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"Electron beam" 검색결과 41-60 / 940건

  • Evaporator_Sputter 레포트
    (Electron Beam) Evaporation 방식으로 나눌 수 있다. ... 또한, 높은 녹는점을 갖는 텅스텐(W)이나 몰리브덴(Mo)의 금속은 증착시킬 수 없고 밀착의 강도가 낮다는 점이 있다.다음은 다른 종류의 Evaporator인 Electron Beam ... 하지만 단점으로는 가속 전압이 10kV 이상이므로 X-ray가 발생한다는 점과 Electron Beam Source 위에 원자의 농도가 크므로 Discharge가 심한 단점이 있다.SputterSputtering은
    리포트 | 7페이지 | 2,500원 | 등록일 2021.11.08
  • 유세포분석기 Flow Cytometry의 원리, 구성, 임상응용
    3부분으로 나눔[단계] fluidics : fluidics에 의해 입자가 flow chamber로 주입되어optics : 일렬로 laser beam과 교차하여 신호를 발생시킴electronics ... 원리(1) 배경Laser를 이용하여 개별 세포 수준에서 형광을 분석하려면 2가지 방법 이용① 유세포분석법 FCM : 단일 세포 부유액을 고정된 laser beam 속으로 흘려서 지나가는 ... static cytometry : 슬라이드에 고정된 세포를 laser로 scanning 하여 측정→ 세포 부유액을 형광염색한 후 세포를 하나씩 흐르게 하면서 레이저 광선 (laser beam
    리포트 | 4페이지 | 3,000원 | 등록일 2022.03.31
  • Exp.2 Time-resolved Thermal Lens Calorimetry
    The solute that absorbed the light then sends the electron to the excited state and the electron wants ... He-Ne laser beam has 6nsmitted beam spreading occurs and refractive angle decreases following Snell’s ... As the heat spreads, the spreading of the transmitted beam occurs.
    리포트 | 11페이지 | 3,500원 | 등록일 2022.06.02
  • 전자빔 운동,thompson tube 실험 결과보고서
    실험 제목전자빔 운동 Thomson Tube보고서작성자이름학과(과목 명)조3[1] 실험목표• Investigate the deflection of an electron beam by ... a magnetic field.• Investigate the deflection of an electron beam by an electric field.• Build a velocity ... filter using orthogonal electric and magnetic fields.• Estimate the specific charge of an electron.[
    리포트 | 4페이지 | 2,000원 | 등록일 2022.08.08 | 수정일 2022.10.02
  • 현미경 시료제작 PPT
    투과전자현미경(Transmission electron microscope) TEM 생물절편 같은 엷은 시료를 전자선(electron beam)을 전자렌즈 (electron lens) ... 로 확대하는 현미경 TEM과 SEM의 원리비교 투과전자현미경(transmission electron microscope, TEM) ◈ 광학현미경과 달리 광선 대신에 전자선을 이용
    리포트 | 61페이지 | 2,000원 | 등록일 2019.09.11
  • FIB (Focused Ion Beam) 정리 및 발표자료 레포트
    )를 이용하여 시료의 표면을 분석할 수 있음.Focused Ion Beam 진공 챔버 내의 시료에 가속 이온빔을 집중시켜 주사하는 광학 기기사용 목적1. ... 시료 표면에 주사하면서 전자빔과 시료와의 상호작용에 의해 발생되는 이차자(Secondary Electron, SE) 또는 후방산란전자(Back Scattered Electon, BSE
    리포트 | 9페이지 | 4,000원 | 등록일 2020.06.01 | 수정일 2022.10.14
  • [물리학 및 실험2] e.m 비전하실험 보고서
    실험방법[그림 1] 실험 장치도 [그림 2] Eletron Beam Emission① Electron Deflection Tube, Electron Beam Deflection System ... Deflection Tube 내에 전자가 방출되는지 확인한다.③ 전원장치를 사용하여 Helmholtz Coil에 전류를 흘려 Electron Deflection Tube 내에 방출 ... 된 전자가 휘어지는 것을 확인한다.④ Electron Deflection Tube 내에 있는 스크린의 지점이 1, 지점이 10, 9, 8, 7, 6이 되도록 Helmholtz Coil에
    리포트 | 5페이지 | 1,000원 | 등록일 2021.01.30
  • 방사선치료학 기출문제풀이-계산식에 따른 인자
    영향을 주지 않음-조사야가 넓어질수록 피부선량이 증가한다②tray-skin distance가 가까울수록 피부선량이 감소-가까울수록 조사야가 넓어지고 선량률은 증가한다.③photon beam내에 ... electron이 함유되어 있으면 피부선량은 감소-전자선이 고에너지가 될수록 피부선량은 증가한다④shadow block이 tray 위에 있으면 2차 전자가 발생되어 피부선량이 증가-반음영이
    리포트 | 12페이지 | 2,500원 | 등록일 2021.04.25 | 수정일 2021.06.09
  • 가톨릭대) 바이오의약품개론) 중간고사 5~8주차 분량 요약노트
    beam)1) Single crystal -> 2) Diffraction patter -> 3) Electron d재O + 고분해능의 디지털카메라 존재O (=> 디지털 이미지화)① ... 발전한 TEM1) 광원이 더 밝아짐 (Electron beam)2) Superior optics 발전된 광학3) 진공 Vaccum↑ : 진공상태일 때 빛이 일자로 내려오는게 더 잘 ... ┗> 단백질, 세포소기관 관찰O(전자 beam이 sample 단백질을 투과하여 내부 단백질 구조 분석O)√ Transmit (얇은 sample을 투과)√ Inner and Outer
    시험자료 | 16페이지 | 3,000원 | 등록일 2021.06.17
  • 금속,반도체 박막의 전기적 특성 분석 보고서
    이용하며, 전자가 시료를 통과하는 것이 아니라 초점이 잘 맞추어진 Electron Beam을 시료의 표면에 주사하는 함으로써 측정된다. ... 주사된 전자빔이 시료의 한 점에 집중되면 Primary electron만 굴절되고 표면에서 발생된 Secondary Electron은 detector에 의해 수집된다. ... 이것은 전자의 양에 따라 명암대비가 달라지게 되는데, detector의 전압을 양의 값으로 유지한다면 primary electron과 secondary electron 두가지 모두
    리포트 | 3페이지 | 2,000원 | 등록일 2022.04.24 | 수정일 2022.11.29
  • 전자현미경 (Scanning Electron Microscopy, Transmission Electron Microscopy)
    Scanning Electron Microscopy전자총으로 전자beam을 쏘아 충돌하면서 생성되는 2차 전자, 후방 산란 전자, 오우 제이 (Auger)전자, 특성X선 등의 다양한 ... current flow는 매우 느리고 또 가속전압에 영향을 받으므로 grid혹은 Whenelt cup을 이용하면 필라멘트의 space charge를 조절할 수 있을 뿐만 아니라 beam을 ... Electron Interactions- 2차 전자 (Secondary Electrons)- 후방산란전자 (Backscattered Electrons)3.
    리포트 | 20페이지 | 4,000원 | 등록일 2020.06.29
  • Photoresist processing
    큰 에너지차이로 흡수전이가 일어나기 때문에 흡수는 단파장으로 갈수록 혹은 큰 Photon에너지일수록 잘 일어난다.· E-beam 방법Photoresist는 electron beam( ... E-beam)에 노출될 수도 있다. ... 두 방법은 거의 같은 결과가 나오는데 가장 큰 차이는 Photon은 에너지를 한번에 저장하면서 흡수가 되지만 electron은 에너지를 점진적으로 저장하게 된다.
    리포트 | 4페이지 | 3,000원 | 등록일 2021.01.18 | 수정일 2023.01.12
  • MOS Capacitor 제작 및 분석 실험
    특히 에너지원으로 전자를 사용하여 절연체의 분석에 장점을 가진다.시료의 표면에 전자빔을 조사시키면 이차전자(Secondary Electron), 투과 전자(Transmitted Beam ... 이 방식은 팁과 샘플의 손상도 없으면서 고해상도를 가진다.SEM (Scanning Electron Microscope)주사현미경(SEM)은 고체 상태에서 작은 크기의 미세 조직과 형상을 ... 다음은 세 가지 방식을 비교하는 표이다.Thermal evaporationE-beam evaporationSputtering구동 방식고온을 통한 증착 물질의 증발이온 충돌에 의해 표면으로부터
    리포트 | 22페이지 | 2,500원 | 등록일 2021.11.24
  • 나노측정 및 표면 분광학 최종 정리 족보
    beam이 비대칭일 때 샘플로 들어갔던 전자가 형성하는 Secondary electron이나 Backscattered electron이 symmetric 하지 않아서 이미지가 왜곡될 ... monoenergetic X-ray beam이 샘플의 표면으로부터 photoelectron을 방출시켜 검출한다.ultrahigh vacuum 환경이 요구되며,Cylindrical Mirror ... SEM/EDSmetal oxide 등의 물질을 측정시 secondary electron이나 backscattered electron의 에너지가 screening effect에 의해
    시험자료 | 10페이지 | 2,000원 | 등록일 2019.10.16 | 수정일 2019.10.22
  • Co‑intercalation into graphite of lithium, potassium and barium using LiCl–KCl molten salt
    한국탄소학회 Inass El Hajj, Lucie Speyer, Sébastien Cahen, Pascal Berger, Ghouti Medjahdi, Philippe Lagrange, Claire Hérold
    논문 | 7페이지 | 4,000원 | 등록일 2023.12.18
  • 비전하 측정 결과보고서
    Electron beam deflection system, Helmholtz coil, 고전압전원장치, 전원장치를 사용하여 실험장치도를 참고하여 실험장치를 연결한다.Tube의 뒷면 ... 실험방법실험장치고전압 전원장치, 전류 전원장치, Electron deflection tube, Helmholtz coils실험 A.1) Electron deflection tube, ... deflection tube 내에 전자가 방출되는지 확인한다.3)전원장치를 사용하여 Helmholtz coil에 전류를 흘려 그림과 같이 Electron deflection tube내에
    리포트 | 4페이지 | 1,500원 | 등록일 2021.04.27
  • 디스플레이 개론 기말과제
    해당하는 3개의 전자총이 수 평 방향으로 배열(In-Line)되어져 있다.이들 R, G, B 각각의 전자총에서 발사된 전자빔(Electron Beam)이 편향 요크(Deflection ... Color 브라운관의 동작 원리를 설명하시오.일반적으로 컬러 브라운관에 사용되어지는 인라인(In-Line)형 전자총 (Electron Gun)은 Red, Green, Blue 각각에
    리포트 | 4페이지 | 1,000원 | 등록일 2024.01.05
  • 전기 도금 - 예비레포트
    source로 부터 방출된 electron beam 이 시편에 주사 되면서 이때 이차적으로 발생되는 다양한 전자를 이용하여 시편 표면의 미세조직을 관찰하는 장비이다. ... 도금준비 작업으로써, 탈지는 가장 중요한 조작이며, 탈지가 불충분하면, 밀착불량, 광택불량, 거친 도금, 피트, 부풀음, 최성등의 불량원인이 된다.SEM - 주사전자현미경은 Electron
    리포트 | 3페이지 | 1,000원 | 등록일 2021.04.08
  • [경희대 A+] 물리학및실험 em 측정 실험 레포트
    Electron Deflection Tube, Electron Beam Deflection System, Helmholtz Coil, 전원장치, 고전압전원장치를 사용하여 “일반 물리학 ... 전원장치를 사용하여 Helmholtz coil에 전류를 흘려 [그림 3]과 같이 Electron Deflection Tube 내에 방출된 전자가 휘어지는 것을 확인한다4. ... 출력을 최저로 한 상태에서 고전압전원장치의 전원을 켜고 전압 V를 2kV로 올려 [그림 2]와 같이 Electron Deflection Tube 내에 전자가 방출되는지 확인한다.3.
    리포트 | 5페이지 | 1,000원 | 등록일 2023.07.05
  • 분말공학 정리 ppt
    Microscopy) 투과전자현미경 : 엷은 시료를 전자선 (electron beam) 을 전자렌즈 (electron lens) 로 확대하는 현미경• TEM (Scanning Electron ... beam) 을 입사 물질로 사용  입사전자와 분석물질과의 상호작용에 의해 영향을 받은 전자를 받아서 분석 SEM/TEM 공통점 SEM/TEM 차이점  구조상의 차이  분해능 ... 체분리법 등• 분말크기 및 크기 분포 입자 크기의 영향 작은 크자현미경 : 고체상태에서 미세조직과 형상을 관찰하는 데에 가장 다양하게 쓰이는 분석기기• SEM (Scanning Electron
    리포트 | 57페이지 | 3,000원 | 등록일 2020.09.07
AI 챗봇
2024년 08월 30일 금요일
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- 작별인사 독후감
방송통신대학 관련 적절한 예)
- 국내의 사물인터넷 상용화 사례를 찾아보고, 앞으로 기업에 사물인터넷이 어떤 영향을 미칠지 기술하시오
5글자 이하 주제 부적절한 예)
- 정형외과, 아동학대