"afm 데이터 분석" 검색결과 41-60 / 81건

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  박막 분석 장비의 원리와 종류 (SEM, 4-Point Probe, XRD, AFM, EFM)

  회절패턴을 표준물질의 데이터 파일과 대조해서 물질을 구별할 수 있다.②회절선의 강도를 측정해서 각 성분의 정량(원소함량)분석을 할 수 있다.미량으로 들어있는 물질의 검출은 곤란하며, ... 종류11제 4 절 XRD 활용13제 Ⅳ 장 AFM(Atomic Force Microscope)제 1 절 AFM의 측정원리14제 2 절 AFM cantilever의 탄성계수15제 3 ... AFM 3D i 영상형성 과정은 광학현미경이나 TEM과는 다르다.

  리포트 | 22페이지 | 2,500원 | 등록일 2015.01.08 | 수정일 2023.04.29

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  각종 실험도구들(GC,NMR,SEM,Mass,SPM)정리한 레포트입니다.

  또한 기체나 액체 시료는 분석이 불가능하며 살아있는 시료는 다른 현미경을 이용해 관찰하는 것이 좋다.1)AFM(Atomic Force Microscope) : SPM의 가장 기본이 ... 분석한 데이터는 수집되어 2차원 사진 뿐만 아니라 3차워적인 입체로 표현이 가능하다. SMP는 표면 정보를 수 ㎛에서 수 Å단위까지 관찰할 수 있다. ... 진정한, 3차원 데이터 기록이 가능하다.3. 대상물을 x/y 방향뿐 아니라 z 방향(광학 축을 따라)으로도 스캔을 하기 때문에 모든 면에서 대상물을 관찰할 수 있다.4.

  시험자료 | 14페이지 | 1,500원 | 등록일 2017.06.07 | 수정일 2017.06.08

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  산화 공정 (Oxidation) 분석 [A+]

  그리고 최종적으 로 AFM을 사용하여 산화막의 두께를 측정하고 실험값을 분석한다. 이번 실험은 불순물에 예민한 실리콘을 사용하기 때문에 실험에 대한 오차의 영향이 많다. ... -실험결과30min 일 때그림-1번 측정값 데이터1234평균값? ... Z45.94nm48.36nm42.53nm49.79nm46.66nm2hour 일 때그림-1번 측정값 데이터1234평균값?

  리포트 | 4페이지 | 1,000원 | 등록일 2012.11.23

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  화실기 두번째 실험

  또, SEM에 EDS 성분 분석기를 장착 하면 원하는 위치에서 성분 분석을 하여 정량 정성을 확인할 수 있다.AFM은 탐침(Tip)으로 시료표면을 Scanning 하여 시료를 관찰할 ... 본 장비를 통해 Contact 또는 Tapping Mode를 이용하여 시료표면의 형상을 관측할 수 있고 또한 시료표면 형상의 Data를 이용하여 모양이나 분포에 관한 연구 즉, 선분석 ... 수 있는 표면분석 장비다.

  리포트 | 13페이지 | 1,500원 | 등록일 2015.12.16

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  nanotechnology

  SPM SPM은 100nm에서 0.1nm에 이르는 영역을 관찰 나노 리소그래피, 나노 영역에서의 조작 빛 핸들링 등의 기능SPM에 의해 얻은 데이터 영상SPM에 의해 얻은 데이터 영상들로서 ... 팁을 이용 하여 CNT를 조작 (위치, 모양, 방향)하는 개념도나노 영역의 형상분석-원자 현미경제1세대인 광학 현미경 (최고 배율∼수천 배) 제 2세대인 전자 현미경 (최고 배율∼ ... , 실리콘(111) 표면의 원자 배열(STM)다결정 실리콘의 입계 모양(AFM), 컴퓨터용 하드 디스크의 자기 분표(MFM), 반도체 회로의 도핑 프로파일(SCM) AFM을 이용하면

  리포트 | 20페이지 | 3,000원 | 등록일 2010.06.23

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  리튬이온이차전지 첨단기기 분석(li-ion battery)

  모두 측정 가능 - 하나의 플랫폼 솔루션 사용 분석 시료의 한 부분을 동시에 AFM-Raman 측정 image 각 층 영역으로 나타나는 graphene AFM-Raman리튬 이온전지 ... 새로운 물질을 합성 하는 경우 많아 자체 분석 필요로 함 XRD: rietvelt program 이용 modeling data 얻음 pull-proof studio 등을 이용 modeling ... 화학적 분석 - 동시성 라만 및 AFM 이 이미지들 간 상관 관계 보장 하나의 플랫폼 솔루션 사용 분석 초고진공 상태가 아니라도 대기 안정성이 없어도 측정 가능 - 전도성 , 비전도성

  리포트 | 10페이지 | 1,500원 | 등록일 2010.12.10

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  AFM

  또한 EFM, SCM과 결합되어 차세대 data storage에 응용이 가능하다.6. ... 반도체 표면 분석, 하드 디스크, 천연 광물 표면 분석, 폴리머 표면, 물리 분야 즉 표면 전자 구조, 재료분야 등 새로운 모드의 꾸준한 개발과 함께 응용분야가 매우 광범위하다.2) ... SPM 응용 분야1) 학술 및 산업분야- 현재 주사탐침현미경은 주로 학술연구용과 산업용 분석, 측정기로 널리 사용되고 있다.

  리포트 | 24페이지 | 1,000원 | 등록일 2010.05.29 | 수정일 2016.10.19

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  AFM (Atomic Force Microscopy)

  살아있는 시료의 분석 및 영상 측정이 가능②. 시료의 전처리가 거의 필요 없으며, 시료의 파괴나 손실이 없음③. 시료의 높이와 깊이 측정이 가능하여 삼차원 영상분석이 용이④. ... 또한 반도체산업 등 여러 분야에서 평면 정한 전류값 초기에 설정한(팁과 샘플의 떨어진 거리)에 도달될 때까지 각(x, y) 데이터 지점에서 스캐너를 수직방향으로 움직여 일정한 터널링 ... 전류가 되게 하면서 각(x, y) 데이터 지점에서의 스캐너의 수직위치를 컴퓨터에 저장하여 샘플표면의 삼차원영상을 얻는 원리인데 이 기술의 적용은 도체나 반도체에 제한된다.이러한 샘플의

  리포트 | 14페이지 | 2,000원 | 등록일 2009.09.06

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  양극산화 실험 레포트

  그리하여 생체적합성에 가장 이론치에 맞는 C를 선택하였다.④ AFM를 통한 데이터 분석A B C D그림 6. ... 실험결과① SEM 사진을 통한 데이터 분석그림 4. ... AFM image of TiA, B, C, D의 표면의 거칠기를 표현해 주는 데이터이다.

  리포트 | 20페이지 | 3,000원 | 등록일 2011.03.23

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  [화학과 물리화학 실험] SPM-STM(Scanning Tunneling MicroScope)과 AFM(Atomic Force MicroScope)

  STM의 분석 방법.Fig.. ... 한다.액상에서 존재하는 시료의 연구는 물론 특히 대부분의 생물시료는 액상에서 존재하고 있는 것을 고려할 때 이러한 Tapping Mode는 자연 상태 및 생리조건하에서 시료의 구조분석에 ... 지점에서 스캐너를 수직방향으로 움직여 일정한 터널링 전류가 되게 하면서 각(x, y) 데이터 지점에서의 스캐너의 수직위치를 컴퓨터에 저장하여 샘플표면의 삼차원영상을 얻는 원리인데

  리포트 | 8페이지 | 1,000원 | 등록일 2008.12.27

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  [화학과 물리화학 실험] SPM-STM(Scanning Tunneling MicroScope)과 AFM(Atomic Force MicroScope)

  STM의 분석 방법.Figure3. ... 한다.액상에서 존재하는 시료의 연구는 물론 특히 대부분의 생물시료는 액상에서 존재하고 있는 것을 고려할 때 이러한 Tapping Mode는 자연 상태 및 생리조건하에서 시료의 구조분석에 ... 지점에서 스캐너를 수직방향으로 움직여 일정한 터널링 전류가 되게 하면서 각(x, y) 데이터 지점에서의 스캐너의 수직위치를 컴퓨터에 저장하여 샘플표면의 삼차원영상을 얻는 원리인데

  리포트 | 9페이지 | 1,000원 | 등록일 2009.01.21

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  나노 측정 장비

  나노 측정장비 조사(STM, AFM, SEM, FEM)ScanningTunnelingMicroscope1)STM의 개요1. ... McElroy et al.은 이 파동의 정확한 특성을 찾기 위해 푸리에 분석을 사용하여 STM 자료에서 모든 변형된 형태를 찾아내고 매우 자세하게 마디 페르미온의 행동을 재구성했다. ... 신호의 대역폭은 전류증폭장치와 Z방향 압전 소자의 수직공명진동수에 의해 제한 되므로, 데이터 신호의 대역폭을 크게 하기 위해서는 STM이 일정한 높이에서 동작하도록 해야 함.상압에서

  리포트 | 46페이지 | 3,000원 | 등록일 2012.11.29

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  [화학과 물리화학 실험] SPM(STM과 AFM)

  이렇게 해서 H O P G의 표면을 깨끗하게 해 준다.③ 자석을 이용해서 H O P G를 분석 할 수 있는 부분에 올려놓아 준다.④ 팁과 H O P G사이의 거리는 확대경으로 확인 ... -AFM(Scanning Force MicroScope)의 원리"AFM"에서는 STM과는 달리 텅스텐 또는 백금으로된 탐침대신 나노기술로 제조된 프로브를 사용하는데 이 프로브는 프로브의 ... 지점에서 스캐너를 수직방향으로 움직여 일정한 터널링 전류가 되게 하면서 각(x, y) 데이터 지점에서의 스캐너의 수직위치를 컴퓨터에 저장하여 샘플표면의 삼차원영상을 얻는 원리인데

  리포트 | 4페이지 | 1,000원 | 등록일 2008.12.27

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  정보저장공학-레포트

  Holographic Data Storage1. ... 즉, 동일 장소에 많은 데이터를 페이지 단위로 기록 재생함으로써 높은 저장 밀도 및 빠른 데이터 전달율을 갖는 기록 및 재생이 가능하게 된다.체적 홀로그래피 정보 저장 장치의 원리는 ... 실례로 IBM의 Binnig 그룹은 최근에 AFM cantilever의 thermo mechanical writing의 방법을 사용하여 500Gbit/in2의 고 집적도를 갖는 hard

  리포트 | 18페이지 | 1,000원 | 등록일 2011.06.28

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  나노의 정의와 특징

  )주사형 터널링 현미드는 효소인 ATP synthase의 AFM영상. ... DNA 컴퓨터에서 데이터는 DNA 가닥에 있는 염기분자 쌍으로 표현되며 생체 내에서 만들어지는 2가지 효소가 정보를 읽고 처리하는 하드웨어 역할을 한다. ... NANO 기술은 물질을 NANO 크기의 수준에서 조작, 분석하고 이를 제어할 수 있는 과학과 기술을 지칭함 물질을 나노미터(10-9 m) 크기인 원자, 분자수준에서 현상을 규명하고,

  리포트 | 19페이지 | 1,000원 | 등록일 2010.10.13

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  AFM 구동원리 및 측정방법

  AFM 구조 및 원리 contact mode noncontact mode tapping mode 사진 분석요령Nanostructured Materials LabWhat is the ... 변화정도를 모니터링하면서 샘플표면에 대해 캔티레버 끝에 부착된 팁을 주사하여, 귀환회로가 초기에 설정한 편향값 (초기에 설정한 캔티레버의 휨)을 유지하도록 하기 위하여 각 (x, y) 데이터 ... Materials LabH3PO4 180oC 30min etchNanostructured Materials LabH3PO4 180oC 30min etch line 분석Nanostructured

  리포트 | 20페이지 | 4,000원 | 등록일 2007.06.22 | 수정일 2023.07.20

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  [공학기술]Atomic Force Microscopy(AFM)

  있다.액상에서 존재하는 시료의 연구는 물론 특히 대부분의 생물시료 는 액상에서 존재하고 있는 것을 고려할 때 이러한 Tapping Mode는 자연상태 및 생리조건하에서 시료의 구조분석에 ... 또한 EFM, SCM과 결합되어 차세대 data storage에 응용이 가능하다.- SThM(Scanning Thermal MicroScope) : 열분포현미경: 표면의 열적 분포도를 ... 변화정도를 모니터링하면서 샘플표면에 대해 캔티레버 끝에 부착된 팁을 주사하여, 귀환회로가 초기에 설정한 편향값 (초기에 설정한 캔티레버의 휨)을 유지하도록 하기 위하여 각 (x, y) 데이터

  리포트 | 15페이지 | 2,000원 | 등록일 2007.06.19

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  Ⅱ - Ⅵ 반도체 나노 입자 합성 실험

  Data9. Results이번 실험은 CdSe 나노결정을 합성한 후 Nanocrystal을 UV spectrum으로 분석해보는 실험이었다. ... Data9. Results10. Discussion11. References12. Thanks to1. ... 과학은 탄소 나노 튜브, C,메조포러스 물질, 금속 및 반도체 나노 결정(Nanocrystal, nanocluster, quantum dot)등과 같은 물질 합성 분야와 STM, AFM

  리포트 | 12페이지 | 5,400원 | 등록일 2008.10.31

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  [재료공학과]반도체 제조공정 실험

  기타 분석AFM 표면 분석AES 성분 분석AFM 표면 분석3. ... (AFM) Data(괄호안은 표면 거칠기)- AFM Data를 통해서 50℃일때에는 표면거칠기정도(RMS)는 낮은데 비저항값은 높게 나오는 것을 비저항 그래프와 비교해 봄으로써 알 ... 화학적 기상 증착(CVD)방법을 통한 Co박막 형성 및증착 온도에 따른 Co 성장률 거동 분석1.

  리포트 | 6페이지 | 2,000원 | 등록일 2006.06.23

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  [공학]화학적 기상 증착(CVD) 방법을 통한 Co 박막 형성 및 증착 온도에 따른 Co 성장률 거동 분석

  그 후 100℃이상에서는 크게 감소하다가 다시 120℃부터 감소하기 시작하였다.③ 시편의 표면 분석 (AFM) Data⇒ 시편의 표면 분석을 보면 대체적으로 온도가 증가함에 따라 표면 ... 실험 결과 및 고찰증착 온도 (℃)(K)증착시간(min)두께 (Å)증착률(Å/min)면저항(ohm/ㅁ)기타 분석비저항(㎛-cm)1 조503234240608.7491AFM20.99** ... 조11038322361,1181.0461AFM23.3908012039323121,1561.0213AES23.6124613040318429211.0876AFM20.03359① 증착

  리포트 | 6페이지 | 1,000원 | 등록일 2006.04.10

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