"Electron beam" 검색결과 161-180 / 940건

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  인간과과학1공통) 3D 프린터의 원리를 조사하고, 이것이 상품의 생산과 판매 방식을 어떻게 바꿀 것인지 생각해보시오

  적층물 제조 방식, 디자인한 모델의 단면 모양대로 잘려진 점착성 종이, 플라스틱, 금속판 등을 접착한 채로 적층시키는 조형 방식.(5) EBM (Electron Beam Melting

  방송통신대 | 11페이지 | 6,000원 | 등록일 2018.09.10

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  e/m apparatus 전하비 측정 실험 (pasco)

  , the magnetic field produced by the Helmholtz coils, and the radius of the electron beam. ... Since the electron beam in this experiment is perpendicular to the magnetic field, the equation can be ... beam path4.

  리포트 | 5페이지 | 1,000원 | 등록일 2015.10.11

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  thermal evaporator(서머 이베퍼레이터), E-beem evaporator(이빔 이베퍼레이터) 조사 레포트

  , 증착속도는 필라멘트에 공급하는 전류량을 조절함으로 써 변화시킬 수 있다.Electron Beam Evaporation 란? ... Electron beam source 인 hot filament에 전류를 공급하여 나오는 전자 beam을 전자석에 의한 자기장으로 유도하 여, 증착재료에 위치시키면 집중적인 전자의 ... [기본정의]Electron Beam(전자 빔을 통한) Evaporation.- 전자 빔을 이용한 증착방법은 증착재료의 용융점이 넓은 경우(텅스텐, Nb, Si 등)에 주로 사용된다.

  리포트 | 9페이지 | 3,000원 | 등록일 2015.05.30 | 수정일 2015.10.04

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  [화공실험]분광광도법에 의한 철의 정량(UV측정) 실험 보고서

  겹빛살형 분광광도계의 경우, Beam splitter는 빛을 두 갈래로 쪼개는 역할을 한다. ... 주로 -electron 혹은 원자가 전자(valence electron)는 특정 파장의 자외선 또는 가시광선을 받으면 anti-bonding molecular orbital로 전이되었다가 ... 나누어진 두 빛은 reference와 sample에 시간적으로 동시에 통과하게 되면서 두 측정의 시간적 차이를 거의 없앤다.6) 스펙트럼 데이터 분석분자 내 이중결합에 존재하는 π-electron이

  리포트 | 6페이지 | 1,000원 | 등록일 2019.03.23

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  연세대학교 신소재공학과 재료공학기초실험 SEM 주사전자현미경

  전자현미경은 광학현미경(Light Microscope)에서 사용하는 가시광선(visible rays) 대신 전자선(electron beam)을, 또한 유리렌즈(glass lens) ... gun)과 전계방사형(field emission electron gun)으로 나뉘어진다. ... BackgroundSEM 주사전자현미경(Scanning Electron Microscope)은 고체 상태에서 작은 크기의 미세 조직과 형상을 관찰할 때 널리 쓰이는 현미경으로서 복잡한

  리포트 | 5페이지 | 1,000원 | 등록일 2018.05.08

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  아주대학교 중급물리학실험 3d printer 예비보고서 A+ 자료

  Beam Melting) : 전자빔을 이용하여 금속파우더를 녹여 제품을 조형하는방식DMLS (Direct Metal Laser Sintering) : 직접 금속 파우더를 레이저를 ... 입체적으로 조형 하는 방법.LOM (Laminated Object Manufacturing) : 접착성 종이, 플라스틱, 금속판 등을 접착하여층을 쌓는 적층물 제조 방식EBM (Electron

  리포트 | 3페이지 | 1,000원 | 등록일 2018.02.03

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  thermal ebeam evaporator 증착조사

  이후로는 진공 상태에서 시료가 정상적으로 기판에 증착되는 연속적인 과정으로 이어진다.전자 빔을 이용한 증착방식은 증착재료의 용유점이 높을 경우에 주로 사용된다. electron beam ... 방법으로우선 5~10 KeV로 electron을 가속시킵니다.이 운동에너지가 target에 부딪히면서 열 에너지로 전화되고 target 물질이 evaporation 하게 됩니다. ... evaporatorE-beam evaporationE-beam evaporator의 원리는 다음과 같다.전압이 필라멘트를 가열하고 가열된 필라멘트는 열전자를 방출하고, 이 방출된

  리포트 | 9페이지 | 1,500원 | 등록일 2015.12.03

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  mems 논문 조사 (dlp)

  DMD 광 스위치는 미러의 beam steering 동작에 의해 신속하게 조명을 켜고 끌 수 있다. ... 그리고 아날로그 프로젝션 시스템으로 얻을 수 있는 것보다 더 높은 정확성과 안정성을 제공한다.2.3 DMD cell architecture and fabrication (생략)2.4 Electronic ... DMD를 적절한 광원과 projection 광학계와 결합하면, 거울은 입사광선을 simple beam-steering 테크닉으로 프로젝션 렌즈의 구멍 안으로 반사하거나 밖으로 반사한다

  리포트 | 5페이지 | 1,000원 | 등록일 2018.05.30

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  용접의 분류와 특성

  WeldingEBWLaser Beam WeldingLBW2. ... ) 수동 용접에 비해 4~6 배의 용접이 빠르다.3) 한 pass 로 용접할 수 있어 모재의 변형이 적다.4) 구리로 만든 수냉판을 모재에 밀착시켜서 비드 외관이 아름답다.2.9 ELECTRON ... Metal Arc WeldingGMAWSubmerged Arc WeldingSAWArc (Semi-Arc)Electro-slag WeldingESWHigh EnergyElectron Beam

  리포트 | 12페이지 | 1,500원 | 등록일 2017.01.24

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  자외선분광법.분광광도법.uv-vis.spectrometer.자외선 분광법을 이용한 분석사례

  Figure.1-3 PDA(Photodiode Array) tagnetic resonance spectroscopy), Auger 전자분광법(Auger Electron Spectroscopy ... Beam type)일반적으로 Scanning type의 분광광도계는 홑 빗살형(Single Beam type) 과 겹 빗살형(Double Beam type)으로 분류된다. ... )과 겹 빗살형(Double Beam) 또는 Scanning type 과 PDA type 등으로 분류 할 수 있다.1) 홑 빗살형(Single Beam) & 겹 빗살형(Double

  리포트 | 28페이지 | 3,000원 | 등록일 2016.08.30 | 수정일 2021.05.20

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  예비보고서-오실로스코프사용법,리사쥬도형에의한주파수측정

  Electron guns1. Electron beams1. ... Electron gun3. Electron beam4. Focusing coil5. Phosphor-coated inner side of the screen? ... Mask for separating beams for red, green , and blue part of displayed image1.

  리포트 | 14페이지 | 1,000원 | 등록일 2016.02.03 | 수정일 2016.12.01

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  ITO Glass에 대한 소개와 쓰임

  Beam Evaporation● 전자빔을 이용한 진공증착(Electron Beam Evaporation)은 매우 높은 전압을 가하여 필라멘트에서 방출된 열전자들을 증발원에 충돌시킴으로써 ... 한다.● 이 음이온 들은 target과 기판 사이에 형성된 전기장 내에서 높은 운동에너지(kinetic energy)를 발생시켜, ITO코팅이 보다 우수한 물성을 가질수 있게 한다.Electron ... 코팅방법에 비하여 작업조절이 용이하고 0.50.60.70.61.00.60.7금속의 sputtering yield(atom/ion)NSIB(Negative Sputtering Ion Beam

  리포트 | 7페이지 | 1,000원 | 등록일 2010.05.14

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  [방사선치료학]광자선치료의 이용분야

  장치4 Linac 장치의 구성 - 고주파 발진부 (Microwave Network) : Magnetron, Klystron, wave guide, 펄스전원 - 가속부 : 전자총 (electron ... 치료부위내의 정상조직을 최소화하고 종양부위에만 방사선이 조사되도록 종양의 모양과 거의 같은 3 차원적 방사선분포를 갖는 치료 4~10 개정도의 beam 환자로부터 얻은 CT, MRI ... 전달 방식은 Gantry Rotation 시 MLC 의 선속을 조절하여 가는 Beam 의 형태로 전달이 가능 빔 선속의 폭은 일반적으로 사용하는 외부방사선치료장비인 LINAC 의

  리포트 | 23페이지 | 2,000원 | 등록일 2017.04.06

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  [A+ 최우수자료] CT (컴퓨터 단층촬영) 핵심요약 정리집

  beam CT : EBCT]= EBT(Electron Gun Tomography)Scan time 이 일반 CT 보다 매우 빠르다. - > 심혈관계(불수의(involuntary)운동 ... 회전부하 필요, gantry 내의 복잡한 구성장치들로부터 발생하는 열과 slip ring에 저압의 직류를 보내기 때문에 높은 전류가 흘러 발생하는 열을 방출하기 위해 냉각에 주의[Electron ... [세대별 구분]1세대 : 단일 선속(pencil beam) - 회전 및 횡단2세대 : 다수의 연필형 선속(좁은 부채꼴(Narrow Fan Beam) - 회전 및 횡단3세대 : 넓은

  리포트 | 7페이지 | 2,000원 | 등록일 2015.09.28

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  [무기합성화학] 화학분석장비의 종류와 원리

  검출방법에 따라 이들을 EBIC (Electron Beam Induced Current) 혹은 전압 대조라 하고, 반도체 소자의 연결결함 검사, 작동상태의 검증 등에 활용된다. ... 전자선이 조사될 때 후방 산란 전자(back scattered electron), 2차 전자(secondary electron), X선, 음극 형광 등이 발생된다. ... (Scanning Electron Microscope)주사전자현미경의 원리전자발생원(electron source)으로부터 전자선을 조사해 미소한 점으로 초점을 맞추고, 검출기로 미소점에서의

  리포트 | 23페이지 | 1,500원 | 등록일 2017.06.22

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  메모리의 개념 과 종류 및 특징

  즉 계면에서의 이러한 현상에 의해 NDR현상이 일어나게 되고 메모리 특성 또한 나타나게 되는 것입니다.(2) 국부적 영역에서의 전도 및 스위칭BIC(Electron-beam-induced ... conducting filament의 형성을 위해 인가된 전압 아래로 이동하고, filament 가 Reset 과정에서 높은 전류의 흐름으로 인한 저항성 열로 인해 파괴되는 것입니다.Electronic

  리포트 | 14페이지 | 1,000원 | 등록일 2018.08.20

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  티탄산바륨(BaTiO3) 고상 반응법 합성 실험. 재료과학실험.

  격자면으로부터의 반사파가 위상이 같아지므로 반사파가 강화되어 그 방향으로 회절이 나타나고, 충족되지 않으면 격자면에 의한 반사는 나타나지 않는다.분말시료에 단색의 가는 X선 다발(X-ray beam ... ), 또는 반사전자(back scattered electron)를 검출기로 검출하고 증폭하여 화면상에 확대화상을 표시하거나 기록하여 시료의 형태, 미세구조의 관찰이나 구성원소의 분포 ... 무질서, Random)적으로 있으면 어느 격자면에 의해서도 회절조건을 만족하는 각도(입사X선(Incident X-Rays)에 대하여는 2q)를 갖는 격자면은 분명히 존재한다.그러므y electron

  리포트 | 17페이지 | 1,500원 | 등록일 2019.04.19

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  카이스트 분자공학실험 The optical properties of organic photoeletric materials 결과 보고서

  One beam is used as the reference and the other beam is made to pass through the sample. ... .- As we know the equation E = hc/λ = (1240 eV · nm)/λ(nm). we can convert to electron volts.FilmAnnealed ... Electron volts of each sample- According to the date analysis, we could compare the E between three samples

  리포트 | 5페이지 | 2,000원 | 등록일 2015.10.10

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  박막 분석 장비의 원리와 종류 (SEM, 4-Point Probe, XRD, AFM, EFM)

  Schematic of Parallel Beam Method Fig 9. ... 초점이 맞추어진 전자빔에 의해 시편의 아주 작은 부분에서 신호가 발생되면 detector는 이러한 신호들(secondary electron, back-scattered electron ... Schematic of Parallel Beam MethodFig 9. Schematic of Focusing MethodFig 10.

  리포트 | 22페이지 | 2,500원 | 등록일 2015.01.08 | 수정일 2023.04.29

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  플라즈마분자선에피탁시법으로 성장한 산화비스무스아연 박막의 구조특성

  한국재료학회 임동석, 신은정, 임세환, 한석규, 이효성, 홍순구, 정명호, 이정용, 조형균

  논문 | 5페이지 | 4,000원 | 등록일 2016.04.02 | 수정일 2023.04.05

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