"atomic force microscope" 검색결과 121-140 / 220건

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  [화학과 물리화학 실험] SPM(STM과 AFM)

  Force MicroScope :원자 힘 현미경)을 개발하여 부도체인 시료를 볼 수 있게 하여 원자현미경을 고분자, 생명공학 및 광학등 거의 모든 분야에서 사용할 수 있게 하였다. ... -AFM(Scanning Force MicroScope)의 원리"AFM"에서는 STM과는 달리 텅스텐 또는 백금으로된 탐침대신 나노기술로 제조된 프로브를 사용하는데 이 프로브는 프로브의 ... 데이터 지점에서의 스캐너의 수직위치를 컴퓨터에 저장하여 샘플표면의 삼차원영상을 얻는 원리인데 이 기술의 적용은 도체나 반도체에 제한된다.이러한 샘플의 제한을 극복하기 위해 AFM(Atomic

  리포트 | 4페이지 | 1,000원 | 등록일 2008.12.27

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  sams (Self-Assembled Monolayers )

  Atomic Force Microscope(AFM)분자간 힘이온 이중극자 힘 (ion-dipole force) 이중극자-이중극자 힘 (dipole-dipole force) 분산력 ( ... DPN(Dip-pen Nanolithography) AFM(atomic force microscope)은 대기 중에서 측정할 때 tip과 표면 사이에 아주 작은 모세관이 형성된다. ... London force) 수소결합 (hydrogen bonding)분자간 힘1) 이온 이중극자 힘2) 이중극자-이중극자 힘3) 분산력e-e-e-e-e-e-(polarizability

  리포트 | 59페이지 | 2,000원 | 등록일 2009.05.11

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  STM의 모든것

  SPM(Scanning Probe MicroScope)은 STM(Scanning Tunneling MicroScope)과 AFM(Atomic Force MicroScope)을 통칭하여 ... 이러한 샘플의 제한을 극복하기 위해 AFM(Atomic Force Microscope :원자 힘 현미경)을 개발하여 부도체인 시료를 볼 수 있게 하여 원자현미경을 고분자, 생명공학 ... STM의 feedback loop2)AFM (Atomic Force MicroScope)AFM에서는 STM과는 달리 텅스텐 또는 백금으로 된 탐침대신 나노기술로 제조된 프로브를 사용하는데

  리포트 | 6페이지 | 2,000원 | 등록일 2007.10.22

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  [레이저광][레이저광 특성][레이저광 이용][레이저광 도플러효과][표면광레이저][레이저]레이저광의 특성, 레이저광의 이용, 레이저광의 도플러효과, 레이저광과 표면광레이저 분석

  force microscope)의 정밀도를 크게 향상시킬 수 있다.8. ... 단일 레이저 광속의 초점에 포획된 비구형 입자를 탐침으로 사용할 경우 힘상수가N/m 정도로서, 캔티레바(cantilever)의 힘상수N/m에 비해서 훨씬 작기 때문에 원자힘현미경(atomic

  리포트 | 8페이지 | 5,000원 | 등록일 2013.03.27

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  CVD 합성을 통해서 SWCNT(single wall carbon nanotube) 배열

  A tapping mode atomic force microscope image for the isolated SWCNTs on the Si substrate.1) 금 전극과 산화된

  리포트 | 4페이지 | 1,000원 | 등록일 2009.12.27

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  각종 현미경

  STM(Scanning Tunneling Microscope)3. AFM(Atomic Force Microscope)3-1. Contact AFM3-2. ... LFM(Lateral Force Microscope)5. FMM(Force Modulation Microscope)6. ... PDM(Phase Detection Microscope)7. MFM(Magnetic Force Microscope)8.

  리포트 | 64페이지 | 5,000원 | 등록일 2008.05.19

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  personal genomic sequencing의 분석방법 원리

  Atomic force microscope(sample의 표면 근처에 갈 때 느끼는 미세한 힘을 읽어냄으로 전자의 분포를 알아내는 장치)는 칩의 표면을 재빨리 읽어 어디에 hybridized

  리포트 | 2페이지 | 1,000원 | 등록일 2009.05.28

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  Physical metallurgy 정리_metal structure, crystal bonding

  Assumption : 이웃하는 atom 간의 interaction force 는 linear spring 과 같다 3.8 The lattice energy of an inert gas ... Analytical methods 2.6 The transmission electron microscope -. 100 ~ 400kV 의 높은 에너지를 가지는 electron 이 얇은 ... Crystal is defined as an orderly array of atoms in space -.

  리포트 | 20페이지 | 1,500원 | 등록일 2009.02.09

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  그래핀 제조공정, 특징

  원자간력 현미경 (Atomic force microscope) 의 시료를 분석할 때 사용하는 돌비늘이라고 알려져 있는 운모 (mica) 도 층상구조물 → 오염되지 않은 막을 얻기 위해서

  리포트 | 22페이지 | 3,000원 | 등록일 2011.03.23

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  나노공정

  ), 원자간력(原子間力) 현미경(AFM:atomic force microscope) 등을 이용하여 관측물의 원자 구조까지 명확하게 관찰할 수 있 다. ... 이용하여 제작된 나노패턴(3) 나노 프로브 응용공정 기술나노프로브란 나노 스케일로 물질의 특성을 평가하는 기술로서, 주사형 터널 현미 경(STM:scanning tunneling microscope

  리포트 | 9페이지 | 1,500원 | 등록일 2011.05.17

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  고분자의 표면과 계면 과 분석기기(SEM,TEM,STM,AFM)

  주사형터널현미경의 구조Atomic Force (AFM)시료에 도전성이 없을경우 사용 미세한 탐침(캔틸레버)과 시료의 상작용(van der waals force)을 이용하여 표면현상 ... MicroScope(AFM)Scanning Tunneling MicroScope (STM)Scanning Electron Microscope(SEM)4.2Transmission Electron ... 결합에너지 측정 1) 시료의 구성성분 분석 2) 화학결합의 형태 인지MicroscopeElectron MicroscopeScanning Probe MicroscopeAtomic Force

  리포트 | 28페이지 | 3,000원 | 등록일 2007.12.03

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  영화 시나리오 트리트먼트

  이 나노입자(nanoparticle)는 STM(Scanning Tunneling Microscope, 주사형터널링현미경)이나 AFM(Atomic Force Microscope, 원자간력현미경

  리포트 | 11페이지 | 2,000원 | 등록일 2010.12.08

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  맥스웰 방정식의 이론과 조사후기

  일단 이 사진이 얻어지면 위에서 본 형상뿐 아니라 각 부분의 굴곡도는 물론 단면도, 입체도 및 각종 통계자료를 얻을 수 있다.AFM(Atomic Force Microscope)가장 ... (Scanning electron microscope) .주사전자현미경 (scanning electron microscope)은 1938년 Von Ardenne에 의해 발명되었으며

  리포트 | 9페이지 | 1,500원 | 등록일 2010.08.01

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  기계공학응용실험 MEMS(Micro Electro Mechanical System) 예비보고서 (2)

  특히 최근에 AFM(Atomic Force MIcroscope)를 위하여 실리콘 마이크로 머시닝을 이용해 개발한 프로브는 AFM의 기능을 상당히 향상시켰다.

  리포트 | 7페이지 | 1,000원 | 등록일 2012.01.10

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  신안 SNP에 대해서

  협력업체: LG, SAMSUNG, HYUNDAI 등……,생산품 검사장비.Atomic Force Microscope 모델명: XE - 100 제작사 : PSIA 측정 내용 : Roughness

  리포트 | 18페이지 | 3,000원 | 등록일 2010.06.04

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  나노 프로프 기술

  원자간력(原子間力) 현미경(AFM:atomic force microscope) 등을 이용하여 관측물의 원자 구조까지 명확하게 관찰할 수 있다. ... 나노프로브 기술에서는 주사형 터널 현미경(STM:scanning tunneling microscope), 원자간력(原子間力) 현미경(AFM:atomic force microscope ... 연결 분자에 대한 직접 이동(Direct force-displacement)이 측정됐으며, STM(scanning tunneling microscope)을 이용해 측정한 적혈구의 단분자

  리포트 | 21페이지 | 3,000원 | 등록일 2007.12.07

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  [리포트]proteomics(프로테오믹스;단백질체학)

  또한 고해상도의 AFM( Atomic Force Microscope)을 이용하여 단백질의 구조를 직접적으로 관찰하기도 한다.또한 단백질의 서열을 알기 위해서는 에드만 분해(Edman ... 이온화시키는 방법인 장탈착법(field desorption, FD), 이차이온 질량분석법(secondary ion mass spectrometry, SIMS) 및 고속원자 충격법(fast atom

  리포트 | 7페이지 | 2,000원 | 등록일 2010.10.30

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  Surface characterization with AFM

  force microscope) :원자간력 현미경이란 뜻으로 원자와 원자의 반발력과 인력을 이용하여 표면을 관찰 STM(Scanning Tunneling Microcopy)이 실험조건이 ... 생명·분자공학부 200421808 김경해 200421887 허지호나노 기술 입문ContentsDefinition of AFM Principle of AFM Atomic force Measurement ... surface Thiomacrocyclic ionophore (LB film) Biological application ConclusionsDefinition of AFMAFM( Atomic

  리포트 | 24페이지 | 3,000원 | 등록일 2007.11.30

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  ZnO CNT 소자 제작 LED 리소그래피 실험

  Force Microscope, AFM)은 주사 프로브 현미경 (Scanning Probe Microscope, SPM)의 한 종류이다. ... 있음)은 심지어 영구적인 극성분자들 사이에도 존재하며, 보통은 반데르발스 힘에 기여하는 3가지 요소들 중 가장 큰 부분을 이룬다.6.1.2 AFM에 의한 측정 이론원자간력 현미경 (Atomic ... 탄소나노튜브의 결합구조5.3 열화학기상증착법(Thermal CVD)에 의한 탄소나노튜브의 합성5.4 CNT 제작제 6 장 AFM6.1 이론적 배경6.1.1 van der Waals forces

  리포트 | 32페이지 | 4,000원 | 등록일 2010.04.03

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  [물리화학][물리화학실험] STM을 이용한 HOPG의 C(탄소) 결합 길이 측정[SPM]

  이러한 Nano-Technology를 선도하는 기술은 지난 80년대 발명된 STM(Scanning Tunneling MicroScope)과 AFM(Atomic Force MicroScope ... Force Microscope을 포함하는 주사탐침현미경(Scanning Probe Microscope)이다.HOPG(고배향성열분해흑연)은 기판의 표면에 수직방향으로 C-축의 결정학적 ... Force MicroScope(AFM)은 IBM이 주도한 공동연구에서 Binning과 Gerber에 의해 1986년에 개발되었다.2.

  리포트 | 4페이지 | 1,000원 | 등록일 2006.04.14

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