재료 분석법_ 분말법

소개글

분말 시료로 재료를 분석하는 방법

목차

1. 다결정체
2. 분말법
3. 분말법의 원리
4. Laue Camera 에 의한 분말시료의 측정
5. Debye-Scherrer Camera

본문내용

3. 분말법의 원리
분말시료에 단색의 가는 X선 다발(X-ray beam)을 조사 시킨다고 하자, 이때 시료 중에 있는 결정입자의 면간격 d의 격자면(hkl)이 입사X선(Incident X-Rays)에 대하여 Bragg식(Bragg`s formular) 를 만족하는 각도 (Bragg각, Bragg Angle) 만큼 기울어져 있으면, 입사X선(Incident X-Rays)은 이 격자 면에 의하여 회절 된다.
이때, 회절선(Diffracted X-Rays)의 방향은 다음 그림과 같이 격자면과의 각도 , 입사X선(Incident X-Rays)과의 각도 2(회절각, Diffraction Angle) 만큼 기울어지게 된다.

그림 한 개의 결정에 의한 회절(Diffraction)

시료 중에 결정입자가의 수가 충분히 많은 경우, 격자면의 방향이 무작위(무질서, Random)적으로 있으면 어느 격자면에 의해서도 회절조건을 만족하는 각도(입사X선(Incident X-Rays)에 대하여는 2)를 갖는 격자면은 분명히 존재한다.
그럼으로, 다음 그림과 같이 격자면(hkl)에 의해 회절 된 X선(Diffracted X-Rays)은 2 < 90° 의 경우는 2, 2 > 90° 의 경우는 180 - 2 가 되는 원추형으로 나타난다.
동시에, 다른 격자면 간격을 갖고 있는 격자면(h`k`l`)에 의한 회절선(Diffracted X-Rays)은 2` 에 나타난다.
따라서 분말에 의한 회절X선(Diffracted X-Rays)은 중심각이 다른 여러 개의 원추를 형성한다.
그림 분말에의한 회절(Diffraction)
이러한 원추를 평판 Film으로 얻으면 다음 그림과 같이 되며,
그림 평판법(Laue Camera)

원통Film으로 얻으면 다음 그림과 같이 입사X선(Diffracted X-Rays)의 위치를 중심으로 동심원상태의 회절선을 얻게 된다.

참고 자료

없음