현미경 SEM, TEM 비교

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현미경은 작은 시료의 영상을 얻기 위해 이용되는 기본적인 방법이다. 분별력은 두 인접 대상물 사이의 거리를 최소로 접근 시켰을때 그 영상이 정확하고 명확하게 유지되는지를 나타내는 것으로서 이용하는 빛의 파장과 동일한 자리수 값을 갖는다. 따라서 가시광선을 이용하는 재래식 현미경은 마이크로미터 영역에서는 사용할 수 없다. 그래서 나노미터 크기의 대상을 파악하는데 이용되는 것이 전자현미경으로서 일반현미경의 램프대신 전자살을 이용한다. 그리고 유리나 석영으로 만든 렌즈 대신에 자기장을 이용해서 전자살을 집속시킨다.

전자현미경에서는 높은 진공상태에서 전자는 음으로 하전되고 가열된 음극 필라멘트(cathod)를 떨어져 나 와 양으로 하전 된 양극(anode)으로 이동해간다. 전자의 속도가 증가함에 따라 파장은 감소한다. 거의 10만 볼트로 가속될 때, 그 결과로 나오는 전자선의 파장은 0.005㎚ 이 하이다. 이러한 짧은 파장은 전자현미경의 해상능력이 다른 광학도구들에 비해 매우 크게 개선될 수 있도록 하였다. 전자선은 그 경로 안에서 하전 된 요소들이나 자기장에 의 해 휘어진다. 현대의 전자현미경은 일반적으로 자기장을 사용하는데, 전자선을 흩어지게 하거나 초점을 맺도록 하는 현미경의 `solenoid 렌즈`에 의해 만들어진다. 관찰될 표본들은 높은 진공상태로 전장의 경로 안에 놓인다.

투과전자현미경은(TEM : transmission electron microscopy) 전자빔을 발사하여 매우 얇은 조직절편을 투과시킴으로써 상을 형광 스크린에 형성한다

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