"atomic force microscope" 검색결과 1-20 / 230건

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  Atomic Force Microscope 예비보고서

  실험 제목: Atomic Force Microscope2. 실험 날짜: 2019년 6월 7일3. ... 실험 목적: SPM(Scanning Probe Microscope)의 종류인 AFM(Atomic Force Microscope)을 이용하여 시료의 물성을 조사해보고 AFM과 STM을 ... Atomic Force Microscope (AFM)AFM이란 나노미터 스케일의 고해상도로 원자, 분자 단위로 구성된 재료의 표면을 관찰하며 다양한 기계적 물성을 알 수 있는 원자현미경이다

  리포트 | 5페이지 | 3,000원 | 등록일 2020.11.21

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  Atomic Force Microscope(AFM) 결과보고서

  AFM (Atomic Force Microscope)은 Scanning probe microscopy의 일종으로 AFM의 Probe는 시료표면을 따라가며 Probe와 표면사이에 작용하는

  리포트 | 4페이지 | 3,200원 | 등록일 2021.03.26 | 수정일 2022.10.20

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  현대물리학실험_Atomic Force Microscope 결과레포트

  리포트 | 7페이지 | 1,000원 | 등록일 2022.10.17 | 수정일 2023.01.06

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  화공계측실험Final-Report(9)-Atomic Force Microscope

  AFM이란 Atomic Force Microscope 의 약자로, 현재 존재하는 모든 현미경 중 가장 높은 분해능을 가진 현미경 입니다. ... Final-Report (9)실험 제목Atomic Force Microscope실험 목적 및 이론적 배경이 실험의 목적은 AFM의 원리와 작동을 이해하는 데 있습니다. ... Force calibration에서 adhesion force가 높고 sensitivity가 낮은 경우를 생각해 볼 수 있습니다.

  리포트 | 7페이지 | 2,000원 | 등록일 2020.06.12

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  화공계측실험 Pre-Report (9)-Atomic Force Microscope

  Atomic Force Microscope 의 약자로, 현재 존재하는 모든 현미경 중 가장 높은 분해능을 가진 현미경 이다. ... Pre-Report (9)실험 제목Atomic Force Microscope실험 목적이 실험의 목적은 AFM의 원리와 작동을 이해하는 데 있다. ... Gerber, Atomic Force Microscope, Physical Review Letters Vol.56 No.9R. Raiteri, M. Grattarola, H.

  리포트 | 7페이지 | 2,000원 | 등록일 2020.06.12

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  현대물리실험-Atomic Force Microscope (원자현미경) 결과레포트

  Atomic Force Microscope(원자현미경)실험9_결과레포트2017-2현대물리학실험1. ... 실제실험방법[실험장치 소개]기본적으로, 이번실험 Atomic Force Microscope에서 사용한 장치는 원자현미경으로, 그중에서도 비접촉식(접촉모드로 사용), 도량형 원자현미경 ... 온도센서 이용)LFMlateral force microscope(마찰계수 측정)비접촉식MFMmagnetic force microscope(자기력)EFMelectrostatic force

  리포트 | 13페이지 | 1,000원 | 등록일 2018.05.30 | 수정일 2020.04.06

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  AFM(Atomic Force Microscope) 발표자료 (PPT)

  Forec microscope) NC-AFM( 비접촉식 원자 힘 현미경 Non Contact –Atomic Forec microscope) AFM 의 종류는 크게 세가지로 나뉘어짐5 ... AFM 의 종류 STM( 주사터널링현미경 , Scanning tunneling microscope) 전자 터널링 현상 C-AFM( 접촉식 원자 힘 현미경 Contact –Atomic ... AFM 의 작동원리 탐침과 시료표면에서 작용하는 Van der Waals force 를 이용하여 측정 - Nano Newton(10 -9 N) 으로 매우 미약 이 힘에 의해서 캔틸레버의

  리포트 | 18페이지 | 2,000원 | 등록일 2013.05.04

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  Atomic Force Microscope

  정의AFM은 Atomic Force Microscope의 약자로서 시료와 탐침 사이의 접촉 힘을 이용하여 원자수준의 해상도를 가지는 현미경으로서뿐만 아니라 원자나 분자를 조작할 수 ... ..PAGE:1Atomic Force MicroscopeYang Ji hoon..PAGE:21. ... Force Microscope)STM(Scanning Tunneling Microcopy)의 문제점 해결원자와 원자와의 반발력과 인력전기적인 특성과 무관하므로 도체, 반도체 및 부도체등

  리포트 | 14페이지 | 3,000원 | 등록일 2007.06.27

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  AFM(Atomic Force Microscope)

  AFM(Atomic Force Microscope)1.원리AFM은 물체의 표면구조를 '느끼는' 과정에서 이미지를 만드는 장치입니다.

  리포트 | 4페이지 | 1,000원 | 등록일 2008.05.19

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  원자력현미경AFM(atomic force microscope)

  원자력 현미경 AFM (Atomic Force Microscope)IndexWhat is the AFM ?? ... MEMS 기술을 응용한 AFM Probe 및 핸드폰용 마이크로폰을 주력으로 생산하고 있다.REFERENCE Wikipedia http://en.wikipedia.org/wiki/Atomic_force_microscope ... 원자력 현미경(AFM)은 주사 프로브 현미경(Scanning Probe Microscope, SPM)의 한 종류이다.

  리포트 | 14페이지 | 2,000원 | 등록일 2009.07.28

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  [화학과 물리화학 실험] SPM-STM(Scanning Tunneling MicroScope)과 AFM(Atomic Force MicroScope)

  이러한 Nano-Technology를 선도하는 기술은 지난 80년대 발명된 STM(Scanning Tunneling MicroScope)과 AFM(Atomic Force MicroScope ... 전자의 터널링 현상.이러한 샘플의 제한을 극복하기 위해 AFM(Atomic Force MicroScope :원자 힘 현미경)을 개발하여 부도체인 시료를 볼 수 있게 하여 원자현미경을 ... Microscope), MFM(Magnetic Force Microscope), Force Modulation, Phase Image, EFM(Electrostatic Force

  리포트 | 9페이지 | 1,000원 | 등록일 2009.01.21

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  [화학과 물리화학 실험] SPM-STM(Scanning Tunneling MicroScope)과 AFM(Atomic Force MicroScope)

  이러한 Nano-Technology를 선도하는 기술은 지난 80년대 발명된 STM(Scanning Tunneling MicroScope)과 AFM(Atomic Force MicroScope ... 전자의 터널링 현상.이러한 샘플의 제한을 극복하기 위해 AFM(Atomic Force MicroScope :원자 힘 현미경)을 개발하여 부도체인 시료를 볼 수 있게 하여 원자현미경을 ... Microscope), MFM(Magnetic Force Microscope), Force Modulation, Phase Image, EFM(Electrostatic Force

  리포트 | 8페이지 | 1,000원 | 등록일 2008.12.27

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  SPM(Scanning Probe Microscope) & AFM (Atomic Force Microscope)의 장치 비교 및 각각의 역사, 이론, 원리

  , Zurich 개발 • 1986 : Nobel prize (Bining, Rohrer) - AFM ( Atomic Force Microscope) • 1986 : Binning, ... SPM (주사탐침 현미경) - STM (Scanning Tunneling Microscope) • 1982 : Bining, Rohrer, Gerber, and Weibel at IBM ... 달려있는 뾰쪽한 부분과 시료표면과의 사이 원자반발력 (인력과 척력의 작용) • Cantilever 휘는 정도를 레이저 광의 굴절을 통해 표면정보 수집SPM(Scanning Probe Microscope

  리포트 | 35페이지 | 2,000원 | 등록일 2009.03.24

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  원자현미경 STM과 AFM의 이론 및 AFM 측정 실험보고서

  실험제목AFM 실습 보고서(Atomic Force Microscope)과목명나노 바이오 시스템 공학실험 일자2015년 11월 19일조이름학번담당 교수AFM 실습 보고서Ⅰ. ... )을 개발해낸다.■ AFM(Atomic Force Microscope)레너드 존스(Lennard-Jones)에 따르면, 원자간 거리가 z, 평형상태에서의 원자간 에너지가 U0, 거리가 ... 따라서 홀로 외로이 남은 ‘부도체’를 위해 Binning, Gerber, Quate는 4년 뒤인 1986년, 가장 보편화된 원자현미경인 AFM(Atomic Force Microscope

  리포트 | 12페이지 | 4,900원 | 등록일 2020.12.16

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  Surface characterization by AFM

  AFM(Atom Force MicroScope)1) AFM의 특징- ▲ AFM장치 및 원리원자간 힘의 측정 원리로 인해 측정표면이 도체이어야 한다는 STM의 한계를 극복하였다. ... Force Microscope): 부도체 시료의 측정② STM(Scanning Tunneling Microscope): 최초의 원자 현미경③ LFM(Lateral Force Microscope ... ): 표면의 마찰력을 재는 원자현미경④ MFM(Magnetic Force Microscope): 자기력을 재는 원자현미경⑤ FMM (Force Modulation Microscope

  리포트 | 5페이지 | 3,000원 | 등록일 2021.01.18 | 수정일 2023.01.12

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  [고분자 화학] AFM을 이용한 ITO glass 분석

  원자간력 현미경(Atomic Force Microscope)대표적인 주사탐침 현미경(scanning probe microscope, SPM)의 하나로, AFM은 탐침을 시료 표면에 ... Abstract이 글은 최근에 LCD, PDP 등의 얇고 평평한 디스플레이에 들어있는 ITO glass를 원자간력현미경(Atomic Force Microscope, AFM)을 통해 ... 및 tip-sample interaction.2.2 AFM의 장점과 단점그림 5에서 보는 바와 같이 원자간력현미경(Atomic Force Microscope)은 물질표면의 이차원적

  리포트 | 8페이지 | 2,000원 | 등록일 2021.08.22

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  TEM, SEM, AFM

  AFM(Atomic Force Microscope)Fig.3.1. 원자 힘 현미경(Atomic Force Microscope)3.1. ... SEM(Scanning Electron Microscope)Fig.2.1. 주사전자현미경(Scanning Electron Microscope)2.1. ... 투과전자현미경(Transmission Electron Microscope)1.1 TEM 원리투과전자현미경은 광학현미경과 그 원리가 비슷하다.

  리포트 | 7페이지 | 2,000원 | 등록일 2020.09.07 | 수정일 2023.12.23

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  재료분석학 Report-재료분석기기 및 분석원리

  ) 주사 탐침 현미경(1) STM (Scanning Tunneling Microscope) 주사 터널링 현미경(2) AFM (Atomic Force Microscope) 원자간력(3 ... ) EFM (Electrostatic Force Microscop의하여 구할 수 있다.투과법의 경우 2q = tan-1 x/D반사법의 경우 180 - 2q = tan-1 x/D여기서 ... HOLZ선과 HOLZ환은 결정의 대칭성, 격자상수, 구조인자의 측정에 이용된다.2) SEMSEM (Scanning Electron Microscope) 주사 전자 현미경전자현미경은

  리포트 | 11페이지 | 3,000원 | 등록일 2020.04.21 | 수정일 2020.04.23

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  Instrumental Analysis AFM 예비보고서

  실험 목적 (objective)- Atomic Force Microscope(AFM)의 원리를 이해한다.- AFM tip과 sample 사이 거리에 따른 Van der Waals force ... Van der Waals ForceVan der Waals force는 분자의 separation에 따라 closed-shell molecule 사이에 작용하는 힘이다.

  리포트 | 3페이지 | 1,000원 | 등록일 2022.08.31

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  Instrumental Analysis AFM 결과보고서

  AFM (Atomic force microscope)AFM 은 sample 과 cantilever 사이에 작용하는 van der waals force 를 이용하여 시료 표면의 roughness ... 작동원리 : van der waals force먼저 sample 과 cantilever 거리가 수 nm 이내가 될 수 있도록 cantilever 를 sample 에 접근시킨다.

  리포트 | 6페이지 | 3,000원 | 등록일 2022.08.31

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