"Secondary Ion Mass S" 검색결과 1-20 / 37건

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  생화학 6단원 단백질의 분석(질량, 서열, ELISA) 요약정리

  이 조각들(product ion)은 다시 mass를 측정하게 되는데 product ion들은 chain의 한 끝으로부터 나오므로 이를 계산하여 sequence를 알 수 있다. ... 같은 charge를 가진 ion들은 무거울수록 낙하가 빠를 것이고 따라서 낙하하는 시간을 측정하면 mass를 얻을 수 있다.2. ... 원하는 protein을 gas-phase ion으로 바꾼 후 electric potential 하에서 mass to charge ratio(m/z)를 구하는 방식이다.

  리포트 | 2페이지 | 1,500원 | 등록일 2023.02.11

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  [기기분석] 질량분석 Mass spectrometry

  SIMS (Secondary Ion Mass Spectrometry, 이차이온질량분석기)SIMS는 분석하고자 하는 시료의 표면에 일차 이온을 가속해 충돌시키면, sputtering ... source2.2 Mass analyzer2.3 Ion detector2.4 Data Processing2.5. ... Components of Mass spectrometer----------------------------------------------------------------2.1 Ion

  리포트 | 13페이지 | 3,000원 | 등록일 2020.07.12

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  나노측정 및 표면 분광학 최종 정리 족보

  Ion Mass Spectroscopy고에너지 primary ion을 샘플에 가하여 방출되는 secondary atomic ion을 detecting 후 mass analyzer로 ... 재료적 차이가 크게끔 contamination 되므로 낮은 진공도 환경에서 본다.Astigmatism(비정수차)Electron beam이 비대칭일 때 샘플로 들어갔던 전자가 형성하는 Secondary ... energy를 detecting 함으로써 샘플에 존재하는 원자들의 binding energy를 계산하는 장치이다.AES는 Auger Electron SpectroscopySIMS는 Secondary

  시험자료 | 10페이지 | 2,000원 | 등록일 2019.10.16 | 수정일 2019.10.22

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  GCMS 결과레포트

  Ion Mass Spectroscopy(SIMS) 등이 있다. ... )과 탈착 이온화법(desorption source)의 두가지가 있다.1. ... 이온화법Matrix-Assisted Laser Desorption Ionization(MALDI), 빠른 원자 충격법Fast Atom Bombardment(FAB), 이차 이온 질량 분석법Secondary

  리포트 | 7페이지 | 1,000원 | 등록일 2020.02.25

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  기흉 케이스스터디 진단3개 과정3개

  성상을 알아보았으며 진단후 mediastinal mass removal RUL wedge resection 수술을 하였다. ... 없는 건강인에서 특별한 원인이 없이 자연적으로 발생한 기흉을 말한다.그러나 수술시 소견 등으로 원인을 추측해 보면 원발성 자연기흉은 대개 폐의 윗부분에 위치한 기포가 터지면서 공기ion ... - Chest PA & HRCTResected tissue- 속발성 자연기흉(이차성) Secondary Spontaneous Pneumothorax속발성 자연기흉은 원발성 자연기흉과는

  리포트 | 12페이지 | 1,500원 | 등록일 2024.01.24

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  마그네슘 합금 부식의 기초 및 진보

  원소 및 화학 정보를 제공 (f) Secondary ion mass spectrometry (SIMS ) - 이온의 펄스 빔을 시료에 집중시켜 이차 이온을 생성 후 검출기에 도달하는 ... 수용성 매체의 부식 시험 – 전기 화학적 기법 Mg 및 Mg 합금의 대표적인 PDP, 임피던스 분광학 (Electrochemical impedance spectroscopy, EIS ... 수용성 매체의 부식 시험 – 비전기 화학적 기식 연구를 위한 분석 도구 (e) Auger electron spectroscopy (AES) - 방사선을 사용하여 금속의 얇은 표면 층으로부터

  리포트 | 51페이지 | 2,500원 | 등록일 2020.09.07

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  아동간호학 A+ VSIM Brittany Long 낫모양적혈구 빈혈 CASE STUDY

  , 급성약중독, 폐섬유증, Polycythemia, Secondary polycythemia▼ : 빈혈, 골수기능부전, 용혈성 빈혈, 출혈, Addison’s disease, Rheumatic ... Cl-, BUN, HCO₃- 정상 / (07:19) Creatinine ▼0 mg/dL, Mg++ ▼0.7 mEq/L, BUN, Cl-, K+, Na+, HCO₃-, Calcium Ion ... PyelonephritisNitriteNegative(-)▲ : 세균 감염ProteinNegative(-)▲ : Renal disease, Trauma, Severe anemia, Heart disease, Abdominal mass

  리포트 | 22페이지 | 3,000원 | 등록일 2021.06.01 | 수정일 2021.12.03

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  SIMS 원리

  , focus, shape, position the primary beam...PAGE:7Secondary Ion Extraction..PAGE:8Secondary Ion Transfer ... DetectorsElectron multiplierFaraday cupTwo ion image detectors..PAGE:16Secondary Ion Detectorsa series ... separationdetector - electron multiplier tubeinstantaneous display of results..PAGE:15Secondary Ion

  리포트 | 24페이지 | 1,500원 | 등록일 2013.06.04

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  SIMS (Secondary Ion Mass Spectrometry)

  ..PAGE:1Secondary Ion Mass Spectrometry..PAGE:2목차...PAGE:3고체 표면 분석에 이용되는 기기(1).AESAuger electron spectroscopyAuger ... 따른 원자층의 화학적 원소 분석 및 질량 분석]Secondary ion countsTimes (sec)A silicon sample containinga boron implant( ... Ion Mass Spectrometry]/ Mass Spectroscopy 개략도SampleIonsourceMassSpectroscopyDetectorDataSystemArXeN2Cs

  리포트 | 32페이지 | 1,000원 | 등록일 2009.06.29

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  SIMS( Secondary Ion Mass Spectroscopy )

  technologySIMS의 구성 (Secondary Ion Mass Spectroscopy)일차 이온 발생장치(Primary ion source) 일차칼럼(Primary column ... SIM ( Secondary Ion Mass Spectroscopy )SIMS의 구성1SIMS의 원리2SIMS의 장단점3SIMS의 활용분야4ContentsNano technologyNano ... ) 시료 장착부(Sample chamber) 이차칼럼(Secondary column) 검출기(Detector)Nano technologySIMS의 원리1.

  리포트 | 8페이지 | 1,500원 | 등록일 2008.05.03

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  SEM과 FIB의 원리

  ▷ High mass - slow speed but high momentum - millingInteraction FIB(Focused Ion Beam)FIB(Focused Ion ... ▷ Low mass - higher speed for given energy Ions ▷ Ions are positive ▷ Big - outer shell reactions (no ... - Emission of phonons (a) (b) (c)FIB(Focused Ion Beam) FIB : Imaging Secondary electron image Secondary

  리포트 | 48페이지 | 2,500원 | 등록일 2013.06.04

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  SIMS( Secondary Ion Mass Spectroscopy )

  S I M SSIMS의 종류2SIMS의 원리3SIMS의 장단점4SIMS의 활용분야5Contents1SIMS의 정의Secondary Ion Mass Spectroscopy 이차 이온

  리포트 | 10페이지 | 1,000원 | 등록일 2013.06.24

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  박막의 두께, 미세조직, 조성 분석방법 조사

  SIMS(Secondary Ion Mass Spectroscopy)3.6. 조성 분석방법 비교요약1. 두께 분석방법1.1. ... 측정하고자 하는 sample을 직접 contact하므로 유기막은 물론 금속 박막의 두께도 쉽게 구할 수 있다.- 그러나 단차의 두께만을 구할 수 있으므로, 여러 층의 두께 각각을 한번에 ... 따라서 전자현미경의 이론적 분해능(해상력)은 약 0.001nm이나 생물학적 표본에서 사용되는 분해능은 약 0.2nm(side entry), 0.14nm(top entry)이다.- 근래에

  리포트 | 21페이지 | 2,000원 | 등록일 2017.01.06 | 수정일 2017.05.14

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  표면분석장비(SEM,TEM,XPS,AES,RBS,EPMA,SIMS)의 원리와 분석방법, 특징

  , 오제 전자 분광법SIMS : Secondary ion mass spectroscopy, 이차 이온 질량분석법SEM : Scanning electron microscopy, 주사전자현미경법EPMA ... ion mass spectroscopy, 이차이온질량분석)★ SIMS의 원리: 수 keV ~ 10 keV로 가속된 이온빔을 재료표면에 입사시켜 방출되는 2차 이온들의 질량을 측정하여 ... Mass spec 측정시 한 peak로 나타나지만 질량분해능이 10000이상의 SIMS를 사용할 경우 모두 분리가 가능하다.

  리포트 | 18페이지 | 2,000원 | 등록일 2012.06.28

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  [표면분석] TOF-SIMS

  Secondary Ion Mass Spectrometry : 이차이온질량 분석법1~20 KeV의 운동 에너지를 가진 일차이온빔을 고체시료 표면에 충돌시켜, 고체 표면이나 내부의 원자들을 ... 표시.- 획득 가능한 질량값 범위 : 약1~300amu- 단원자, 분자상태, cluster, 동위원소등이 표시Mass spectra from surfaces of bare silicon ... Mass Spectrum- 이차 이온들의 질량 대 전하비(M/e)에 따른 이온의 개수를 측정하여 시료 표면에 있는 원자의 종류와 조성을 표현.- 세로축(이온의 개수)은 log scale로

  리포트 | 7페이지 | 2,000원 | 등록일 2005.01.03

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  생물물리학 실험 정리 기말고사

  Mass spectrometerMS/MS를 사용하는 이유1. ... 우선 하나의 fragmented ion이 있을 때, 이 이온이 같은 source region을 가진 다른 component에서 올 수도 있다. ... spectrum이 그려지며, 이 mass spectrum을 이용하여 미지성분의 정성확인을 할 수 있다.MALDI란?

  시험자료 | 2페이지 | 1,500원 | 등록일 2012.07.06

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  SIMS에 대하여

  S I M S (Secondary Ion Mass Spectrometry)Contents 장비의 원리 및 이론  장치(Hardware) : Source, Detector 등  ... ion beam back on-axis를 조정  Entrance aperature - 직경이 작으면 image aberration을 감소시키는 반면에 이차이온의 강도도 감소시킴Secondary ... 을 통해 sample로 이동함  Mass filter는 빔에 존재하는 불순물을 제거  Electrostatic lenses와 apertures는 primary ion beam의

  리포트 | 34페이지 | 1,000원 | 등록일 2004.11.09

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  Surface_Science_2008_Ch3

  + (M2/m2 –sinq2)1/2]2 E0: energy of primary ion, E1: energy of scattered ion. m: mass of primary ion ... Ion Mass Spectroscopy (SIMS) Ion Scattering Spectroscopy (ISS) Special topic: Determination of a crystal ... , M: mass of target atom. q: experimental scattering angle.

  리포트 | 108페이지 | 1,000원 | 등록일 2011.12.19

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  화합물반도체의 금속공정(Metallization Process)

  Ion Mass Spectrometry (SIMS) ■ Auger Electron Spectromethow} ... Ellipsometry (SE) ■ X-ray Reflectivity (XRR) ■ X-ray Fluorescence (XRF) ■ X-ray Diffraction (XRD) ■ Secondary ... Removal of organic and metal ion contaminantsDegreasing 1) Trichloroethane(TCE) 2) Acetone 3) Methanol

  리포트 | 19페이지 | 2,500원 | 등록일 2012.11.14

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  표면물리학-ion beam sputtering

  이온빔을 고체에 쏘았을때의 개략도]■ Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) - 2차 이온 질량 분석법: 튀어나온 이온을 잡아서 분석.1. ... 정성분석에는 positive 혹은 negative mass spectrum의 피크 위치가 이용되는데 동일한 nominal mass를 갖는 이온들이 혼재할 경우 이의 분리를 위해서는 ... Ion Beam Sputtering■ Sputtering이란?

  리포트 | 2페이지 | 1,000원 | 등록일 2010.05.04

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