"atomic force microscope" 검색결과 161-180 / 220건

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  세포의 관찰

  따라서 전자현미경에서는 컬러 상으로 관찰할 수 없고 흑백 상으로 관찰하게 된다.③원자 현미경(AFM, Atomic Force Microscope) : 원자현미경은 표본의 표면을 캔틸레버 ... , 반데르발스 힘), 밀치는 힘(척력,repulsive force, Coulomb's forces, 쿵롱 힘)이 작용하게 되고, 이 힘에 의해 캔틸레버가 아래, 위로 휘어지게 되며, ... 간섭 현미경(interference microscope)라. 암시야 현미경(dark-field microscope)마. 편광 현미경(polarizing microscope)바.

  리포트 | 13페이지 | 1,500원 | 등록일 2006.11.29

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  Plasma (RF Sputtering) / Working pressure / Oxygen partial pressure / XRD / SEM / AFM / TEM

  Theory (simple)- AFM이란 Atomic Force Microscope의 약자로, STM과 비슷하지만 STM의 문제점을 대부분 해결한 장치이다. ... Theory (simple)- SEM이란 Scanning Tunneling Microscope의 약자로, 10^-3 Pa 이상의 진공 중에 놓여있는 시료 표면을 1~100nm 정도의

  리포트 | 7페이지 | 1,000원 | 등록일 2007.12.23

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  [OLED, LED] 유기막(PEDOT)의 특성 및 표면분석

  Force Microscope)"AFM"에서는 STM과는 달리 텅스텐 또는 백금으로된 탐침대신 나노기술로 제조된 프로브를 사용하는데 이 프로브는 프로브의 모판(substrate) ... Beer-Lambert law라고 하였다.실제적으로는 분석하고자 하는 선스펙트럼 광원(속빈음극등)을 사용하며 농도C에 대한 흡광도A를 도시하여 측정원소의 검정곡선을 작성할 수 있다.⑤ AFM(Atomic ... Non-contact Mode의 원리이 모드는 Van der Waals Forces의 인력을 이용하기 때문에 원자간의 인력의 크기가 매우 작아 Contact Mode처럼 캔티레버의

  리포트 | 9페이지 | 1,000원 | 등록일 2008.11.05

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  나노기술의 정의와 이용분야 및 발전 가능성

  )O 원자현미경의 효시는 STM(Scanning Tunneling Microscope)가장 널리 쓰이는 원자현미경은 AFM(Atomic Force Microscope)현대 과학기술의 ... 같은 물질인 경우에도 어떤 표면 처리가 마찰력을 크게, 혹은 작게 할 수 있는가를 알 수 있으므로 마찰, 마모 등을 연구하는데 LFM이 유용하게 쓰여진다.4) FMM(Force Modulation ... Microscope) : 시료의 경도(硬度)를재는 원자현미경Contact mode의 AFM에서 탐침이 시료와 접촉하고 있는 범위 내에서 캔틸레버를 일정한 진폭으로 진동 시키면 시료와의

  리포트 | 24페이지 | 2,000원 | 등록일 2007.12.11

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  Ⅱ - Ⅵ 반도체 나노 입자 합성 실험

  STM(Scanning Tunneling Microscope, 주사형터널링현미경), AFM(Atomic Force Microscope, 원자간력현미경)은 나노해상도를 가지고 있으므로

  리포트 | 12페이지 | 5,400원 | 등록일 2008.10.31

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  [공학 > 화학 > 고분자 > 나노]AFM

  ■ 실험제목 : AFM (atomic force microscope)■ 실험일자 : 2004년 11월 8일■ 실험목적 : AFM의 원리를 이해하고 그 사용법을 익힌다.■ 기본이론1 ... {그림 SPM의 일반적인 모식도1) SPM의 종류○ STM(Scanning Tunneling Microscope) : 원자현미경 계열 중 처음으로 등장.○ AFM(Atomic Force ... {그림 STM의 원리 구조도3 AFM(Atomic Force Microscope)AFM은 분석 시료와 탐침 사이를 접근 시킬 때 나타tilever)캔틸레버와 탐침은 시료표면에 적용되는

  리포트 | 14페이지 | 1,500원 | 등록일 2004.11.13

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  [생물학실험] 현미경의 종류와 구조

  따라서 전자현미경에서는 컬러상을 관찰할 수 없고 흑백상을 관찰하게 된다.3) 원자현미경(AFM, Atomic Force Microscope) : 원자현미경은 표본의 표면을 캔틸레버 ... , 반데르발스 힘) 밀치는 힘(척력,repulsive force, Coulomb's forces, 쿨롱 힘)이 작용하게 되고, 이 힘에 의해 캔틸레버가 아래 위로 휘어지게 되며, 이 ... 주사를 하면, 이 때 캔틸레버 끝에 붙어있는 탐침이 시료 표면에 접근하여 탐침 끝의 원자와 시료표면의 원자 사이에 서로의 간격에 따라 끌어당기거나(인력, van der Waals forces

  리포트 | 3페이지 | 1,000원 | 등록일 2005.04.16

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  [화학공학]나노구조체에 관하여

  이를 위해서 타겟 물질에 형광물질을 사용한 경우에는 주로 형광현미경을 이용하여 분석하고 NP를 이용한 경우에는 atomic force microscope를 이용하여 분석한다.다양한 ... 마지막 6단계는 검출한계를 증폭하기 위하여 anti-p24로 치환된 금 NP를 이용하여 반응시키게 되면 double sandwith immunoassay가 생성되어 atomic force ... microscope로 더 명확하게 반응여부를 분석할 수 있다.

  리포트 | 5페이지 | 2,000원 | 등록일 2006.12.15

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  [원자론]SPM 원자현미경에 대하여

  이러한 Nano-Technology를 선도하는 기술은 지난 80년대 발명된 STM(Scanning Tunneling MicroScope)과 AFM(Atomic Force MicroScope ... 일단 이 사진이 얻어지면 위에서 본 형상뿐 아니라 각 부분의 굴곡도는 물론 단면도, 입체도 및 각종 통계자료를 얻을 수 있다.STM의 원리 구조도AFM(Atomic Force Microscope ... Force MicroScope(AFM)은 IBM이 주도한 공동연구에서 Binning과 Gerber에 의해 1986년에 개발되었다.2) SPM의 필요배경앞으로는 과학의 추구 방향이

  리포트 | 25페이지 | 1,500원 | 등록일 2004.11.27

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  SEM(scanning electron microscope)에 관한 조사

  서 론일반적으로 현미경은 광학 현미경(Light Microscope or Optical Microscope)과 전자 현미경(Electron Microscope), 원자현미경(Atomic ... Force Microscope)으로 크게 나뉘며, SEM은 고체 상태에서 작은 크기의 미세 조직과 형상을 관찰할 때 널리 쓰이는 현미경으로서 1965년 최초로 상품화된 후 초점 심도가 ... 이보다 앞서 1938년M. von Ardenne 이 주사전자빔을 이용하였으나 이는 얇은 시편을 투과하는 전자빔, 즉 STEM(scanning transmission electron microscope

  리포트 | 13페이지 | 2,000원 | 등록일 2007.09.29

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  생산공정설계(용접편)

  After sufficient heating, the projections collapse under the extremely applied force 4. ... metals firmly together.4.2 WELDINGWelding is the joining of two or more pieces of metal by creating atom-to-atom ... interatomic-separation.To get a sound weldment, obstacles must be overcome First, surfaces are not flat when viewed on a microscopic

  리포트 | 32페이지 | 2,000원 | 등록일 2006.11.16

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  현미경 (광학현미경,전자현미경,원자현미경)

  특히 시료가 미량인 생체고분자의 연구에 효과적으로 사용되고 있으며 생활과학 분야 및 신소재, 신기능소자의 개발에 불가결한 장치 이다.원자현미경 (AFM, atomic force microscope ... 위상차현미경(phase contrast microscope)굴절률의 차이를 이용하여 표본(시료)를 관찰하는 방법으로 염색되지 않은 살아있는 세포를 관찰하는데 유용하나 굴절률이 낮은 ... 간섭현미경(interference microscope)물체가 빛을 지연시키는 현상을 이용하여, 표본을 투과한 물체광에 광원에서 분리된 간섭광을 겹치게 하여 광파장에 대한 간섭현상으로

  리포트 | 8페이지 | 1,000원 | 등록일 2007.04.13

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  No.49 미세구조분석 & 광을 이용한 성분분석

  AFM ( Atomic Force Microscope )1) AFM의 원리 : 재료표면의 원자와 탐침 끝의 원자 간의 반데르발스 힘에 의한미세한 힘을 감지하여 표면을 분석2) 얻을 ... 전자현미경의 종류1) 투과 전자 현미경 ( Transmission Electron Microscope , TEM )2) 주사 전자 현미경 ( Scanning Electron Microscope ... STM) : 표면형상 관찰3) 분석 전자 현미경 : 시료로부터 생기는 X선 또는 비탄성 산란분자 분석4) 주사 투과 현미경 ( Scanning Transmission Electron Microscope

  리포트 | 9페이지 | 3,000원 | 등록일 2007.12.24

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  나노기술에 대해서.

  분석하고 제어하는데 필요한 장비를 제작하고 활용하는 기술영역: AFM(Atomic Force Microscope, 원자힘 현미경), STM(Scanning Tunneling Microscope

  리포트 | 7페이지 | 1,000원 | 등록일 2008.12.08

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  (생체모방) 홍합접착제

  force microscope)의 개략적인 그림이다. ... 추출해낸 MGFP-5 cDNA의 전기영동사진[그림 ] MGFP-5를 플라스미드에 삽입하는 모습□ 홍합 접착제 성분의 접착성 측정[그림 5]는 단백질 접착성을 측정하기 위한 AFM(atomic

  리포트 | 15페이지 | 1,000원 | 등록일 2010.01.16

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  박막표면굴절률측정법

  주로 물질의 광전자적 구조를 연구할 수 있다.2) AFM(Atomic Force Microscope) : 가장 보편적인 원자현미경STM의 가장 큰 결점은 전기적으로 부도체인 시료는

  리포트 | 6페이지 | 1,500원 | 등록일 2007.04.29

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  [화학] SPM

  ) : 원자현미경 계열 중 처음으로 등장.○ AFM(Atomic Force Microscope) : 부도체 시료의 측정을 가능케 함.○ MFM(Magnetic Force Microscope ... ), ○ LFM(lateral Force Microscope)○ FMM(Force Modulation Microscope), ○ EFM(Electrostatic Force Microscope ... 오른쪽 사진은 단순한 시료의 표면을 형상화한 것이고 왼쪽 사진은 같은 시료의 표면을 PDM을 이용하여 찍은 사진MFM(Magnetic Force Microscope) : 자기력(磁氣力

  리포트 | 22페이지 | 3,000원 | 등록일 2004.12.05

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  STM

  해준 기자재 중 가장 핵심적인 역할을 해온 것이 STM (Scanning Tunneling Microscope)과 AFM(Atomic Force Microscope)이라는 기계이다 ... 이 둘을 통칭하여 SPM(Scanning Probe Microscope)라고 부른다. ... STM (Scanning tunneling microscope)Nano technology의 발전은 작은 원자의 세계를 볼 수 있는 능력이 발전하면서 가속화되어 왔는데, 그 것을 가능하도록

  리포트 | 4페이지 | 1,000원 | 등록일 2006.10.18

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  MEMS란

  Force Microscope)이나 STM(Scanning Tunneling Microscope) 등과 같이 미소 탐침을 이용한 시스템에 있어서 마이크로 및 나노 크기의 캔틸레버 ... 또한, 실리콘 기판 위에 표면 미세 가공을 적용하여 광에 대한 셔터와 미러 등을 구성한 일례로서 광통신을 위한 광의 전달과 경로 제공 등의 역할을 한다.이와 함께 AFM(Atomic

  리포트 | 5페이지 | 1,000원 | 등록일 2007.01.08

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  [전자현미경]AFM

  목 차AFM 개념 AFM 원리 Instrument AFM 측정모드 AFM 이미지 AFM 장ㆍ단점AFM 개념Atomic Force Microscope의 약자로서, 원자 지름의 수 십분의

  리포트 | 9페이지 | 1,500원 | 등록일 2005.05.25

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