AFM

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AFM의 모든것

본문내용

 스위스 취리히소재 IBM 연구원이었던 Binning, Roher, Gerber와 Weibel에 의해 1982년에 개발

 STM (Scanning Tunneling Microscope)과 AFM (Atomic Force Microscope)을 통칭하여 부르는 용어로서 날카로운 탐침 (Probe 혹은 Tip)이 표면에 수 Å 이내로 접근하여 Scanning하여 표면분석을 하는 분석용 장비임.

AFM란?
 원자와 원자와의 척력과 인력
 전기적인 특성과 무관하므로 도체, 반도체 및 부도체등 모든 시료의 분석에 범용적으로 적용

참고 자료

없음

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