"Scanning Probe Microscope" 검색결과 61-80 / 172건

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  AFM정의, 특징

  원자간력 현미경 (Atomic Force Microscope, AFM)은 주사 프로브 현미경 (Scanning Probe Microscope, SPM)의 한 종류이다.

  리포트 | 2페이지 | 1,000원 | 등록일 2010.10.04

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  [화학과 물리화학 실험] SPM-STM(Scanning Tunneling MicroScope)과 AFM(Atomic Force MicroScope)

  을 포함하는 주사탐침현미경 (Scanning Probe MicroScope)이다.Fig.. ... Microscopes), Nanolithography, SThM(Scanning Thermal MicroScope), EC-SPM(Electrochemistry Scanning Probe ... Probe MicroScope)으로 불리 운다.1.

  리포트 | 8페이지 | 1,000원 | 등록일 2008.12.27

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  LG전자 합격 자소서

  또한, OM(Optical microscope)과 SEM(Scanning Electron Microscope)을 통한 표면 분석 등을 직접할 수 있게 되었습니다. ... Calorimetry), TGA(ThermoGravimetric Analysis), DMA(Dynamic Mechanical Analysis)를 통한 열분석, 4-probe를 이용한 ... 전공지식을 직접 이용하고, 느끼게 해주게 된 계기는 대학원에 진학하면서부터입니다.IR과 NMR을 통한 샘플의 화학적 분석, UTM을 이용한 물성 측정, DSC(Differential Scanning

  자기소개서 | 4페이지 | 4,000원 | 등록일 2011.09.11 | 수정일 2020.09.15

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  SEM 이론, 구성, 원리 및 현상

  SEM(Scanning Electron Microscope)의 Lens는 크게 Condenser Lens(집속렌즈)와 Objective Lens(대물렌즈)로 구성된다. ... Condenser Lens의 축소율은 1/50 ~ 1/100, Objective Lens의 축소율은 1/5 ~ 1/50 로 축소되며, 집속 된 전자선을 probe라고 한다. ... )이나 AEM(Analytical Electron Microscope)등에 많이 사용되고 있다.2.

  리포트 | 17페이지 | 1,500원 | 등록일 2011.11.19

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  AFM(Atomic Force Microscopy, 원자 현미경)

  실험원리▨ 원자현미경원자나 분자단위의 미세한 나노세계는 이전에는 볼 수 없는 영역이었으나, 1980년대에 발명된 원자현미경(SPM: Scanning Probe Microscope)으로 ... Probe Microscope의 약자로서 물질의 표면특성을 원자단위까지 측정할 수 있는 새로운 개념의 현미경을 총칭하는 말이다. ... 원자현미경의 효시는 STM(Scanning Tunneling Microscope)이며 가장 널리 쓰이는 원자현미경은 AFM(Atomic Force Microscope)이다.

  리포트 | 15페이지 | 6,000원 | 등록일 2010.06.12 | 수정일 2020.09.15

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  생물학_및_실험_현미경의_관찰

  원자현미경 (Scanning Probe Microscopy)표본의 포면을 캔틸레버가 주사하면 캔틸레버 끝 탐침의 원자와 시료표면의 원자 사이에 인력과 척력이 작용하여 캔틸레버가 휘어지게 ... 시료를 염색하지 않아도 되므로 살아 있는 시료를 관찰할 때 주로 사용된다.간섭 현미경(interference microscope)물체가 빛을 지연시키는 현상을 이용한다. ... 광학현미경 : 유리렌즈로 가시광선을 통해 관찰하며, 칼라로 관찰이 가능하다.종류특징일반 광학 현미경(Light Microscope; LM)대물렌즈에서 확대한 상을 접안렌즈에서 2차

  리포트 | 5페이지 | 1,000원 | 등록일 2010.11.20

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  생활속 나노과학

  ‘나노 스케일’은 인간의 눈으로 볼 수 없다.1953년 제임스 왓슨, 프랜시스 크릭 DNA 이중나선 구조를 발견했지만, 주사(走査)프로브현미경(SPM, Scanning Probe Microscope ... 탐침이 너무 가늘기 때문에 파손되기 쉽다.- 원자간력현미경(AFM, Atomic Force Microscope)원자간력이란 원자끼리 끌어당기거나 밀어내는 힘을 말한다.

  리포트 | 18페이지 | 2,000원 | 등록일 2013.05.21

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  [화학과 물리화학 실험] SPM-STM(Scanning Tunneling MicroScope)과 AFM(Atomic Force MicroScope)

  을 포함하는 주사탐침현미경 (Scanning Probe MicroScope)이다.Figure1. ... Microscopes), Nanolithography, SThM(Scanning Thermal MicroScope), EC-SPM(Electrochemistry Scanning Probe ... Probe MicroScope)으로 불리 운다.2-2.

  리포트 | 9페이지 | 1,000원 | 등록일 2009.01.21

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  AFM

  (Scanning Tunneling Microscope)과 AFM (Atomic Force Microscope)을 통칭하여 부르는 용어로서 날카로운 탐침 (Probe 혹은 Tip) ... 이 표면에 수 Å 이내로 접근하여 Scanning하여 표면분석을 하는 분석용 장비임. ... 100Å 배율 시료의 환경 대기, 진공 대기, 진공, 용액 진공 시료의 제한 도전성의 고체 거의 모든 고체 도전성의 고체 시료의 손상 없음 적다 크다 측정시간 ~분 ~분 ~100초 probe

  리포트 | 11페이지 | 2,000원 | 등록일 2008.06.17

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  분광법(XPS, AES) 과 현미경 (SEM, TEM, STM, AFM)을 이용한 표면 분석 원리

  이는 SEM 영상의 X-선 형광분석을 할 수 있는 기본이 된다.주사 탐침 현미경 (Scanning probe microscopes, SPM)SPM은 원자 수준 크기까지 시료의 표면을 ... 전자 현미경 분석법 중 두가지 중요한 방법은 주사 전자현미경 법 (Scanning electron microscopy, SEM) 과 투과 전자 현미경 법 (Transmission Electron ... 기록한다.이와 같은 스펙트럼은 표면의 첫 번째 층의 흡착물질 등의 기능기를 확인하는데 사용되며 산호 현상 및 배위수 등의 화학적 결합에 대한 정보를 제공한다.4) 주사 전자 현미경 법 (Scanning

  리포트 | 6페이지 | 3,000원 | 등록일 2012.10.19

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  SEM과 X선 분광분석 (EDS)

  그러나 이 글에서는 최근 나노기술의 발달과 함께 각광을 받고 있는 주사전자현미경(Scanning Electron Microscope)과 에너지 분산형 X-ray 분광분석기(Enery ... Line-Scan Multi-Point Scan또한 Sequential Mapping 기능을 활용하여 관심있는 구역 또는 일련의 point를 mapping 할 수 있으며 여러 장의 ... Electron Detector)후방산란전자후방산란전자현미경(SEM + Back Scattered Electron Detector)투과전자투과전자현미경 (TEM)특성 X선Electron Probe

  리포트 | 10페이지 | 1,000원 | 등록일 2012.05.22

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  주사전자현미경

  주사전자현미경SEM(Scanning Electron Microscopy)- 목 차 -*현미경의 종류*1. 광학현미경(LM, Light Microscope)2. ... 주사전자현미경(Scanning Electron Microscope)4. 주사전자현미경의 개요5. 주사전자현미경의 역사6.주사전자현미경의 원리7. SEM의 기본적 구조 및 기능8. ... 높은 분해능을 원한다면 대물렌즈를 투과한 전자를 가능하면 표본의 표면에 근접시키고 수렴된 전자를 가능한 작은 각도로 최소화한 전자선(probe spot)으로 좁은 면적을 주사(scanning

  리포트 | 39페이지 | 2,000원 | 등록일 2010.11.04

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  원자 현미경

  Probe Microscope)원자현미경의 효시는 STM(Scanning Tunneling Microscope) 가장 널리 쓰이는 원자현미경은 AFM(Atomic Force Microscope ... EFM(Electrostatic Force Microscope), SCM(Scanning Capacitance Microscope), STM(Scanning Thermal Microscope ... ) 그이후 MFM(Magnetic Force Microscope), LFM(Lateral Force Microscope), FMM(Fore Modulation Microscope),

  리포트 | 5페이지 | 1,000원 | 등록일 2009.12.07

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  nanotechnology

  Probe Microscope : SPM)을 이용한 리소그래피나노 공정 및 제조 기술Bottom-up 접근 방법 - 자체조립 시스템나노 각인(Nano-imprint)을 이용하는 방법나노 ... 나노 합성물로 이루어진 내열성 플라스틱 제품들을 선보였다.원자 배열을 이용한 STM실리콘(001) 표면 위에 배열된 게르마늄 원자들의 STM(Scanning Tunneling Microscope ... ㎛ 즉,100nm의 시대 예상 - 현재의 리소그래피 [전자선(E-beam), 극자외선(Extreme Ultra Violet : EUV), X선, 이온 빔 등] 주사형 탐침 현미경(Scanning

  리포트 | 20페이지 | 3,000원 | 등록일 2010.06.23

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  현미경의 종류와 원리 및 특징

  X선현미경 (X-ray Microscope)11. 주사형 현미경 (Scanning Probe Microscope)12. ... 공초점 레이져 현미경 (Confocal Laser Scanning microscope)\13. 이온 현미경 (Ion Microscope)14. ... 주사전자현미경 (Scanning Electron Microscope)19. 투과전자현미경 (Transmission Electron Microscope)참고문헌1.

  리포트 | 14페이지 | 1,500원 | 등록일 2008.06.01

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  AFM Pre-report

  일반적으로 액체와 진공상태에서의 Tapping mode에서 사용되는 probe의 재질은 다르다.4. ... Exp11Atomic Force Microscope화공과 20071247 김종훈9조, 조원: 신동훈, 양승희, 추혜선Ⅰ Object이 실험에서는 AFM(Atomic Force Microscope ... AFM 특징1) STM(Scanning Tunneling Microcopy)의 문제점 해결STM과 주사형전자현미경(SEM)처럼 진공을 만들 필요가 없으며, 대기 중에서 측정이 가능하다

  리포트 | 6페이지 | 5,000원 | 등록일 2011.01.25

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  흥미로운 화학이야기와 그 상세원리들

  Probe Microscope )나노 세계를 본격적으로 여는 도구원자현미경-1981년 비니히 박사와 로러박사수천만 배율탐침을 이용하여 원자 구조를 탐사하는 새로운 개념의 현미경을 ... 총칭주사탐침현미경원자 현미경의 종류STM(Scanning tunneling microscope, 주사터널링 현미경)탐색하는 원자와 탐침 간에 걸리는 터널전류를 이용해 측정도체만을 측정AFM ... 관찰주사전자현미경가속된 전자가 초점이 맞추어진 전자선을 주사튀어나온 2차 전자를 모아서 검출한, 기계장치를 통해 영상화표면만을 관찰, 완전한 원자 관찰도구로 미흡원자 현미경 SPM(Scanning

  리포트 | 7페이지 | 2,000원 | 등록일 2011.05.15

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  반도체 공동 연구소 기본 공정교육(3일) 실습보고서(MOS Capacitor 제작 및 C-V 측정 보고서)

  ▷CD-SEM 장비 (Critical Dimension Scanning Electron Microscope) : wafer 상의 pattern의 크기 및 배치 검사. ... Wafer Flat zone 부분에 마킹(웨이퍼 구별)▷Sono Gauge를 이용하여 Wafer 두께 및 초기 비저항 측정▷비저항 & 도핑농도 그래프를 통해 도핑농도 확인(4-Point Probe도

  리포트 | 9페이지 | 3,000원 | 등록일 2013.08.31

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  원자력현미경AFM(atomic force microscope)

  원자력 현미경(AFM)은 주사 프로브 현미경(Scanning Probe Microscope, SPM)의 한 종류이다. ... 원자력 현미경 AFM (Atomic Force Microscope)IndexWhat is the AFM ?? ... Probe Microscopy)을 개발하여 이 분야의 연구인과 산업체에 공급하는 벤처기업이다.

  리포트 | 14페이지 | 2,000원 | 등록일 2009.07.28

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  나노 측정 장비

  STM이란STM은 Scanning Tunneling Microscope의 약자로서 터널링 전류를 이용하여 원자 수준의 해상도를 가지는 현미경으로서 뿐만 아니라 원자나 분자를 조작할 ... 이 기술은 재현 가능성이 매우 높아 나노 장치를 만드는데 적절할 것으로 보인다.다이스케 후지따는 “우리는 주사형 검침 현미경(scanning probe microscopy) 기술을 ... Yang은PUN(3-phenyl-1-ureidonitrile)을 STM(scanning tunneling microscope)의 높은 전기장으로 국부 중합체화(polymerization

  리포트 | 46페이지 | 3,000원 | 등록일 2012.11.29

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