광펄스시험기(광섬유시험기) 동작원리

소개글

광펄스시험기(광섬유시험기)의 동작원리에 대한 설명임
입사된 광원은 망의 종단 부분에서 1%정도가 반사되어 입사단으로 되돌아온다
이때 광통신망 전체에 걸친 정보(손실, 이득, 분기, 접속, 총구간손실)를 가지고 돌아오며 광펄스시험기는 되돌아온 신호를 분석하여 그래프로 표시해 주는 장치이다.

목차

1. 광펄스시험기
2. 광펄스시험기 요구조건

본문내용

광 펄스 시험기의 기본 구성은 [그림 6-3-2]와 같다. 펄스 변조된 LD의 광출력이 광방향성 결합기를 통하여 피측정 광섬유에 입사되어 광 펄스가 진행하지만 광섬유의 각 점에서는 레일리 산란에 의해 광펄스 일부가 진행방향과 반대로 되돌아온다.
이것을 후방 산란 광(back scattering light)이라 하며, 이 후방 산란 광에는 레일리 산란(Rayleigh scattering light)과 프레넬 반사광이 있다. 후방산란광이란 어떤 물질내를 광이 진행할 때 그 물질의 미소한 굴절율의 차이로 발생하는 광의 산란을 말하고, 또 광원과 피측정 광섬유의 커넥터에 공기 층의 존재로 프레넬 반사광(Fresnel reflection light)이 발생한다.

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이 후방산란광을 방향성결합기를 통해 분리 추출하여 APD 등과 증배작용이 있는 광검출기로 전기 신호로 변환하여 증폭시킨 다음 평균화 처리를 행해 고 정확도로 데이터를 처리를 하여 디스플레이(CRT나 LCD 등)에 나타낸다.
이 후방 산란광은 광섬유손실과 비례하고 있으므로 디스플레이 상에 파형의 관측을 행함으로서 손실 특성을 측정할 수 있으며 파단 점(break point)에서의 반사광에 있는 프레넬 반사광을 APD로 수광하여 전기변환 시킴으로서 파단 점을 측정할 수 있다.

나. 반사광

① 프레넬 반사광
광섬유의 파단점(break point)의 단면에서 반사하는 광으로 파단점의 단면 [그림 6-3-4]와 같이 되어 있는 경우에는 단면에서 반사된 광이 광섬유를 다시 지나서 광원측에 되돌아간다. 그러나 파단면의 상태가 나쁜 경우에는 프레넬 반사광은 방사모드로 되어 광섬유를 따라 반사되지 않는 경우도 있다. 또한 파단점이 광섬유의 코어와 같은 굴절율의 매질로 덮여 있으면 프레넬 반사가 발생하지 않는다.

참고 자료

광통신망 표준공법