X Ray Diffraction(XRD) 원리 및 분석

소개글

물질 분석 장비인 XRD의 전반적인 내용에 대한 자료이고,
X-ray의 기본 개념 부터 XRD 장비의 원리 및 분석 방법에 대한 전반적으로 기술하였습니다.

목차

X선(X-Rays) 이란 ?
X선(X-Rays) 의 발견
X선(X-Rays)의 성질
X선(X-Rays)의 스펙트럼(Spectrum)
특성X선(Characteristic X-rays).
X선(X-rays)의 흡수(Absorption).
Filter
X선(X-Rays)의 산란(Scattering).
X선(X-Rays)의 전반사(Total Reflection).
X선회절현상 이란 ? (X-Ray Diffraction, XRD)
결정에 의한 회절(Diffraction)
전자에 의한 X선의 산란(X-Ray Scattering)
원자에 의한 X선의 산란(X-Ray Scattering)
결정에 의한 회절현상(Diffraction)
역격자와 회절(Diffraction)조건
X선 회절 분석기(X-Ray Diffractometer, XRD)
X선 발생장치(X-Ray Generator)
고니오메타(Goniometer)
XRD 에 의한 시료측정

본문내용

<X선(X-Rays) 의 발견>
약 100년전인 1895년 독일의 물리학자 Roentgen(뢴트겐) 물체의 내부를 밝히는데 있어 단순한 X선(X-Rays)의 투과력에 의한 Radiography 용도로 사용
1912년 독일의 Laue에의해 결정은 그의 면 간격(원자와 원자 사이의 간격) 정도의 파장을 가진 X선(X-Rays)을 쪼이면 반사한다는 X선(X-Rays) 회절(Diffraction)실험이 성공하여, X선(X-Rays)의 파동성과 결정내 원자의 규칙적인 배열을 동시에 입증한 계기가 됨
영국의 Bragg는 이를 다른 각도로 해석하여 Laue가 사용했던 수식보다 더욱 간단한 수식으로 회절에 필요한 조건을 Bragg`s law (2 d Sin q = n l) 로 나타내었으며 이 X선회절(X-Ray Diffraction)현상을 이용하여 각종물질의 결정구조를 밝히는데 성공하였다

<X선(X-Rays)의 성질>
(1) 사진작용
(2) 형광작용 - ZnS, CdS, NaI 등에 조사 시키면 형광을 발생 시킨다.
(3) 이온화작용
(4) 진공중에서 빛과 같은 속도로 진행한다.
(5) 입자와 같이 회절(Diffraction) 현상을 갖고 있다.
(6) 굴절률이 거의 1 에 가깝다. - 굴절에 의하여 X선(X-Rays)을 집중 시키
는것은 거의 불가능하며, 전반사의 임계각이 10` ~ 30`(1o = 60`) 정도된다.
(7) 투과력이 커서 의료에 이용하여 몸의 뢴트겐(Roentgen)사진, 공업용으로는 재료시험에 이용한다.
(1),(2),(3) 의 성질들을 이용하여 X선(X-Rays)의 검출에 이용한다

참고 자료

없음