"atomic force microscopy" 검색결과 41-60 / 109건

• 

  Surface characterization by AFM 예비 실험보고서

  실험목적Atomic Force Microscope의 원리에 대해 이해하고 이를 통해 표면을 분석해본다.3. 실험이론? ... 이처럼 탐침의 횡방향 변위를 측정하는 기법을 LFM(Lateral Force Microscopy)이라 한다.일반적으로 접촉모드에서 사용되는 탐침의 힘 상수는 가능한 낮은(k ... 원자간력 현미경(Atomic Force Microscope, AFM)주사 프로브 현미경 (Scanning Probe Microscope, SPM)의 한 종류이다.

  리포트 | 5페이지 | 1,000원 | 등록일 2016.04.15

  다운로드 장바구니
• 

  Li2O-Al2O3-SiO2(LAS)계 결정화유리에서 결정크기와 표면조도 관계

  한국재료학회 김유진, 황성진, 김형순

  논문 | 6페이지 | 4,000원 | 등록일 2016.04.02 | 수정일 2023.04.05

  다운로드 장바구니
• 

  접촉각 측정 및 표면개질 실험 순서

  Dip-pen nanolithography는 AFM(atomic force microscopy)의 tip에서 ink 분자가 표면으로 옮겨가는 과정을 통해 표면에 나노크기의 유기분자

  리포트 | 9페이지 | 1,500원 | 등록일 2018.10.09 | 수정일 2023.02.03

  다운로드 장바구니
• 

  properties of bulk and surface (벌크와 표면의 차이 분석)

  two object Atomic Force Microscopy Repulse regime (contact mode) 0 Far away from surface (out of feedback ... P hase” Atomic Force Microscopy Relation of bulk and surface system Bulk system Surface system “Transition ... : z-position Morphology: A x-y scan Atomic Force Microscopy AFM Principals Detector and Feedback Electronics

  리포트 | 17페이지 | 1,500원 | 등록일 2012.12.07

  다운로드 장바구니
• 

  [고급물리학 실험] SPM과 MODE

  AFM(Atomic Force Microscope 원자간 력 현미경, 원자 힘 현미경)STM이 진공 터널링 전류를 이용 하는 것과 비교하여 실험시료와 탐침의 원자 사이에 작용하는 힘을 ... STM(scanning tunneling microscopy 주사터널현미경)주사 프로브 현미경의 한 예로 바늘을 관찰 대상면 위에 주사하여 포인트마다 얻어지는 프로브와 물체간의 근접 ... 그러나 본래의 팁-시료 상호작용(tip-sample interacition)과 시료 자체의 점착력(adhesive force) 등에 의한 내재적 비선형성이 팁의 응답에 영향을 끼치는

  리포트 | 6페이지 | 3,000원 | 등록일 2010.12.31

  다운로드 장바구니
• 

  금나노 물리화학실험 예비레포트 (금나노 입자 및 금나노 입자응집체합성 및 특성측정)

  확대해서 관찰, 표면구조 관찰*Synthesis (합성)Au3+(HAuCl4) + 3e-(Sodium Citrate) → Au(Atom)n[Au(Atom)] → Aun ClusterAunCluster ... :투과전자현미경)- 전기적 신호를 물질에 투과하여 원자구조를 관찰, 크기측정SEM(Scanning Electron Microscopy:주사전자현미경)광학현미경의 한계이상으로 표면을 ... → 표면적 큼 → 불안정한 상태로 뭉침 -Capping Material 흡착시켜 안정화*Turkevich Methoditrate Ion을 통해 (-)charge Repulsive Force를

  리포트 | 4페이지 | 1,000원 | 등록일 2013.11.24

  다운로드 장바구니
• 

  [물리화학]SPM(Scanning Probe Microscopy)

  PAGE:13AFM (Atomic Force Microscopy)Non-contact modeAttractive van der Waals force : 0.1 ~ 0.01 nNCantilever ... height modeConstant current modePiezoelectric materialsAFM (Atomic Force Microscopy)Contact modeNon-contact ... modeAttractive Vander waals forceIntermittent contact mode..PAGE:12AFM (Atomic Force Microscopy)Contact

  리포트 | 15페이지 | 3,000원 | 등록일 2006.09.20

  다운로드 장바구니
• 

  Two-Dimensional Arrays of Gold Nanoparticles for Plasmonic Nanosensor

  한국재료학회 Sim, Brandon, Monjaraz, Fernando, Lee, Yong-Joong, Park, So-Yeun

  논문 | 7페이지 | 4,000원 | 등록일 2016.04.02 | 수정일 2023.04.05

  다운로드 장바구니
• 

  Functionalization of graphene nanoplatelets using sugar azide for graphene/epoxy nanocomposites

  한국탄소학회 Saswata Bose, Lawrence T. Drzal

  논문 | 6페이지 | 4,000원 | 등록일 2016.04.02 | 수정일 2023.04.05

  다운로드 장바구니
• 

  Exp7 Measuring Properties of Elastomers using AFM Force Curves

  force curve를 측정하여 elastomer의 기본적인 물리화학적 성질을 알아본다.Introduction지난 10년간 화학, 물리, 생물 등의 다양한 분야에서 atomic force ... Exp.7 Measuring Properties of Elastomers using AFM Force CurvesObjectAtomic force microscopy, AFM을 이용하여 ... microscopy는 독자적인 학문 또는 다른 분석 기술의 보조 기술로써 엄청나게 발전해왔다.

  리포트 | 15페이지 | 1,000원 | 등록일 2014.03.28

  다운로드 장바구니
• 

  [계면화학] 계면 및 콜로이드 계에 관련한 중요 분석 기법

  (SEM), atomic force microscopy (AFM) and X-ray diffraction (XRD). ... force microscope (AFM). ... 입자구조가 형성됨을 확인하였으며 TGA 분석에서는 재생반응기로 주입된 수분량에 따라 K2CO3·1.5H2O의 입 transform infrared (FTIR) spectra and atomic

  리포트 | 4페이지 | 1,000원 | 등록일 2013.02.19

  다운로드 장바구니
• 

  Pd 코팅이 실리콘 전계 방출 어레이의 전자 방출에 미치는 영향

  한국재료학회 이종람, 오상표, 한상윤, 강승렬, 이진호, 조경익

  논문 | 6페이지 | 4,000원 | 등록일 2016.04.02 | 수정일 2023.04.05

  다운로드 장바구니
• 

  AFM 실험 보고서

  1.Introduction & Theoretical backgroundAFM (Atomic Force Microscopy)는 광학현미경과 전자현미경의 뒤를 잇는 제3세대 현미경으로, ... Result Analysis and Discussion이번 실험은 AFM (Atomic force microscopy)의 기본 원리와 구조를 이해하고 장비를 이용하여 CD-ROM 표면에

  리포트 | 3페이지 | 1,000원 | 등록일 2012.12.29

  다운로드 장바구니
• 

  산화 공정

  -AFM(Atomic Force Microscopy)날카로운 탐침(Tip)이 표면에 수Å 이내로 접근하며 Scanning이 이루어 지며, 이때 표면과 탐침사이의 작용하는 상호힘에 의한 ... STM(Scanning Tunneling Microscopy)의 경우에는 시료와 탐침사이의 터널 효과(Tunneling effect)를 이용하여 투과전류(Tunneling Current ... 방법은 등간격유지 제어방식으로서 시료의 표면을 Scanning 하는 Cantilever의 탐침(tip)이 시료에 접근하게 되면 탐침과 시료사이의 상호 작용력(interaction force

  리포트 | 9페이지 | 1,000원 | 등록일 2014.04.03

  다운로드 장바구니
• 

  다양한 리소그래피법을 이용한 나노구조 형성

  Cristina Martin-Olmos , Conductivity of SU-8 Thin films through Atomic Force Microscopy Nano -Patterning ... Force Microscopy Nano -Patterning Cristina Martin-Olmos , L. ... Vol. 283, 1999 NanoInk 사 홈페이지 (http://www.nanoink-inc.com)9 Conductivity of SU-8 Thin films through Atomic

  리포트 | 12페이지 | 1,500원 | 등록일 2013.06.17

  다운로드 장바구니
• 

  나노바이오 기술의 개념 및 응용분야 그리고 향후 나노바이오산업의 발전방향을 제시합니다.

  특히 원자힘(atomic force microscopy; AFM) 현미경은 생리학적 조건에 가까운 환경에서 실시간으로 살아있는 세포생물학하게 연구되는 분야 중의 하나로서, 크게 바이오칩 ... , 항원-항체 등)의 상호 작용력에 대한 연구가 활발히 수행되고 있다.최근 10년간 나노테크놀로지 장을 연 스캐닝 탐침 현미경(scanning probe microscopy; SPM ... 아직은 시작단계에 있지만 고분해능을 가지는 SPM(scanning probe microscopy)중 광학적인 특성을 동시에 관찰할 수 있는 NSOM(near-field scanning

  리포트 | 20페이지 | 3,000원 | 등록일 2014.04.23

  다운로드 장바구니
• 

  Nanofabrication by Polymer Self-assembly

  또한 PS-b-P4VP의 inverse micelle monolayer를 template로 삼아 Core-centered Cluster (Au-CC)를 만들어보고, Atomic force ... microscopy(AFM), Scanning electron microscope(SEM)를 이용하여 얻은 이미지를 해석하고 UV-visible spectrometer를 사용하여 ... 먼저 AFM는 가늘고 날카로운 tip을 가진 cantilever로 구성되어있는데 이 tip은 sample과 약 10nm의 간격을 유지하면서 sample과의 force를 측정하게 된다

  리포트 | 10페이지 | 5,000원 | 등록일 2014.12.13 | 수정일 2018.10.09

  다운로드 장바구니
• 

  산화 공정 (Oxidation) 분석 [A+]

  -Atomic Force Microscopy (AFM)원자간력 현미경 (Atomic Force Microscope, AFM)은 주사 프로브 현미경 (Scanning Probe Microscope

  리포트 | 4페이지 | 1,000원 | 등록일 2012.11.23

  다운로드 장바구니
• 

  Surface_Science_2008_Ch3

  (STM) Atomic Force Microscopy (AFM) Reflection High Energy Electron Diffraction (RHEED)Why is UHV necessary ... polarity by CAICISS (CAICISS: Co-Axial Impact Collision Ion Scattering Spectroscopy) Scanning Tunneling Microscopy ... Detect topmost a few atomic layers and several tens of bellow atomic layers Detector: Time of Flight

  리포트 | 108페이지 | 1,000원 | 등록일 2011.12.19

  다운로드 장바구니
• 

  현미경의 이해 및 사용법 실습

  electron microscope) SEM (Scanning electron microscope) 원자 현미경 (AFM, Atomic Force Microscope, Scanning ... ) 형광 현미경 (Fluorescece microscope) 해부현미경(Dissecting microscopy ) 전자 현미경 ( Electron microscope ) TEM (Transmission ... contrast microscope) 간섭현미경(interference microscope) 암시야현미경(dark-field microscope) 편광 현미경 (Polarized light microscopy

  리포트 | 20페이지 | 2,000원 | 등록일 2013.01.11 | 수정일 2014.12.15

  다운로드 장바구니