"Scanning Probe Micro" 검색결과 1-20 / 27건

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  재료분석학 Report-재료분석기기 및 분석원리

  Micro-Analyzer) 전자 현미 분석기(5) AES(Auger Electron Spectroscopy) 오제이 전자 현미경3) STM / AFM / EFMSPM (Scanning ... Probe MicroScope) 주사 탐침 현미경(1) STM (Scanning Tunneling Microscope) 주사 터널링 현미경(2) AFM (Atomic Force Microscope ... Electron detector) 후방 산란 전자 검출기(3) EDS (Energy Dispersive Spectrometer) 에너지 분산형 분석기(4) EPMA(Electron Probe

  리포트 | 11페이지 | 3,000원 | 등록일 2020.04.21 | 수정일 2020.04.23

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  Atomic Force Microscope 예비보고서

  실험 목적: SPM(Scanning Probe Microscope)의 종류인 AFM(Atomic Force Microscope)을 이용하여 시료의 물성을 조사해보고 AFM과 STM을 ... Scanning Probe Microscope (SPM)STMAFM도체, 반도체만 측정 가능도체, 반도체, 부도체 모두 측정 가능대기에서 측정 불가대기에서 측정 가능Tunnel 전류를 ... 이용원자간의 인력 이용SPM이란 원자나 분자 크기의 극 미세 나노 세계에서 일어나는 물질의 구조와 성질을 알고, 이를 제어하고 조작하기 위해 개발되고 발전되어 왔으며 micro 단위의

  리포트 | 5페이지 | 3,000원 | 등록일 2020.11.21

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  화공계측실험 Pre-Report (9)-Atomic Force Microscope

  Probe를 tip holder위에 설치하고 tip holder를 AFM 위에 설치한다. ... 수평축을 모터 control 스위치를 이용하여 조절하고 micro-cantilever가 샘플의 3mm위에 있도록 한다. ... Coarse focus와 x-t base translator를 이용해 Micro-cantilever의 위치를 monitor한다.

  리포트 | 7페이지 | 2,000원 | 등록일 2020.06.12

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  원자현미경 (Atomic Force Microscopy)

  Probe Microscope의 약자로서 물질의 표면특성을 원자단위까지 측정할 수 있는 새로운 개념의 현미경을 총칭하는 말이다. ... 원자현미경의 탐침은 캔틸레버 (cantilever) 라고 불리는 작은 막대 (100um × 10um × 1um) 끝에 달려져 있으며 이들은 마이크로머시닝 (micro machining ... 표면 계측 및 결함 분석, 콤팩트디스크·자기디스크·광디스크 등에 쓰이는 비트의 모양새 조사, 평판디스플레이 분석장비 등 주로 연구용·산업용 및 분석·측정 기기로 활용된다.SPM은 Scanning

  리포트 | 18페이지 | 4,000원 | 등록일 2020.06.26

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  SPM & FIB 정의 슬라이드

  SPM 의 정의 및 원리 SPM(scanning probe Microscope) 이란 ? ... , 원자 단위의 미세한 단위를 3 차원으로 관찰 Nano scale 의 분해능을 가지고 있어 단순한 관찰 뿐만 아니라 나노 구조물을 제어 또는 조작가능 3 SPM(scanning probe

  리포트 | 7페이지 | 1,500원 | 등록일 2014.10.24

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  주사전자현미경의 원리와 기업소개

  수 nm 분해능을 지닌 Micro 크기의 부품 용접 및 Joining : Probe Current (~100uA for Macro Joining) 2. ... / 판매제품세계 최초로 기술 개발한 E-Beam Micro Joining System! ... Low Vacuum Mode 지원 AIS2000C(Scanning Electron Microscope)국내 기술 선도업체 ㈜ 새론테크놀로지의 Top-Down 기술로 Desk-Top

  리포트 | 25페이지 | 1,000원 | 등록일 2017.04.07

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  SEM과 FIB의 원리

  Microscope) Detection SequenceSEM(Scanning Electron Microscope) Image Quality pixel Probe size Pixel ... 시편지지대의 Z-control - Working disg Electron Microscope) Effect of Probe CurrentSEM(Scanning Electron Microscope ... elements in EDXFIB(Focused Ion Beam) Dual-Beam (FIB-SEM) SystemsFIB(Focused Ion Beam) Lift-Out Technique Micro-manipulator

  리포트 | 48페이지 | 2,500원 | 등록일 2013.06.04

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  [고분자 실험] Atomic Force Microscopy (AFM)

  Probe or tip3. ... Probe Microscopy (SPM)- 광학현미경과 전자현미경에 이어 개발된 3세대 현미경으로, 원자 지름의 수십분의 1까지 측정가능하며 진공 중에서도 사용이 가능하며 시료의 ... 실험제목 : AFM (Atomic Force Microscopy)실험목적 : AFM을 이용하여 고분자 시료를 관찰하여 보고 AFM의 원리, 특징 및 사용법에 대해 이해한다.실험원리Scanning

  리포트 | 5페이지 | 1,500원 | 등록일 2013.08.01

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  Bio chip (DNA chip과 Protein chip)

  예를 들면 최근 General Scanning 사에서는 각종의 chip 에 대응할 수 있는 scanner( ScanArray 3000) 을 발매하였다 . ... MicroSystems arrayer , scanner 기술 arrayer , scanner 보한바이오메디칼 ( 주 ) 에서 공급중 Genemetrix CCD 에의 DNA 의 고정화 기술 micro ... Primer pair 를 섞고 PCR 을 통해 probe gene 을 amplification 한다 .

  리포트 | 19페이지 | 10,000원 | 등록일 2014.07.01

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  주사탐침 현미경 spm

  SPM(Scanning Probe Microscope 주사 탐침 현미경)SPM은 주사탐침현미경 Scanning Probe Microscope의 약자이다. ... 일반적으로 contact AFM에서 원자단위의 미세한 구조를 형상화할 때는 Micro-lever (k=0.01 ~ 0.05 N/m)가 적당하다. ... 주사탐침 현미경이란, 주사탐침 현미경이란 원자스케일에까지 날카롭고 뾰족하게 한 침(Probe)을 시료인 고체 표면에 직접 접촉 또는 근접시켜 위에서 고체 표면을 왕복하며 쓸 듯이 스캐닝하여

  리포트 | 7페이지 | 1,500원 | 등록일 2013.03.18

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  스퍼터링으로 제조된 니켈실리사이드의 미세구조 및 물성 연구

  한국재료학회 안영숙, 송오성, 이진우

  논문 | 6페이지 | 4,000원 | 등록일 2016.04.02 | 수정일 2023.04.05

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  SEM과 X선 분광분석 (EDS)

  지금까지 개발된 미세영영에 대한 micro-analysis법으로는 XRF, EPMA, SEM, AES, XPS 등 이 있다(표1). ... Line-Scan Multi-Point Scan또한 Sequential Mapping 기능을 활용하여 관심있는 구역 또는 일련의 point를 mapping 할 수 있으며 여러 장의 ... Electron Detector)후방산란전자후방산란전자현미경(SEM + Back Scattered Electron Detector)투과전자투과전자현미경 (TEM)특성 X선Electron Probe

  리포트 | 10페이지 | 1,000원 | 등록일 2012.05.22

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  SPM(Scanning Probe Microscope) & AFM (Atomic Force Microscope)의 장치 비교 및 각각의 역사, 이론, 원리

  Probe Microscope) 이란? ... . • 시료와 탐침(probe)거리가 원자 한 두개 크기이내로 매우 근접 • 시료와 탐침 양단간에 약간의 전압 걸어 흐르는 tunnel전류를 이용 • 시료표면의 궤적을 주사하여 형상화 ... SPM (주사탐침 현미경) - STM (Scanning Tunneling Microscope) • 1982 : Bining, Rohrer, Gerber, and Weibel at IBM

  리포트 | 35페이지 | 2,000원 | 등록일 2009.03.24

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  원자력현미경AFM(atomic force microscope)

  원자력 현미경(AFM)은 주사 프로브 현미경(Scanning Probe Microscope, SPM)의 한 종류이다. ... : 22억 탐침 시장규모 : 300억 매출액 : 35억(2007년) 회사 위치 : 경기도 수원시 www.micro2nano.com㈜엠투엔(Micro-to-Nano)은 국내 MEMS( ... Probe Microscopy)을 개발하여 이 분야의 연구인과 산업체에 공급하는 벤처기업이다.

  리포트 | 14페이지 | 2,000원 | 등록일 2009.07.28

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  afm

  특성들을 측정할 수 있는 기능이 확대되어 연구용과 산업용 분석, 측정기기로 널리 쓰이고 있다.AFM에서는 STM과는 달리 텅스텐 또는 백금으로 된 탐침 대신 나노기술로 제조된 프로브(Probe ... 일반적으로 contact AFM에서 원자 단위의 미세한 구조를 형상화 할 때는 Micro-lever (k=0.01~0.05 N/m)이 적당하다.(3) Non-contact(NC) mode ... AFM을 흔히 SFM(Scanning Force Microsccope)라고도 한다.Ⅱ.

  리포트 | 3페이지 | 1,000원 | 등록일 2011.06.28

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  표면분석장비(SEM,TEM,XPS,AES,RBS,EPMA,SIMS)의 원리와 분석방법, 특징

  electron microscopy, 주사전자현미경법EPMA : Electron probe micro analyzer 전자탐침 마이크로분석기TEM : Transmission electron ... AES : Auger electron spectroscopy, 오제 전자 분광법SIMS : Secondary ion mass spectroscopy, 이차 이온 질량분석법SEM : Scanning ... 내려와서 채움 두 전자각의 binding energy 차이가 X-선으로 방출되거나 (④’) 상부 전자각의 다른 전자를 방출함(④) - -> 상부전자각에서 방출되는 전자를 검출★ Probe

  리포트 | 18페이지 | 2,000원 | 등록일 2012.06.28

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  Microarray

  Scanning – grid creation, flaggingScale 보정 – log 2 취함ScanningGrid creationFlagging3. ... DNA chip은 수 ㎠ 정도의 작은 면적에 (micro) 붙이는 유전물질의 크기에 따라 cDNA chip과 Oligonucleotide 로 나뉜다. - cDNA Chip: 최소한 ... 차이 Oligo Chip은 probe의 길이가 동일하기 때문에 모든 Probe를 optimal condition에서 Hyb.

  리포트 | 17페이지 | 2,000원 | 등록일 2010.11.19

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  AFM Pre-report

  일반적으로 액체와 진공상태에서의 Tapping mode에서 사용되는 probe의 재질은 다르다.4. ... AFM 특징1) STM(Scanning Tunneling Microcopy)의 문제점 해결STM과 주사형전자현미경(SEM)처럼 진공을 만들 필요가 없으며, 대기 중에서 측정이 가능하다 ... 일반적으로 contact AFM에서 원자단위의 미세한 구조를 형상화할 때는 Micro-lever (k=0.01~0.05 N/m)이 적당하다.2) Non-contact(NC) AFMNon-contact

  리포트 | 6페이지 | 5,000원 | 등록일 2011.01.25

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  영문이력서 예시-반도체 분야

  and troubleshootingGood team playerSKILLSMetrology inspection with a variety of sample preparation: Scanning ... Capacitive TesterInterconnect reliability test: high-speed ball shear test and power cycling testTraining of micro-system ... station, nano volt-meter, sub-femtoamp remote sourcemeter, multi-meter and 4-point probe.Process and

  이력서 | 3페이지 | 2,000원 | 등록일 2012.09.19

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  금속재료실험 과제물

  표면 거칠기 측정 방법(AFM)probe와 고체 표면의 원자 간에 생기는 인력과 반발력의 힘을 측정한다. ... 경도 측정 방법(micro-indenter)주로 경도 시험기를 사용하여 특정 하중에서 압입체가 만든 면적, 깊이, 체적 등을 측정하여 경도치를 구한다. indenter의 형태는 공, ... Scanning length는 80, 400, 2000um 세 가지를 선택할 수 있고 단차모양과 그 외 모든 정보를 프린트 할 수 있다. 1A의 해상도로는 ±32kA, 5A의 해상도로는

  리포트 | 7페이지 | 2,000원 | 등록일 2009.02.12

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