X선 회절분석기(X-Ray Diffractometer, XRD)

소개글

X선 회절분석기(X-Ray Diffractometer, XRD)에 대해 조사한 레포트 자료입니다.

목차

▷ X선(X-Rays) 이란?
▷ X선의 발견
▷ X선 회절 분석기(X-Ray Diffractometer, XRD)
▷ X선의 성질
▷ X선의 발생(Generation)
▷ X선의 흡수(Absorption)
▷ X선(X-Rays)의 산란(Scattering)
▷ X선 회절현상이란?
▷ 결정에 의한 회절(Diffraction)
▷ 결정에 의한 회절현상
▷ 구성
▷ X선 회절 실험의 특징

본문내용

▷ X선의 발견
X-선은 1895년 독일의 물리학자 Roentgen(뢴트겐)에 의해서 발견되었다. X-선은 뢴트겐에 의해 발견된 후 물질의 내부를 밝히는데 있어 단순한 X-선의 투과력에 의한 10-1cm정도의 해상력(Resolution)에 국한하는 ‘Radiography’ 뿐만 아니라 원자구조 수준의 Å(10-10m)정도의 물질의 내부구조를 밝히는데 이용될 수 있다는 소위 “X-ray diffraction(XRD)”현상이 확립된 것은 독일의 Laue에 의한 X-선 회절실험이 성공한 이후이며 이것은 또한 X-선의 파동성과 결정내의 원자의 규칙적인 배열을 동시에 입증한 계기가 되기도 하였다.
한편 Laue에 의한 X-선 회절실험결과를 같은 해 영국의 Bragg는 훌륭하게 이를 다시 다른 각도에서 해석하였고 Laue가 사용했던 수식보다 더욱 간단한 수식으로 회절에 필요한 조건을 Braggs Law(2dsinq = nl)로 나타내었으며 이 X-선 회절현상을 이용하여 각종 물질의 결정구조를 밝히는 일에 성공하였다.
약 110년 전인 1895년 독일의 물리학자 Roentgen(뢴트겐)이 물체의 내부를 밝히는데 있어 단순한 X선(X-Rays)의 투과력에 의한 Radiography 용도로 사용하였다. 그리고 1912년 독일의 Laue에 의해 결정은 그의 면간격(원자와 원자 사이의 간격)정도의 파장을 가진 X선을 쪼이면 반사한다는 X선 회절(Diffraction) 실험이 성공하여, X선의 파동성과 결정내 원자의 규칙적인 배열을 동시에 입증한 계기가 되었다. 영국의 Bragg는 이를 다른 각도로 해석하여 Laue가 사용했던 수식보다 더욱 간단한 수식으로 회절에 필요한 조건을 Bragg law (2dsinq = nl) 로 나타내었으며 이 X선 회절(X-Ray Diffraction)현상을 이용하여 각종물질의 결정구조를 밝히는데 성공하였다.

참고 자료

없음