방법(시료 전체에 대한 대표적인 값을 측정)과 직접적인 방법(특정 위치의 값을 측정)을 병행하여 진행을 한다.

본 과제의 주제를 살펴보자면, 두 시료가 상분리가 되었을 때 Morphology를 관찰하는 방법에 대하여 제시를 하는 것이므로 이는 간접적 방법이 아닌 직접적 방법을 통하여 관찰을 진행해야 한다. 만약 상분리가 되었는지 안 되었는지에 대하여 제시되어 있지 않았다면 두 방법을 모두 사용하여야 한다. 이는 위에서 언급했듯이 직접적인 방법은 어떠한 일부분만 측정을 하는 것이므로 부분에 따라 다른 결과를 가질 수 있기 때문이다.

참고 자료

Fig.3 투과전자현미경(TEM, Transmission Electron Microscopy) : 한국뇌연구원, 투과전자
현미경 교육, https://www.kbri.re.kr/new/pages/sub/0746_view.html?no=21880
Fig.5 주사 전자 현미경(SEM, Scanning Electron Microscopy) : PILETA, 보유장비,
http://www.pileta.co.kr/%EB%B3%B4%EC%9C%A0%EC%9E%A5%EB%B9%84/2191406
Fig.6 Sputter 장비 : HITACHI, Ion Sputter MC1000
https://www.hitachi-hightech.com/kr/product_detail/?pn=em-mc1000&version=ko
Fig.7 원자력현미경(AFM, Atomic Force Microscopy) : ELIM Global, 제품소개,
http://elim-global.com/bbs/board.php?bo_table=m2&wr_id=229#null