주사 전자 현미경

소개글

주사 전자 현미경

목차

◎ 실험제목
◎ 실험목적
◎ 실험방법
1. 주사전자 현미경(Scanning Electron Microscope, SEM)
● 주사전자현미경의 원리
● 구조
● 주사전자현미경 영상의 형성
● 시료제작법
● 결정립 크기의 제어
2. 그레인 평균 크기 측정
3. ○ 코팅을 하는이유
● 출처

본문내용

◎ 실험제목 : 주사전자 현미경에 의한 세라믹의 미세구조 관찰

◎ 실험목적 : 본 실험에서는 세라믹재료의 파단면 형상, 기공의 존재, 분말의 입 자크기, 그리고 표면 형상 및 평균 결정립 크기를 조사하기 위한 시료의 준비방법을 실습하고 주사전자현미경 관찰 및 사진 분석을 통하여 세라믹의 미세구조에 대한 일반적인 이해를 얻는다.

◎ 실험방법

1. 시험편의 준비 : 알루미나 소결체의 단면 평균 결정립의 크기를 측정하기 위한 시편 준비 과정에 따라 시편을 준비한다.

1) 시험편의 절단
2) 시험편 단면의 연마(Polishing)
3) 시험편의 단면의 손질(Cleaning)
4) 시험편의 단면의 부식(etching)
5) 코팅(coating)

2. SEM 분석
1) 주사전자 현미경 이미지
2) 고해상도 이미지
3) 결정립 크기 분석

1. 주사전자 현미경(Scanning Electron Microscope, SEM)

아주 세밀한 렌즈로 조합되어 있는 광학현미경이라도 확대능력에는 한계가 있는데, 그것은 빛의 파장에 기인한다. 광학현미경의 능력 향상이 막다른 길에서 10,000배 이상의 배율이 필요한 세포의 내부구조 (핵, 미토콘드리아 등)의 연구 등, 과학적인 필요에 의해 나타난 것이 전자 현미경이다.
전자 현미경에는 크게 나누어 투과전자 현미경 (Transmission Electron Microscope)과 주사 전자 현미경 (Scanning Electron Microscope)으로 구분할 수 있다. 이의 구조상 차이는 광학현미경의 투과형과 반사형의 차이와 같다고 하겠으며 시료를 준비하는 작업 역시 광학 현미경의 그것으로 투과전자 현미경과 주사전자 현미경을 구분 지어도 크게 무리는 없을 것이다. 주사전자 현미경 (SEM)은 1942년에 개발되어 1960년대 초반부터 상용화되었다.
주사전자 현미경은 전자를 사용해서 시료의 표면을 주사하여 영상을 만든다. 텔레비전의 작

참고 자료

http://kdaq.empas.com/qna/3959071?sq=%C0%FC%C0%DA%C1%D6%BB%E7%C7%F6%B9%CC%B0%E6%C4%DA%C6%C3%C0%CC%C0%AF
http://user.dankook.ac.kr/%7Eenerdine/sem.htm
http://diamond.kist.re.kr/cerapedia/theory/jgl010.html