[x선회절] TIB2의 X선회절분석

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목차

1.목적
2.기구
3.이론
4.실험방법
5.시편 TIB2의 기본 특성
6.실험결과
7.비고및 고찰
8.참고문헌

본문내용

1. 실험목적
― x-ray(Diffractometer)를 이용하여 시편의 피크를 측정하여, 그 물질이 무엇이며, 또한 측정한 시편의 피크 값을 해석하고 그 시편의 정밀도와 오차를 수정하는 과정의 이해를 그 목적으로 한다.

※ 참고
X선 회절장치(X-Ray Diffractometer, XRD)
: X선 회절장치(X-Ray Diffractometer, XRD)는 시료의 상태에 따라서 분말법용과 단결정용으로 분류할 수 있다. 전자의 경우는 Debye-Scherrer Camera, 후자의 경우는 Weissenberg Camera, 단결정 자동 X선 회절장치(X-Ray Diffractometer, XRD) 등이 있다. 또, X선 회절장치(X-Ray Diffractometer, XRD)는 X선(X-Rays)의 검출 방법에 따라서, Film을 사용하는 사진법에 의한 것과 Counter(검출기)를 이용하는 Counter법에 의한 것으로 분류할 수 있다. 전자는 Debye-Scherrer Camera(Powder Camera), Laue Camera, 후자는 Diffractometer 가 있다. Counter에 의해 자동기록방식을 이용한 X선 회절계(X-Ray Diffractometer, XRD)를 디프랙토메타(Diffractometer)라고 하며, 주로 분말법용으로 이용한다.

참고 자료

∙재료과학
∙회선회절
∙X-선회절요론
∙X-ray diffraction procedures: for polyverystalline and orphous materials
∙empas인터넷검색 TiB2