"XPS의 기본원리 및 응용" 검색결과 1-11 / 11건

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  표면분석장비(SEM,TEM,XPS,AES,RBS,EPMA,SIMS)의 원리와 분석방법, 특징

  즉 위의 CHO, C2H5의 확인으로 si wafer가 오염되었음을 확인할 수 있다.XPS의 기본원리 및 응용(X-ray photoelectron spectroscopy, X-선 광전자분광법 ... 기본원리 및 응용(Secondary ion mass spectroscopy, 이차이온질량분석)★ SIMS의 원리: 수 keV ~ 10 keV로 가속된 이온빔을 재료표면에 입사시켜 ... , 고분자물질의 표면과 계면의 구성원소 및 화학적 결합상태, 에너지 준위 등을 알아내는 기술이다.★ 다양한 표면분석 방법분석법입사빔측정빔분석깊이분석면적원리감도취득정보XPS특성 X-선광전자1

  리포트 | 18페이지 | 2,000원 | 등록일 2012.06.28

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  XPS X-ray Photoelectron Spectroscopy(XPS)

  X-ray Photoelectron Spectroscopy(XPS)XPS 소개 및 역사 1981 년 노벨상 Kai Siegbahn 이 개발한 분석 기구로써 X-ray 빛을 쏴서 그 ... shift): 전자 결합 에너지 변화 - Late 1960’s : 상용화XPS 원리XPS 원리 E K = 광전자의 운동에너지 hv= X 선 빛에너지 E B = 전자의 결합에너지 j ... 있다 . ▶ 역사 -1887 : Hertz; x- 선 광전자 효과 -1914 : Rutherford; XPS 기본 방정식 -1955~1976 : Siegbahn; 화학적 전이 (Chemical

  리포트 | 13페이지 | 1,000원 | 등록일 2018.05.27 | 수정일 2018.11.12

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  각종 실험도구들(GC,NMR,SEM,Mass,SPM)정리한 레포트입니다.

  XPS(X-ray Photoelectron Spectoscopy, 광전자 분광기)■ 원리: XPS는 시료의 표면에 특성 X-선을 입사하여, 방출하는 광전자의 에너지를 측정함으로써 시료표면의 ... 또한 이온빔으로 표면을 식각하여 깊이에 대한 분포도를 측정할 수 있다.■ 응용분야1) 금속 및 반도체순수 표면의 상 전이에 따른 전자 구조의 변화2)bmicro 이하의 국소 영역의 ... 이러한 특징을 이용하여 물질의 격자구조나 배열상태를 알아볼 수 있다.■ 응용분야성 및 정량분석, 결정의 면간거리,격자상수,비결정성 물질의 결정화도, 결정의 배향성, Rletveld법을

  시험자료 | 14페이지 | 1,500원 | 등록일 2017.06.07 | 수정일 2017.06.08

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  SEM과 X선 분광분석 (EDS)

  주사전자현미경의 기본원리와 응용1. 전자현미경의 기본개념2. 전자현미경의 발전과정3. 주사전자현미경의 구성4. 전자현미경 시장의 전망5. ... SDD의 구조 및 작동원리SDD의 한 쪽은 넓은 접촉면을 갖는 고순도 실리콘을 식각하여 만들고(p+층, 그림 6의 하단면), 반대쪽은 중앙에 작은 anode(n+ 양극)과 이에 동심원을 ... 지금까지 개발된 미세영영에 대한 micro-analysis법으로는 XRF, EPMA, SEM, AES, XPS 등 이 있다(표1).

  리포트 | 10페이지 | 1,000원 | 등록일 2012.05.22

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  전도성고분자최종

  그러나 산화 안정성이나 가공성과 같은 기본적인 문제점이 해결되지 않은 상태에서 기대와 흥분은 곧 실망과 포기로 이어질 수 밖에 없었다. ... 시장 동향 321) 기술(제품)의 시장현황 및 성장률 322) 기술(제품)의 향후 시장전망 34나. 업계동향 361) 국내 업계동향 362) 해외업계동향 364. ... 23가) 바이오센서에의 응용 24나) 그래핀 24다) RFID용 전도성 잉크 28라) 기타 28나.

  리포트 | 43페이지 | 4,800원 | 등록일 2011.06.30

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  전자현미경(SEM & EDS & TEM & SPM, XPS, AES)

  각각의 전자현미경의 응용 및 목적에 따른 분류- 결상정보에 따른(SEM)- 성분정보에 따른(EDS)- 구조정보에 따른(TEM)- 그 외 여러 가지 전자현미경(SPM, XPS, AES ... 렌즈 대신에 전자 렌즈를 사용한 현미경으로서 결상(상맺힘)의 기본원리는 같다. ... - 전자현미경으로 알 수 있는 정보- 전자현미경 원리 및 용어2.

  리포트 | 29페이지 | 1,500원 | 등록일 2008.05.06

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  [재료공학]전자현미경

  전자현미경의 응용 및 목적에 따른 분류- 결상정보에 따른(SEM)- 성분정보에 따른(EDS)- 구조정보에 따른(TEM)- 그 외 여러 가지 전자현미경(SPM, XPS, AES)3. ... 렌즈 대신에 전자 렌즈를 사용한 현미경으로서 결상(상맺힘)의 기본원리는 같다. ... - 전자현미경으로 알 수 있는 정보- 전자현미경 원리 및 용어2.

  리포트 | 29페이지 | 2,000원 | 등록일 2007.03.14

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  [공학실험] 양극희생실험

  -로타리 기어펌프로타리 엔진의 원리를 응용한 진공펌프로, 기본원리는 다음과 같습니다. ... Analysis)라는 별명으로 흔히 알려져 있으며 그 원리는 다음과 같다. ... 1. xps란?XPS (X-ray photoemission spectroscopy)는 전자를 이용한 표면분석의 방법으로서 대표적인 자리를 차지하고 있다.

  리포트 | 11페이지 | 1,000원 | 등록일 2004.12.02

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  [재료공학] 전자현미경의 종류

  ★ESCA1) 기본원리XPS는 이 기술을 개발한 스웨덴 Uppsala 대학교의 Siegbahn에 의해 붙여진 ESCA(Electron Spectroscopy for Chemical ... 관찰 및 기록 시스템으로 나누어 진다. ... In-situ Sputtering 장비와 Electron Beam Heating 장비를 갖추고 있어 보다 폭넓은 응용 실험도 함께 병행할 수 있다.

  리포트 | 11페이지 | 1,000원 | 등록일 2004.06.02

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  [박막공학과 성분분석] 성분분석법 및 박막증착법

  에너지가 되는 경우에는 입사전자선의 에너지 값에 관계없이 원소 특유의 X-선이 발생한다.ESCA (Electron Spectroscopy for Chemical Analysis)기본원리XPS는 ... 이러한 빔과 물질과의 사이에 어떠한 상호작용을 일으킨 결과로서 방출되는 에너지를 검출기업에서 일상적인 분석업무에 사용투과전자현미경, 주사전자현미경, X-선 마이크로분석기, ESCA응용면에 ... XPS에서 광전자 피크와 Auger 피크가 겹쳐서 나타나면, X-선의 에너지를 바꾸어서 분리시킬 수 있 는 것이 이러한 Auger 전자의 특성 때문이다.

  리포트 | 21페이지 | 1,500원 | 등록일 2004.12.16

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  [재료공학] 박막측정,기구

  SPM의 일반적인 구조도원자현미경계열 현미경중 처음으로 등장한 STM의 기본 원리는 아주 간단하다. ... - 표면 물리학- 반도체의 표면계측- 분자생물학- 전기화학- 재료공학- 기타 표면 분석※ SPM의 종류 및 원리1) STM(Scanning Tunneling Microscope): ... 전자현미경이 진공 상태에서만 가능하다는 것을 감안하면 원자현미경의 응용범위가 대단히 넓다고 할 수 있다.

  리포트 | 28페이지 | 1,000원 | 등록일 2002.11.27

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