XRD(X-ray Diffraction) 를 이용한 시편의 정성분석

소개글

재료공학-XRD를 이용한 시편의 정성분석

목차

1. 이론적 배경
1-1. 정성적인 Data
1-2. X선 회절현상 이란?
1-2-1. 회절과 Bragg`s Law
1-2-2. 역격자를 이용한 Bragg`s Law의 해석

2. 실험목적

3. 실험방법
3-1. XRD(X-ray Diffraction) Setting
3-2. 시편준비 및 주의사항
3-3. 실험조건

4 .결과 및 고찰
4-1. 결과
4-2. 고찰

5. 참고문헌

본문내용

X선 회절현상 이란?
물질에 X선이 입사했을 때, 입사 X선의 방향과는 다른 몇 개의 특정한 방향으로 강한 X선이 진행하는 현상을 말한다. 일반적으로 파가 장애물에 충돌했을 때 입자의 충돌과는 달리 장애물의 그늘 부근에도 파가 생긴다. 이것이 파의 회절이다. X선은 전파나 빛과 마찬가지로 전자기적인 파이며 물질에 충돌할 때 역시 회절이 생긴다. 원자가 어떤 규칙에 따라 배열한 집합체 즉, 물질에 X선을 입사시키면 각각의 원자로부터의 산란파가 서로 간섭현상을 일으켜 특정한 방향으로만 회절파(X선 회절)가 진행한다. 이것이 X선 회절 현상이다. X선회절의 강도와 진행 방향은 물질을 구성하는 원자의 종류와 배열 상태에 따라 달라진다. 그러한 특징을 이용하여 X선 회절을 조사함으로써 물질의 미세한 구조를 알 수 있다.
물질의 미세한 구조에 관한 지식은 물질의 여러 성질을 이해하기 위한 기본적인 정보의 하나이다. 예를 들면, 같은 탄소원자로 이루어진 다이아몬드와 흑연이 전혀 다른 성질을 갖는 것을 그 원자배열의 차이를 연구함으로써 알 수 있다. 슬릿에 의한 X선 회절은 1903년에 관측되었으나, 보다 일반적인 결정에 의한 X선 회절은 1912년 M.Laue의 예측에 근거하여 실시된 실험으로 발견되었으며, Fig 1. 은 결정에 X선을 조사 시켜서 회절 된 X선에 의하여 film을 감광시킨 사진으로, 작고 검은 반점들이 X선이 검출된 위치다.

참고 자료

http://100.naver.com
Powder Diffraction File - Inorganic phases
Alphabetical Index -1986-
Powder Diffraction File - Inorganic phases
Search Manual(Hanawalt) -1986-
강의 노트