"Secondary Ion Mass S" 검색결과 21-37 / 37건

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  [생리학]【A+】chemical

  Form hydration spheres. Make an ion/molecule more soluble. ... *Periodic table information on carbon:Atomic mass given in table is average mass of all the element's ... Secondary structure: Weak hydrogen bonds form between hydrogen of 1 amino acid and the and oxygen of

  리포트 | 51페이지 | 1,000원 | 등록일 2011.07.06

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  Operation System concepts with java 2 장 summary

  as an extension of main memory.Secondary storage provides a from of nonvolatile storage that is capable ... are an exten-sion of multiprogramming wherein CPU scheduling algorithms rapidly switch between jobs, ... system;this includes providing file system for representing files and directories and managing space on mass-storage

  리포트 | 2페이지 | 1,000원 | 등록일 2013.03.31

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  플라즈마, Chemical Vapor Deposition 와 Physical Vapor Deposition

  atoms Secondary electrons Reflected ions neutral + surfaceSputtering Deposition Process Ions are accelerated ... The Sputter yield depends on (a) the energy of the incident ions (b) the masses of the ions and target ... ) Interactions of ions with surfaces Incident ion Sputtered atoms Lattice atoms Primary knock-on Sputtered

  리포트 | 28페이지 | 2,000원 | 등록일 2010.06.18

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  Primary Aldosteronism (원발알도스테론증, 일차알도스테론증)

  Hypernatremia - infrequent but may be caused by sodium retention Metabolic alkalosis (∵ hydrogen ion ... aldosteronism : cause for the excessive aldosterone production resides within the adrenal gland Cf) Secondary ... (CT) - Thin-cut (3 mm) CT - initial localization test - unilateral mass 1cm, normal contralateral adrenal

  리포트 | 17페이지 | 2,000원 | 등록일 2011.11.03

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  (PPT)SIMS

  SIMS(Secondary Ion Mass Spectrometry)ContentsS I M S의 원리 및 이론S I M S 의 분석장치의 구성S I M S 의 특징S I M S 의 ... rotating state한글장비명 : 이차이온질량분석기 영문 장비명 : Secondary Ion mass Spectrometry 모 델 명 : IMS 6f 제 작 사 : CAMECA ... source의 종류Ion source의 종류Ion source의 종류Ion gun 구성 개략도Mass spectrometry의 종류double-focusing mass spectrometerMass

  리포트 | 23페이지 | 3,500원 | 등록일 2008.02.22

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  생체재료학 연습문제 레포트

  *SIMS (Secondary Ion Mass Spectrometry) : 이차이온질량 분석법 1~20 KeV의 운동 에너지를 가진 일차이온빔을 고체시료 표면에 충돌시켜, 고체 표면이나 ... ion mass spectroscopy) and XPS(X-ray photoemission spectroscopy)가 쓰인다.SIMS는 높은 감수성으로 모든 요소를 발견할 수 있고 ... 1.Time-of-flight secondaryion mass spectrometry: techniques andapplications for the characterization

  리포트 | 6페이지 | 10,000원 | 등록일 2010.07.28 | 수정일 2023.06.26

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  [공학]【A+】반도체공정기술[단위공정]

  Ion Mass Spectroscopy) 이용법ⅲ) Etching 시키면서 4-point probe로 sheet 저항 측정 → 환산법ⅳ) C-V plotter를 이용법ⅴ) ASR ... Method: fringe (회절로 인한 줄무늬)의 수.λ : 입사광의 파장.③ doping concentration profile.ⅰ) 방사선 동위원소의 불순물 이용법ⅱ) SIMS (Secondary ... 저압 증착법밀폐된 반응 용기에 진공펌프로 계속 배기→ 일정량의 반응 물질을 용기 속에 주입→ 반응 용기 내에는 저압 유지→ water를 적당한 ion

  리포트 | 28페이지 | 1,000원 | 등록일 2011.07.15

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  SEM과 X선 분광분석 (EDS)

  Ion Mass Spectroscopy)저에너지 이온이차 중성자후이온화 이차이온 질량분석기주사전자현미경과 EDS 시편에 전자가 입사할 경우 발생하는 여러 종류의 하전입자(charged ... 다양한 미세 분석 기술 (주1)입사빔측정신호분석기술전자Auger 전자Auger Electron Spectroscopy이차전자주사전자현미경(SEM + Secondary Electron ... WDS가시광선음극냉광 현미경X선투과 X선X선 현미경, EXAFS특성 X선XRF (X선 형광분석기)고에너지 입자특성 X선입자가속 X선 방출 분광분석기 (PIXE)이차이온SIMS (Secondary

  리포트 | 10페이지 | 1,000원 | 등록일 2012.05.22

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  XPS 실험

  Ion Mass Spectroscopy (SIMS)이다. ... 분석방법이다.표면분석 방법 중 가장 널리 사용되는 방법은 X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS), Auger electron Spectroscopy (AES) 및 Secondary ... 그림 2, 3에 정상적인 광이온화와 shake-up, shake-off들을 비교하였다.그림 2의 shake-up 과정을 보면 1s 준위에서 광전자가 방출됨과 동시에 2p준위에 있던

  리포트 | 6페이지 | 1,000원 | 등록일 2011.05.06

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  이차이온 질량분석기 (SIMS:Secondary Ion Mass Spectrometry)

  Secondary Ion Mass Spectrometry(이차이온 질량 분석기)이차이온 질량 분석기술(SIMS)은 질량 분석 기술 자체가 가진 민감성으로 인해서 일반적으로 사용되는 ... guns) 을 사용하는 전통적인 기계적 방법을 진동하는 이온소스와 비행시간 질량 분석기(pulsed ion sources and time-of-flight (TOF) )로 대체함으로써 ... 따라서 표면으로부터 중성 혹은 대전된 종(이온이나, 입자)의 추출(혹은 sputtering)을 야기 시킨다.추출된 종에는 원자나 원자의 집합 또는 분자파편 등이 있을 수 있다.기존의

  리포트 | 3페이지 | 3,000원 | 등록일 2009.04.23

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  엔탈피 측정 실험리포트, Hot pack 의 상태 전이 엔탈피 측정실험 리포트

  ions OH? ... The heat energy absorbed Q(J) iswhere C is the specific heat capacity of the matter, m is the mass of ... (or oxide ions O2?) to form water molecule H2O. In the process, a salt is formed.

  리포트 | 8페이지 | 1,000원 | 등록일 2008.04.30

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  이차이온질량분석 SIMS(Secondary Ion Mass Spectrometry)

  SIMS (Secondary Ion Mass Spectrometry)2차 이온 질량 분석법ᆞ수 keV~10keV로 가속된 이온 빔을 재료의 표면에 입사시켜 방출되는 2차 이온들의 질량을 ... 정성분석에는 Positive혹은 negative mass spectrum의 피크 위치가 이용되는데 동일한 nominal mass 를 갖는 이온들이 혼재할 경우 이의 분리를 위해서는 ... The most sensitive surface analysis technique 2.

  리포트 | 11페이지 | 2,000원 | 등록일 2007.08.05

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  [공학]SIMS

  S I M S (Secondary Ion Mass Spectrometry)원 리 - 수 keV ~ 10 keV의 운동 에너지를 가진 일차 이온빔을 고체시료 표면에 충돌시켜 고체 표면이나 ... Mixing zone : primary ions and displaced atoms from the sampleSputtering 과정종류 : O2+ , O- , Ar+ , Cs+ ... 큰 이온빔 전류를 이용하여 깊이에 따른 원소의 분포상태를 분석 - Static SIMS : 낮은 이온빔 전류로 표면의 원자와 분자의 조성상태를 분석S I M SEnergies between

  리포트 | 6페이지 | 1,000원 | 등록일 2006.10.01

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  반도체 기술인 샬로우정션(shallow junction)의 기술과 공정 및 문제점 해결방안

  그림 2는 여러 가지 온도에서 급속 열처리 방법과 고상 확산법을 이용하여 인(P) 원자를 실리콘 내로 확산시킨 후 SIMS(Secondary Ion Mass Spectroscopy) ... 문턱전압이 감소한다. short channel은 절대적인 값이 아니라 상대적인 값이다. substrate 와 source, substrate와 drain사이에 생기는 공핍층과 채널의 ... 결론 및 특허제안(Conclusion & S이가 감소되고 이에 따른 단채널효과(short channel effect)가 발생한다.

  리포트 | 28페이지 | 2,000원 | 등록일 2009.04.26

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  [sputter]sputter 종류와 mechanism

  이와 같은 원리는 SIMS (Secondary Ion Mass Spectroscopy) 및 AES (Auger Electron Spectroscopy)의 depth profile에 ... 만일 충돌하는 입자들이 양의 이온(positive -ion)이라면 cathodic sputtering이라고 부르는데, 대부분의 스퍼터링은 cathodic sputtering이다.보통 ... Sputtering(스퍼터링)고체의 표면에 고에너지의 입자를 표면원자와 충돌시켜 고체 표면의 원자나 분자를 표면으로부터 제거하는 현상이다. removal of materials (atoms, ions

  리포트 | 11페이지 | 2,000원 | 등록일 2006.02.26

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  [전자재료]SEM&XPS에 대하여

  PVD CVD supplementWhere the receiving surface is spherical having radius r0, (for the plane source)sourceΦr0r0rθMass ... , Sputtering yield(S) for 1000eV Ar+ ions SNi = 2.1, SFe = 1.4 Initial sputtering rate Ni : Fe = 50×2.1 ... insertion and manipulation Secondary electron (SE) detector Collect signal Electronics Display imageElectrical

  리포트 | 41페이지 | 1,000원 | 등록일 2006.08.07

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  [구조결정학]XRD에 대하여

  산란된 X선을 2차X선(Secondary X-Rays) 이라고 하며,(1) 1차X선(Primary X-Rays)과 동일한 파장을 가adiography : 용접부위의 투과 사진 촬영) ... {X선회절(X-Ray Diffraction)용 Filter는 질량흡수계수(Mass absorption coefficient)가 K 선에 대하여 크고, K 선에 대하여는 작은 것을 사용한다 ... 예를 들면, K계열(K series)는 K 1, K 2, K 1, ..., LK계열(L series)는 L 1, L 2, L 1, L 2, L 1, L 1, ..., 등이 있다.(2

  리포트 | 26페이지 | 1,000원 | 등록일 2005.11.19

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