성분 분석기

소개글

EDX등 재료의 성분을 분석하는 기기 정리 입니다.

목차

1. EDX(EDS or EDAX) (Energy Dispersive X-ray Fluorescence (Spectro- scopy))
1. 특징
2. 작동원리

2. ICP-OES(AES) (Inductively Coupled Plasma Optical(or Atomic) Emi-
ssion Spectrometers)
1. 특징
2. 작동원리

3. AAS (Atomic Absorption Spectrophotometer) ; 원자흡수광 분광기
1. 특징
2. 작동원리
3. 방해요소

※ References

본문내용

1. EDX(EDS or EDAX) (Energy Dispersive X-ray Fluorescence (Spectro- scopy)) ; 에너지 분산형 X선 형광 분광기

1. 특징
- 유기물과 무기물에 대한 원소의 정성(어떤 원소, 성분이 있는지를 분석) 및 정량 분석
(어떤 원소가 얼마나 있는지를 분석)을 하는데 사용한다.
- 시료를 용액으로 처리하지 않고서도 비파괴 분석 할 수 있다.
- 가벼운 원소 5번인 붕소에서 92번인 우라늄까지의 전 원소를 미량까지 신속, 정확하게
분석 할 수 있다. (대개는 11번인 Na부터 우라늄까지)
- 최근에는 각종 공장(금속, 석유, 고분자 화합물, 유리 / 요업재료, 도금층분석), 품질
보증을 위한 분석, 신제품 및 신공정 개발, 환경 유해 물질 분석에 사용한다.

2. 작동원리
시료에 1차 X선을 조사하여 발생하는
형광 X선을 보통 분광결정에 의하여 분
광한다.그다음 분광된 강도를 검출기로
측정하여 나온 자료를 분석한다.
원자가 내부껍질에 있는 전자를 잃고
들뜨고, 바깥 껍질에서 전자가 전이하면서 정상상태로 되돌아가는데 이때 높은 에너지를 갖고, 0.1~100A 의 짧은 파장의 X선
을 방출하는 원리이다.
X-선의 발생에는 강한 전압이 걸려있는 음극의 가열된 필라멘트에서 튀어나온 전자가 빠른 속도로 양극의 원자량이 큰 물질에 충돌하면서 전자가 감속되며 남는 에너지인 연속 X-선과 이탈된 내각 전자의 자리에 외각 전자가 전이되면서 남는 결합에너지인 특성 X-선이 있고 이것이 XRF에 사용되는 X-선이다.

참고 자료

1) Jobin Yvon Horiba : www.jykorea.co.kr
2) Nano Optic Detection Technology : blog.naver.com/nanomate
3) Alphalight : www.alphalight.co.kr
4) 브리태니커 백과사전
5) BMS : www.bmsmall.co.kr
6) 하이텍교역주식회사 : www.hitek.co.kr
7) 과학기술정보포털서비스 : www.yeskisti.net
8) 영인과학 : www.youngin.com
9) OBLF SPEKTROMETRIE : www.oblf.de