XRD, SEM, PSA에 대해서 (+성형, 소결)

소개글

XRD, SEM, PSA 에 대한 내용에 성형과 소결에 대해서도 간략히 소개되어 있습니다.
실험 전 예비보고서로 제출한 내용입니다.

목차

1. XRD(X-Ray Diffraction) 1
가. XRD의 원리 1
나. 구성 2
다. X-선 회절실험의 특징 2
라. 해석 3
2. SEM(Scanning Electron Microscopy) 4
가. SEM의 원리 4
나. SEM의 구조 4
3. PSA(Particle Size Analyzer) 5
가. 용도 5
나. 구조 및 형태 5
1) 구성요소 5
2) 구성요소별 기능 5
4. 성형 (Molding) 6
가. 압축성형 6
나. 압출성형 6
다. 사출성형 6
5. 소결(Sintering) 6
가. 목적 7
나. 소결공정 7

본문내용

1. XRD(X-Ray Diffraction)
X선 회절장치(X-Ray Diffractometer, XRD)는 시료의 상태에 따라서 분말법용과 단결정용 으로 분류할 수 있다.전자의 경우는 Debye-Scherrer Camera, 후자의 경우는 Weissenberg Camera, 단결정 자동 X선 회절장치(X-Ray Diffractometer, XRD) 등이있다.
또, X선 회절장치(X-Ray Diffractometer, XRD)는 X선(X-Rays)의 검출 방법에 따라서, Film을 사용하는 사진법에 의한 것과 Counter(검출기)를 이용하는 Counter법에 의한 것으로 분류할 수 있다.전자는 Debye-Scherrer Camera(Powder Camera), Laue Camera, 후자는 Diffractometer 가 있다.
Counter에 의해 자동기록방식을 이용한 X선 회절계(X-Ray Diffractometer, XRD)를 디프랙토메타(Diffractometer)라고 하며, 주로 분말법용 으로 이용한다.
1.1. XRD의 원리
Bragg`s Law()
X-선 회절 현상을 이용하여 각종 물질의 결정구조를 밝히는 일에 성공
원자가 규칙적으로 배열되어 있는 결정체는 원자에 의한 산란 X선(Scattered X-Ray)의 간섭결과로 특정방향으로 강하게 산란한다.

1.2. 구성1.2.
Diffractometer는 크게 나누어서 X선(X-Rays)을 발생 시키는 X선 발생장치(X-Ray Generator, XG), 각도 2q를 측정하는 고니오메터(Goniometer), X선 강도(X-Rays Intensity)를 측정하는 계수기록장치(Electronic Circuit Panel, ECP), 이러한 것들을 제어하고 연산을 하는 제어연산장치(Control/Data Processing Unit, Computer) 의 4 부분으로 되어있다.

1.3. X-선 회절실험의 특징
1. 시료에 대한 제한이 적고, 시료를 파괴함이 없이 측정가능하고 측정시간은 수십분 정도이다.시료는 금속, 합금, 무기화합물, 암석광물, 유기화합물, 폴리머, 생체재료 등 무엇이든 가능하고, 결정질 및 비정질재료 모두 측정가능하고, 분말시료든지 판상, 액체, 리본 thin film 시편에 대해서도 측정 가능하다.
2. 물질의 정성분석 가능.물질의 결정구조와 화합형태가 다르면 회절패턴의 형태가 변화한다. 따라서, 표준물질의 데이터 파일과 대조해서(JCPDS card 이용) 물질의 구별할 수 있다.

참고 자료

없음