"atomic force microscope" 검색결과 101-120 / 220건

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  ZnO나노입자 합성(1)

  전자선(광원)에서 나온 빛을 이용하여 표면을 관측하는 방법.SEM 의 전체사진AFM(atomic force microscope ) STM의 가장 큰 결점은 전기적으로 부도체인 시료는 ... 광섬유가 폴리머 접착제 사이에 들어있는 단면폴리머 코팅한 것을 원자현미경으로 찍은 사진컴퓨터용 하드디스크를 원자현미경으로 찍은 사진TEM (Transmission Electron Microscope ... 전이 금속 도핑을 통한 전하 운반자 농도의 자유로운 제어 등과 관련된 새로운 합성기술 원하는 위치에서 단일 ZnO 나노 와이어를 성장시키는 기술 등참고 문헌 http://www.microscope.wo.to

  리포트 | 36페이지 | 3,000원 | 등록일 2011.05.30

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  나노기술(NT)의 정의, 나노기술(NT)의 영역과 분류, 나노기술(NT)의 특징, 나노기술(NT)의 현황, 나노기술(NT)의 융합,종합발전계획, 나노기술과 탄소나노튜브,반도체

  분석하고 제어하는데 필요한 장비를 제작하고 활용하는 기술영역AFM(Atomic Force Microscope, 원자힘 현미경), STM(Scanning Tunneling Microscope

  리포트 | 11페이지 | 5,000원 | 등록일 2013.04.26

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  PDMS 패턴 예비

  Force Microscope)의 tip을 이용하여 기판에 thiol분자 등으로 패턴을 직접 그리는 Dip-pen lithography 등을 이용하여 그 크기를 획기적으로 줄이는데 ... molding, etching 등의 산업적으로 기본이 되는 공법과, SAMs (Self-assembled monolayers, 자기조립단분자막)을 이용하여 비용을 절감하는 한편, AFM(Atomic

  리포트 | 3페이지 | 1,000원 | 등록일 2011.04.19

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  AFM

  원자현미경의 효시는 STM(Scanning Tunneling Microscope)이며 가장 널리 쓰이는 원자현미경은 AFM(Atomic Force Microscope)이다. ... 실험제목 : Atomic Force Microscopy3. 실험목표 : AFM의 원리를 이해하고 이를 이용해 물질의 특성을 알 수 있다.4. ... Atomic Force Microscopy(AFM) AFM은 STM과 유사한 방식으로 사용되나 하전되지 않은 물질도 이용할 수 있다는 장점을 가지고 있다.

  리포트 | 15페이지 | 1,500원 | 등록일 2009.07.13

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  현미경의종류와구조

  원자현미경(AFM, Atomic Force Microscope) : 오디오 기기 중에서 CDP가 나오기 전까지 음악재생의 대부분은 turn table(LP player)이 그 역할을 ... , 반데르발스 힘) 밀치는 힘(척력,repulsive force, Coulomb's forces, 쿵롱 힘)이 작용하게되고, 이 힘에 의해 캔틸레버가 아래 위로 휘어지게 되며, 이 ... 주사를 하면, 이 때 캔틸레버 끝에 붙어있는 탐침이 시료 표면에 접근하여 탐침 끝의 원자와 시료표면의 원자 사이에 서로의 간격에 따라 끌어당기거나(인력, van der Waals forces

  리포트 | 4페이지 | 1,000원 | 등록일 2009.05.29 | 수정일 2018.03.03

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  광학 현미경 조직 관찰

  원자현미경(AFM, Atomic Force Microscope)원자현미경은 표본의 표면을 캔틸레버 라고 불리는 작은 막대가 주사를 하면, 이 때 캔틸레버 끝에 붙어있는 탐침이 시료 ... 광학현미경(LM, Light Microscope)유리렌즈를 사용하며, 광원(빛)은 가시광선을 이용한다. 따라서 칼라로 관찰이 가능하다.2. ... 전자현미경(EM, Electron Microscope)전자현미경에서는 광학현미경과는 달리 유리렌즈 대신에 자계렌즈(마그네틱 렌즈)를 이용하고, 광원은 가시광선 대신에 파장이 짧은 전자를

  리포트 | 5페이지 | 1,000원 | 등록일 2009.11.20

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  현미경의 종류와 쓰임새

  STM의 발명후에 시료, 탐침간에 움직이는 원자간력을 검출하여 표면형상을 관찰하는 원자간력 현미경이 발명되었다 (AFM: Atomic Force Microscope). ... 현미경의 종류와 쓰임새1) 실체 현미경 (stereoscopic microscope)육안으로 가까운 곳에 있는 물체를 볼 때에는 두 눈이 틀린 각도로 보기 때문에 입체감을 얻을 수가 ... 세포의 변화나 구조 등을 관찰할 때 사용하며 병원에서는 혈액을 보거나 혈액 안에 있는 세균을 보는 곳에도 사용을 한다.3) 수평현미경 (horizontal microscope)경통이

  리포트 | 5페이지 | 1,000원 | 등록일 2010.09.10

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  주사전자현미경

  원자현미경(AFM, Atomic Force Microscope)*주사전자현미경*1. 현미경의 조직검사2. 시료의 준비3. ... 광학현미경(LM, Light Microscope)2. 전자현미경(EM, Electron Microscope)3. ... 광학현미경(LM, Light Microscope): 유리렌즈를 사용하며, 광원(빛)은 가시광선을 이용한다. 따라서 칼라로 관찰이 가능하다.

  리포트 | 39페이지 | 2,000원 | 등록일 2010.11.04

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  자성 나노입자의 생체재료 응용

  )이나 원자현미경(Atomic Force Microscope)은 재래의 광학? ... 크기의 극소화를 통해 성능 고도화와 가격경쟁력 향상은 물론 에너지와 자원의 경제적 활용을 추구하고 있다.1980년대 후반에 개발된 주사 터널링 현미경(ScanningTunneling Microscope

  리포트 | 10페이지 | 2,000원 | 등록일 2012.09.19

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  Atomic Force Microscopy(AFM)

  ) 하여 3 차원적인 표면의 형상 및 구조에 관한 정보를 얻는 현미경 : STM(Scanning Tunneling Microscope) AFM(Atomic Force Microscope ... 정의 : 원자 사이에 작용하는 원자힘을 측정에 이용하는 원자 현미경 . : Atomic Force Microscope 의 약자로서 시료와 탐침 사이의 접촉 힘을 이용하여 원자수준의 ... AFM (Atomic Force Microscopy)Contents 1. AFM 이란 ? 2.

  리포트 | 16페이지 | 2,000원 | 등록일 2008.01.09

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  현미경의 종류 및 구조와 기능

  원자현미경(AFM, Atomic Force Microscope) : 오디오 기기 중에서 CDP가 나오기 전까지 음악재생의 대부분은 turn table(LP player)이 그 역할을 ... , 반데르발스 힘) 밀치는 힘(척력,repulsive force, Coulomb's forces, 쿵롱 힘)이 작용하게되고, 이 힘에 의해 캔틸레버가 아래 위로 휘어지게 되며, 이 ... 주사를 하면, 이 때 캔틸레버 끝에 붙어있는 탐침이 시료 표면에 접근하여 탐침 끝의 원자와 시료표면의 원자 사이에 서로의 간격에 따라 끌어당기거나(인력, van der Waals forces

  리포트 | 5페이지 | 1,000원 | 등록일 2009.03.20

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  나노테크놀러지

  공기분자나 산소분자가 탐침 끝에 붙거나 시편 표면에 흡착되면 관찰을 방해하기 때문이다.(4) 원자힘 현미경원자힘 현미경(atomic force microscope: AFM)은 원자 ... 하지만 아직도 나노과학기술이란 무엇이고 어떤 원리로 우리에게 해택을 가져다주는지, 그 가능성은 어디까지인지에 대해 잘 알지 못하고 있다.무기화학개론 Ch.1 The Atom in modern

  리포트 | 9페이지 | 3,000원 | 등록일 2012.05.22

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  자연과학개론1. 현미경의 구조

  따라서 전자현미경에 서는 컬러상을 관찰할 수 없고 흑백상을 관찰하게 된다.③ 원자현미경(AFM, Atomic Force Microscope)오디오 기기 중에서 CDP가 나오기 전까지 ... 현미경을 옮길 때 오른손으로 경주를 잡는다.3) 현미경의 종류① 광학현미경(LM, Light Microscope)유리렌즈를 사용하며, 광원은 가시광선을 이용한다. ... 따라서 칼라로 관찰이 가능하다.- 일반광학현미경(light or bright-field microscope)대물렌즈로 1차 확대상을 대물렌즈로 2차 확대상을 만든다.- 위상차현미경(

  리포트 | 4페이지 | 1,000원 | 등록일 2009.08.31

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  나노파티클

  STM(Scanning Tunneling Microscope, 주사형터널링현미경), AFM(Atomic Force Microscope, 원자간력현미경)은 나노해상도를 가지고 있으므로

  리포트 | 8페이지 | 1,000원 | 등록일 2011.06.13

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  [고급물리학 실험] SPM과 MODE

  AFM(Atomic Force Microscope 원자간 력 현미경, 원자 힘 현미경)STM이 진공 터널링 전류를 이용 하는 것과 비교하여 실험시료와 탐침의 원자 사이에 작용하는 힘을 ... 제 출 일SPM(Scanning Probe Microscope 주사프로브 현미경)프로브를 사용하여 표면상의 아주 작은 범위의 물리적, 전기적, 자기적 특성 등을 이해할 수 있는 즉, ... 그러나 본래의 팁-시료 상호작용(tip-sample interacition)과 시료 자체의 점착력(adhesive force) 등에 의한 내재적 비선형성이 팁의 응답에 영향을 끼치는

  리포트 | 6페이지 | 3,000원 | 등록일 2010.12.31

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  nano pre

  STM(Scanning Tunneling Microscope, 주사형터널링현미경), AFM(Atomic Force Microscope, 원자간력현미경)은 나노해상도를 가지고 있으므로

  리포트 | 10페이지 | 2,000원 | 등록일 2012.02.10

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  나노 기술

  ) 원자현미경의 효시는 STM (Scanning Tunneling Microscope) 가장 널리 쓰이는 원자현미경은 AFM (Atomic Force Microscope)1) STM ... (Scanning Tunneling Microscope) : 최초의 원자현미경STM의 구조도STM으로 찍은 실리콘 표면2) AFM (Atomic Force Microscope) : ... 여러 제품에 적용4.나노 세계를 열 수 있는 열쇠제1세대 광학현미경 제2세대 전자현미경 제3세대 원자현미경 1980년대에 발명된 원자현미경 (SPM : Scanning Probe Microscope

  리포트 | 22페이지 | 1,500원 | 등록일 2007.12.11

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  [공학기술]Atomic Force Microscopy(AFM)

  이러한 Nano-Technology를 선도하는 기술은 지난 80년대 발명된 STM(Scanning Tunneling Microscope)과 AFM(Atomic Force Microscope ... AFM (Atomic Force Microscopy)4.1. ... 1982년에 개발되었다. (1986년 Binning, Roher 노벨 물리학상 수상) Atomic Force Microscope(AFM)은 IBM이 주도한 공동연구에서 Binning과

  리포트 | 15페이지 | 2,000원 | 등록일 2007.06.19

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  재요공학실험 ( 현미경의 종류와 원리 )

  SPM에는 원자현미경 계열 중 처음으로 등장한 STM(Scanning Tunneling Microscope), 부도체 시료의 측정을 가능케 한 AFM (Atomic Force Microscope ... ), 물질의 형상이외에 다른 특성들을 측정할 수 있는 MFM(Magnetic Force Microscope), LFM(lateral Force Microscope), FMM(Force ... Modulation Microscope), EFM(Electrostatic Force Microscope), SCM(Scanning Capacitance Microscope) 그리고EC-SPM

  리포트 | 4페이지 | 1,000원 | 등록일 2008.07.01

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  재료 분석 장비 소개

  원자, 분자 구조에서 관찰되는 atomic force 사진은 아래와 같다.Reference : Materials science and engineering an introduction ... 재료분석 장비 및 원리투과전자현미경 관찰법( Transmission electron microscope, TEM)TEM으로 보여지는 상은 시편을 통과하는 전자 빔에 의해서 형성된다. ... (www.purdue.edu/REM/rs/sem.htm)주사탐침현미경 (Scanning probe microscope, SPM)SPM은 빛과 전자를 이용하여 상을 형성하는 광학 전자현미경과

  리포트 | 5페이지 | 1,000원 | 등록일 2009.04.14

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