XRD (X-ray Diffractometer ; X-선 회절 분석 장치)

소개글

XRD (X-ray Diffractometer ; X-선 회절 분석 장치)

목차

1. X선의 회절원리
2. XRD의 장치
3. XRD의 특징
4. XRD의 용도

본문내용

XRD (X-ray Diffractometer ; X-선 회절 분석 장치)
1. X선의 회절원리
회절은 원자에 의한 산란(scattering)현상이며, 원자의 공간적인 배열에 의하여 나타나는 현상이다. 회절 된 X선의 회절방향은 단위격자(unit cell)의 모양과 크기에 의하여 결정되며, 세기는 격자 내에서의 원자의 위치에 영향을 받는다. 따라서 X선의 회절방향과 세기를 분석함으로서 물질 내에서의 단위격자와 원자의 배치에 대한 정보를 얻을 수 있게 된다.
(1) 결정구조 및 단위격자
단위격자는 결정을 이루는 단위로서, 공간에서 규칙적으로 반복되는 가장 작은 단위의 격자를 의미한다. 단위격자 내에서의 원자의 배열은 모든 단위격자 내에서 일정하며, 이를 이용하여 공간격자(space lattice)를 결정한다. 단위격자는 격자점을 연결하는 모서리의 길이와 모서리 사이의 각도에 의하여 여러 가지 다른 모양을 형성하며, 단위격자의 모양에 의하여 결정계(crystal system)를 분류한다. 표 1은 일곱 개의 결정계와 그에 해당하는 결정축과 단위격자의 조건을 보여준다.

(2) X선 산란(scattering)
① 입사파의 파장과 산란파 파장은 같다.
② 산란된 X선은 전체 공간을 통하여 산란된다.
③ 입사되는 X선은 평행하며 관찰지점에 도달하는 산란파도 평행하다.
④ 산란된 X선은 다른 X선과 간섭(interference)하지만 다른 입자와는 어떤 상호작용도 하지 않는다.

참고 자료

없음