"전자 현미경. ESCA" 검색결과 1-16 / 16건

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  표면분석 정리

  , XPS), 또는화학분석 전자 분광법(electron spectroscopy for chemical analysis, ESCA)→ 가장 많이 사용 → 시료표면을 단색 X-선으로 쪼여줌 ... , AFM)등→ 두 방법(ⓑ, ⓒ): 주사 탐침 현미경법(scanning probe microscopy, SPM)* 주사 전자 현미경(SEM)* 센 에너지를 가진 전자 살로 고체 시료 ... 깊이방향 분포 분석* 선주사( line scanning)→ 100μm 이상의 직선을 따라 거리의 함수로 고체의 표면조성을 측정* 주사 전자현미경법ⓐ 주사 전자 현미경법(scanning

  시험자료 | 5페이지 | 2,000원 | 등록일 2017.04.09

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  여러가지 분석장비

  따라서 주사전자현미경은 시편의 크기에 그다지 제약을 받지 않을 뿐만 아니라 파장분산형 X선 측정기(WDS)또는 에너지 분산형 X선 측정기(EDS)등의 부가 장치들을 현미경에 장착시킬 ... 제목 : 전자현미경간단설명 : SEM 이란 10-3Pa이상의 진공 중에 놓인 시료표면을 1~100nm 정도의 미세한 전자선으로 x-y의 이차원방향으로 주사하여 시료표면에서 발생하는 ... 이의 가장 큰 이용 모니터 화면세 표시하기도 하고 컴퓨터를 이용하여 저장, DB화 시킬 수 있다.제목 : ESCA(Electrom Specroscopy for Chemical Analysis

  리포트 | 8페이지 | 2,500원 | 등록일 2008.05.19

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  전자현미경의 시료전처리

  주사전자현미경의 기본원리와 응용1. 전자현미경의 기본개념2. 전자현미경의 발전과정3. 주사전자현미경의 구성4. 전자현미경 시장의 전망5. ... 일반 시료의 준비과정주사전자현미경(SEM)은 기본적으로 시료의 표면을 관찰하므로 광학현미경 또는 투과전자현미경(TEM)과 약간의 차이가 있다. ... 전자현미경과 X선 분광분석 (SEM-EDS)6. SEM 시료 전처리법6.

  리포트 | 13페이지 | 1,000원 | 등록일 2012.05.22

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  완전 이해 잘되는 [분광학적 분석 방법] 레포트

  XRF, FT-IR, FT-NMR등이있다.ⓐ ESCA/AES (분광분석계)① 원 리: Mono-energetic X-ray를 이용해 시료표면 원자의 전자를 떼어내고그 전자의 운동에너지를 ... 분자구조를 확인하는데 이용된다.이때 시료(기상or액상)가 여러 성분의 혼합물일 경우에는분석이 곤란하므로 GC로 혼합물을 성분별로 분리하여GC detector로 검출하거나 고체시료를 현미경으로 ... 그런 유기화합물의 구조는 시약과 반응을 이용한 방법도 있지만 기기를 이용한 분광학적인 방법을 이용하여 구하기도 한다.분광학적 분석 방법에는 ESCA/AES, UV/VIS, ICP,

  리포트 | 7페이지 | 1,000원 | 등록일 2012.03.26

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  분광학적 분석 방법

  XRF, FT-IR, FT-NMR등이있다.ⓐ ESCA/AES (분광분석계)① 원 리: Mono-energetic X-ray를 이용해 시료표면 원자의 전자를 떼어내고그 전자의 운동에너지를 ... 분자구조를 확인하는데 이용된다.이때 시료(기상or액상)가 여러 성분의 혼합물일 경우에는분석이 곤란하므로 GC로 혼합물을 성분별로 분리하여GC detector로 검출하거나 고체시료를 현미경으로 ... 그런 유기화합물의 구조는 시약과 반응을 이용한 방법도 있지만 기기를 이용한 분광학적인 방법을 이용하여 구하기도 한다.분광학적 분석 방법에는 ESCA/AES, UV/VIS, ICP,

  리포트 | 6페이지 | 1,000원 | 등록일 2012.02.03

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  분광학적 분석 방법

  XRF, FT-IR, FT-NMR등이있다.ⓐ ESCA/AES (분광분석계)① 원 리: Mono-energetic X-ray를 이용해 시료표면 원자의 전자를 떼어내고그 전자의 운동에너지를 ... 분자구조를 확인하는데 이용된다.이때 시료(기상or액상)가 여러 성분의 혼합물일 경우에는분석이 곤란하므로 GC로 혼합물을 성분별로 분리하여GC detector로 검출하거나 고체시료를 현미경으로 ... 그런 유기화합물의 구조는 시약과 반응을 이용한 방법도 있지만 기기를 이용한 분광학적인 방법을 이용하여 구하기도 한다.분광학적 분석 방법에는 ESCA/AES, UV/VIS, ICP,

  리포트 | 5페이지 | 1,000원 | 등록일 2011.12.18

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  표면분석장비(SEM,TEM,XPS,AES,RBS,EPMA,SIMS)의 원리와 분석방법, 특징

  분광법(=ESCA, electron spectroscopy for chemical analysis, 전자분광 화학분석법)AES : Auger electron spectroscopy ... : Electron probe micro analyzer 전자탐침 마이크로분석기TEM : Transmission electron microscopy, 투과전자현미경법RBS : Rutherford ... , 오제 전자 분광법SIMS : Secondary ion mass spectroscopy, 이차 이온 질량분석법SEM : Scanning electron microscopy, 주사전자현미경법EPMA

  리포트 | 18페이지 | 2,000원 | 등록일 2012.06.28

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  표면 분석법 - 광전자 분광법(XPS, UPS 등)의 원리와 응용

  이 방법은 흔히 ESCA(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis)라는 별명으로도 알려져 있다.이 장치는 광원인 X선과 광전자의 운동에너지를 측정하는 ... 개발이나 반도체 소자의 개발, 각종 촉매의 개발 등 여러 분야에서 물질의 표면을 분석하는 일이 중요한 역할을 차지하는 경우가 많아 졌다.표면 분석의 방법에는 여러 종류가 있는데 현미경과 ... ~500eV)탄성산란전자표면원자구조(단결정),흡착종의구조RHEED고속전자(1~20keV)탄성산란전자표면원자구조(단결정),결정입자구조SEXAFSX선Auger 전자,이차전자국부원소분석SEM전자beam

  리포트 | 19페이지 | 2,000원 | 등록일 2012.03.06

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  ESCA(XPS)원리와 특징

  11)터보분자, 저온냉각, 이온 펌프원자핵 연구, 입자가속, 물리연구, 우주실험10-9 ~ 이하극고진공 (Extremely High Vacuum)터보분자, 저온냉각, 크라이오 펌프전자현미경 ... 분석기 : 방출되는 광전자의 에너지 분별 전자검출기e-분석기분석기기록선별증폭ESCA(XPS)의 장비 구성 및 역할(4)X-ray source (1)ESCA(XPS)의 장비 구성 및 ... 시료에 따라서 광전자의 방출에 의한 전자부족으로 하전 현상이 일어나 피크들이 조금씩 이동하는 경우가 많다.ESCA(XPS)의 분석 및 응용(2) -조 성 분 석************

  리포트 | 34페이지 | 2,000원 | 등록일 2007.06.11

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  전자 현미경의 원리와 기능에 따른 분류(SEM,TEM, XPS, AES, EDS, STM)

  전자 현미경1.전자현미경의 정의 및 기능2.전자현미경의 종류와 응용1>SEM(주사전자현미경)2>TEM(투과전자현미경)3>XPS(ESCA)4>AES5>EDS6>STM3.참고문헌2001274정재훈1 ... 전자 현미경의 정의 및 기능1>전자현미경의 정의① 전자 현미경이란 맨 눈으로 보지 못하는 것을 보는 것이다. ... 현미경의 빛을 대신하여, 전자 현미경은 전자빔을 이용한다.

  리포트 | 18페이지 | 2,500원 | 등록일 2006.12.22 | 수정일 2017.11.04

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  고분자의 표면과 계면 과 분석기기(SEM,TEM,STM,AFM)

  분석기기4.1 ESCA(XPA)x-ray photoelectron spectroscopy 시료에 x선을 조사하면 흡수하여 방출된 전자의 결합에너지 측정 1) 시료의 구성성분 분석 2 ... AFM구조도분석기기 정리광학현미경전자현미경원자현미경광원: 빛, 광학렌즈를 사용, 표면을 통과한 빛이 대물렌즈로 실상을 맺고 접안렌즈로 재확대된 상 관찰 최대배율 1000배전자빔, 전자렌즈를 ... 주사전자현미경의 단순화된 구조Scanning Electron (SEM)빛 전자의 흐름이용(음극선) ; 주사전자현미경 전자선이 시료의 면위를 주사할때 발생하는 이차전지, 반사전지를 신호원으로

  리포트 | 28페이지 | 3,000원 | 등록일 2007.12.03

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  [박막공학과 성분분석] 성분분석법 및 박막증착법

  , 주사전자현미경, X-선 마이크로분석기, ESCA응용면에 걸친 소프트개발을 하기위해 필요한 요소에 이용이온마이크로 분석기, 오제이(Auger) 전자분광, 러더포드 후방산란 분광전자선을 ... 이것이 각종 미세 구조의 형태해석에 전자현미경이 쓰이는 이유이다.시료에 전자선이 조사되면 투과하는 전자선 외에 시료표면층에 반사하는 표면 층이 있는데, 이 반사하는 전자에는 입사전자와 ... 이용하는 분석원리의 이해전자선 가속전압 V와 de Brogile 파장 λ, Å과의 사이에는 λ≒150/V의 관계이기 때문에 전자현미경에서 V를 크게 함으로써 λ 즉 d를 상당히 적게

  리포트 | 21페이지 | 1,500원 | 등록일 2004.12.16

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  [재료공학] 전자현미경의 종류

  (LM)과 전자현미경(TEM)의 비교LM과 TEM은 기본적인 구성 즉 렌즈의 배열은 같으나 렌즈를 무엇을 사용하느냐하는 차이다. ... ★ESCA1) 기본원리XPS는 이 기술을 개발한 스웨덴 Uppsala 대학교의 Siegbahn에 의해 붙여진 ESCA(Electron Spectroscopy for Chemical ... LM은 유리(glass)를 EM은 자계렌즈(magnetic lens)를 사용한다.광원은 LM이 가시광을 EM이 전자(빔)를 사용하므로 전자현미경은 칼라상을 볼 수없는 것이다.

  리포트 | 11페이지 | 1,000원 | 등록일 2004.06.02

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  [전자재료]SEM&XPS에 대하여

  incident electron beam Instrument Electron gun, electromagnetic lens, specimen, detector Resolution - 현미경 ... spectroscopic technique for determining the elemental and chemical composition of materials' surface ESCA ... 제거, 전자빔 집광Coherent 한 전자빔 형성scanningScanning beam 초점 맞춤Vacuum system Remove air molecules Electrical

  리포트 | 41페이지 | 1,000원 | 등록일 2006.08.07

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  [기기분석] 기기분석 장치 종류와 특징

  {표면/구조분석투과전자현미경(TEM/STEM/ATEM)주사전자현미경(SEM/EPMA)X선광전자 분광분석기 (ESCA/XPS)주사형 오제이 전자현미경(SAM)X-선 회절분석기(XRD/ ... /영상분석기인장/충격시험기경도시험기표장치 종류▶기기분석의 장치 및 특징1.전자현미경(electron microscope=EM)-광학현미경의 광선 대신에 전자빔, 광학렌즈 대신에 전자렌즈를 ... 사용하여 형광면 위에 물 체의 확대상을 결상시켜 관찰하는 현미경.2.투과전자현미경(Transmission Electron Microscope=TEM)-전자를 매질로 하여 고전압으로

  리포트 | 5페이지 | 1,000원 | 등록일 2004.11.01

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  [재료공학] 박막측정,기구

  ● 박막의 두께 측정 방법★ ESCA를 이용한 박막의 두께 측정박막이 ESCA로 관찰할 수 있는 깊이 이내의 두께를 가질 때에는 ESCA에 의한 박막의 두께 측정이 가능해진다. ... 전자현미경이 진공 상태에서만 가능하다는 것을 감안하면 원자현미경의 응용범위가 대단히 넓다고 할 수 있다. ... SPM의 일반적인 구조도원자현미경계열 현미경중 처음으로 등장한 STM의 기본 원리는 아주 간단하다.

  리포트 | 28페이지 | 1,000원 | 등록일 2002.11.27

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