[공학]XRD

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목차

정의
분말조사법원리
X-Ray Diffractometer (XRD)

본문내용

정의
X선을 조사시켜 나타나는 회절패턴을 이미알고있는 회절패턴과 비교하여 그 성분을 알아낸다

분말상태의 결정 또는 다결정체를 시료화하여 X선회절을 얻는것을 분말법이라한다

시료의 조성분석, 결정입자의 상태 또는 집합상태의 연구에 사용된다
분말조사법원리 1
X선을 조사시키면 시료중의 결정입자의 면간격d의 격자면이 입자x선(Incident X-Rays)에 대해 Bragg식 2d sinθ=n λ을 만족하는 각도θ만큼 기울어져 있으면 입사X선은 격자면에 의해서 회절된다. 이때 회절선(Diffracted X-Rays)의 방향은 격자면과의 각도θ, 입사 x선과의 각도2θ만큼 기울지게 된다

분말조사법원리 2
시료중에 결정입자의 수가 많아서 격자면이 무작위로 있어도 어느 시료의 격자면에 의해 회절조건에 만족하는 각도를 격자면이 존재한다.
위에 그림은 이런 조건에 따라 분말에 의한 회절X선(Diffracted X-Rays)은 중심각이 다른 여러개의 원추형을 형성한다

X-Ray Diffractometer (XRD)
계수관을 앞의 두번째 그림의 AA` 에서 주사(Scan) 시켜서 각각의 Debye ring의 X선 강도를 측정하여 기록하는 장치
격자면 간격 d는 측정값 2θ로 부터 Bragg식 2d sin θ= n λ 를 사용하여 구할 수 있다.



Bragg의 법칙
2dsin Θ=nλ
λ : X-선의 파장
Θ : 입사각
d : 평행한 면들 사이의 수직거리
n : 반사의 차수

참고 자료

없음